.jpg?rev=92C9)
.jpg?rev=92C9)
- Domovská stránka
- Řešení pro měření a kontrolu 5G zařízení
- Rychlá analýza vad
Rychlá analýza vad
Analýza polovodičových waferů používaných ve vysokofrekvenčních zařízeníchSloučeninové polovodiče mohou zpracovávat informace vysokou rychlostí a pod vysokým napětím, takže jsou ideální pro aplikace 5G. Jedná o klíčové součásti elektronických zařízení, a proto je velice důležité kontrolovat, zda nejsou poškozeny.
Výzvy při měření polovodičových waferůVady na waferech se obvykle kontrolují pomocí metalurgického mikroskopu. Častým problémem je ztráta vady ze zorného pole při přechodu na objektiv s větším zvětšením, který je zapotřebí pro podrobnější pohled. | Flexibilní zobrazování pro rychlé měření waferůDigitální mikroskop DSX1000 vám umožňuje přepínat pozorování – například diferenciální kontrast rušení – pouhým stisknutím tlačítka. Optický zoom mikroskopu navíc umožňuje bezproblémové zobrazení od makroskopického až po mikroskopický pohled, díky čemuž neztratíte ze zřetele žádné vady.
Pozorování defektu waferu pomocí technologie DIC:
|
Pozorování reziduí rezistentního materiálu v polovodičových materiálechV procesu vytváření elektrických obvodů leptáním hrají důležitou roli fotorezistentní
Výzvy v oblasti kontroly prováděné pomocí optického mikroskopuAvšak dokonce i při použití optického mikroskopu může dojít k přehlédnutí rezidua rezistentního materiálu. Pro toto použití je důležité vybrat mikroskop vybavený vhodnými funkcemi. | Snadná detekce reziduí rezistentního materiáluVzpřímený metalurgický mikroskop BX53M podporuje fluorescenční pozorování a nabízí snadné řešení pro detekci reziduí rezistentního organického materiálu na základě jejich charakteristik vyzařování světla. Na základě rozdílu emisních charakteristik můžete rozlišit rezidua rezistentního materiálu od jiné kontaminace.
|
Pozorování stavu zformování optických komunikačních vlnovodůVýrobci musí validovat stav zformování optických vlnovodů tvořících komponenty používané pro optickou komunikaci. Protože vlastní optický vlnovod je obklopen sklem, není možné provádět pozorování v episkopickém osvětlení (odraženém světle). Pro tuto oblast použití je zcela zásadní procházející osvětlení.
Výzvy kontroly prováděné pomocí digitálního nebo měřicího mikroskopuJe sice možné provádět pozorování optických vlnovodů s použitím mikroskopu, který měří prošlé světlo, nebo klasického digitálního mikroskopu, pozorovaný obraz je však v takovém případě rozmazaný nebo nezřetelný. | Zřetelné pozorování stavu zformováníVysoká optická výkonnost a funkce pozorování s diferenciálním interferenčním kontrastem vzpřímeného metalurgického mikroskopu BX53M ve spojení s digitální kamerou DP74 určenou pro mikroskop umožňují zřetelné pozorování stavu zformování optického vlnovodu a pořizování snímků s vysokým rozlišením.
|
Potřebujete pomoc? |