Výjimečná kvalita snímků pro náročné inspekční činnosti

Vyšší přesnost i viditelnost

Digitální mikroskopová kamera DP75 pořizuje ostré inspekční snímky z kontroly s nízkou úrovní šumu.

VylepšenáRozšířená technologie víceosé korekce barev zajišťuje mimořádnounadstandardní věrnost barevného podání umožňující záznam obrazu v živých barvách a nezbytnou reprodukovatelnost RGB barev pro tištěné materiály, barevné filtry LCD či jiná použití.

Snímek potištěného papíru

Snímky ve vysokém rozlišení při nízkém zvětšení

Funkce posunu pixelů dává kameře schopnost záznamu snímků ve vysokém rozlišení až 8192 × 6000 i při nízkých násobcích zvětšení, budete tak moci obohatit své inspekční protokoly o novou úroveň vizuálních detailů.

Bez posunu pixelů (vlevo) a s posunem pixelů (vpravo)

Rychlé hledání defektů

Vzhled vzorku se může lišit v závislosti na kvalitě materiálu, stavu povrchu nebo použitém způsobu osvětlení. Pro zvýšení věrnosti zobrazení vzorku používá kamera funkci živého vysocekého dynamického rozsahu (HDR), která kombinuje informace z několika snímků pořízených s odlišnou expozicí, čímž potlačuje vliv kolísání jasu na povrchu vzorku. Funkce živého HDR zobrazení poskytuje vysoce věrné snímky, na kterých jsou zřetelně vidět nejen jednotlivé povrchové struktury vzorku, ale i defekty, které byly dosud téměř neviditelné. Zároveň snižuje odlesky a tím zvyšuje komfort pozorování.

Použití HDR k odstranění halace
(Vzorek: deska plošných spojů (PCB))

Zvýraznění struktury povrchu pomocí HDR
(Vzorek: deska plošných spojů (PCB))

Snadný přechod mezi fluorescenčním a infračerveným zobrazením bez nutnosti střídat kamery

Kamera DP75, která byla navržena s cílem vynikat v širokém spektru procesů, je vybavena řadou užitečných funkcí, včetně vysoce citlivého CMOS snímače s chlazením a přepínatelným filtrováním infračerveného světla (IR). Mezi přednosti patří:

• Pokrývá široký rozsah vlnových délek: kamera DP75 podporuje vlnové délky počínaje viditelným světlem až po 1000 nm, což umožňuje zachytit mimořádně kvalitní snímky během pozorování metodami světlého pole, tmavého pole, MIX (světlé + tmavé pole), polarizace, DIC, fluorescence a NIR* (blízkého infračerveného světla).
• Čisté fluorescenční snímky s minimální úrovní šumu: pořizujte vysoce kvalitní snímky i v případě slabé fluorescence, což je při procesech jako vyhodnocování zbytkových fotorezistů užitečné.

_{* Vyžaduje mikroskopový systém s podporou pozorování v blízkém infračerveném světle}

MIX snímek (fluorescence + tmavéhoemné pole) zbytkového fotorezistu na polovodičovém waferu

Polarizovanýační pozorovaný obraz snímek části minerálu

Snímek z pozorování pružné desky ve světlém poli.

Snímek z pozorování pružné desky v blízkém infračerveném světle.