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MX61Aは半導体検査のために開発された電動顕微鏡システムです。電動機能と専用ソフトウェアによりオペレータは最適な観察条件で目的の検査位置に容易に到達することが出来ます。明視野から蛍光観察まで多様な観察法にも対応して幅広い検査をサポートします。
常にベストな観察像を提供する光学系
高い欠陥出力能力
新しい光学系(UIS2)の採用により、特に明視野、暗視野の性能が向上し、欠陥検出能力を高めました。明視野像は色温度の最適化によりヌケが良くニュートラルな色再現を実現、暗視野像は約4倍(当社従来機比)と大幅に明るさが向上しています。
> UIS2対物レンズの詳細はこちら
最適な明るさに自動調光
明るさ絞り(AS)調整イメージ 対物レンズ選択と観察法切換に連動して、自動的に明るさ絞りを調整します。観察のスピードアップと疲労軽減が図れます。
幅広いデバイスに対応するリアルタイムAF
深紫外線観察用対物レンズ MX61Aでは、合焦精度、合焦速度に優れたアクティブAFを搭載しています。新開発のマルチスポット方式センサの採用により、合焦時の安定性を大幅に向上させました。可視、深紫外の落射観察で、観察位置移動に追従したリアルタイムのフォーカシングを実現します。
多彩な観察法に対応
対物レンズUIS2シリーズ 深紫外から可視、近赤外まで、高性能を発揮するUIS2対物レンズシリーズと各種観察ユニットの組合せにより、明視野、暗視野、微分干渉、蛍光、近赤外、深紫外観察まで1台の顕微鏡で対応します。 観察法の切換えは、明視野、暗視野、オプションミラーユニットの3ポジションから選択するだけのかんたんな操作です。 > UIS2対物レンズの詳細はこちら
ソリューションを提供する拡張性
電動ステージ・デジタルカメラの統合制御
人にも環境にも優しい自動化を実現
SEMI S2/S8に適合
SEMI(Semiconductor Equipment and Materials
International)S2-0706(安全性に関するガイドライン)、S8-0705(人間工学に関するガイドライン)およびCEマーキング(欧州指令)などの国際規格に対応しています。エルゴノミー対応、安全対策など高いレベルで信頼性を確保します。
選べるティルティング鏡筒
ティルティング鏡筒イメージ 楽な姿勢で観察ができるティルティング鏡筒を2種類用意しました。双眼部の傾斜角度を水平0°から42°の広い範囲で変えられるMX-SWETTR、目視とカメラ画像の同時観察も可能なU-SWETTR-5から、用途に合わせてお選びいただけます。
クリーン対応の電動レボルバ
クリーン対応の電動レボルバ 耐久性に優れたクリーンタイプの電動レボルバを2タイプ用意しました。 6穴と5穴心出しタイプの明暗視野電動レボルバには新モータを採用し、高速で静かな倍率変換を実現しています。
高耐震性フレーム
高倍率観察画像イメージ 振動の影響を受けにくい高剛性フレームを採用しました。高倍率の観察でも像ブレがありません。
タッチタイピングで操作できるハンドスイッチ
ハンドスイッチ 対物レンズや観察法の選択など検査に伴う操作がタッチタイピングでおこなえるハンドスイッチを用意しました。観察法を選ぶだけで登録された条件を基に最適な観察像が得られます。オートフォーカスの追従(TRACE)とワンショット(ONE
SHOT)の切換え、フォーカスの微調整、DICリターデーション調整、光量調整、サンプル交換時のステージ退避もおこなえます。
さまざまな観察を実現するアクセサリ
電動ステージ組合せ
電動ステージ 300mm/200mmウエハ対応の高精度電動ステージを用意しました。PC制御による高度な検査・不良解析を実現します。
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