Kontaktujte nás
Kontaktujte nás
Produkty
▾
Defektoskopy
▾
Defektoskopy
▾
Přenosné ultrazvukové defektoskopy
Přístroje Phased Array
Produkty pro zkoušky vířivými proudy
Produkty s technologií využívající soustavu snímačů vířivých proudů
BondTesting
Ruční měření tloušťky materiálu
▾
72DL PLUS
39DL PLUS
45MG
Magna-Mike 8600
27MG
35RDC
Převodníky a příslušenství
Sondy a převodníky
▾
Ultrazvukové převodníky Panametrics
Sondy vířivých proudů
Sondy pro kontrolu trubek
R/D Tech sondy pro apl. fázového pole
Sondy BondMaster
Integrované inspekční systémy
▾
Systém kontroly kol
Wheelset Inspection System (PASAWIS)
Řešení kontroly tyčí
Systémy kontroly trubek
Systém kontroly svaru na principu třecího svařování s promíšením
Kontrola potrubních obvodových svarů
NDT Systems Instrumentation
▾
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
QuickScan iX ECA
QuickScan iX PA+
Průmyslové skenery
▾
Kontrolní skenery svarů
Skenery pro kontrolu koroze
Skenery pro kontrolu v letectví
Příslušenství ke skenerům
Evident Connect
▾
X3 RCS
Inspection Project Manager (IPM)
Software
▾
Software WeldSight™
Software TomoView
Software NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
OmniPC 4 Software
ScanPlan Software
AeroView™ Software
Průmyslové spektrometry
▾
Ruční XRF analyzátory
▾
Vanta Max a Vanta Core
Vanta Element
Kompaktní a přenosné XRF analyzátory
▾
Vanta™ GX
Inline XRF analyzátory
OEM řešení
▾
X-STREAM
Aplikace a řešení – přehled
Evident Connect
▾
Vanta Data Viewer
Mikroskopy
▾
Konfokální laserové mikroskopy
▾
OLS5100
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
表面粗さ測定ポータル
Digitální mikroskopy
▾
Digitální mikroskopy
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
Měřicí mikroskopy
▾
STM7
STM7-BSW
Inspektor čistoty
▾
CIX100
Světelné mikroskopy
▾
Vzpřímené mikroskopy
Inverzní mikroskopy
Modulární mikroskopy
Polovodičové mikroskopy a inspekční mikroskopy s plochým panelovým displejem
▾
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
AR mikroskopy
▾
SZX-AR1
Stereo mikroskopy
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Digitální fotoaparáty
▾
DP75
DP28
SC180
DP23
LC35
DP23M
Software obrazové analýzy
▾
PRECiV
Stream Enterprise
Micro Spectrophotometer
▾
USPM-RU-W
Objektivové čočky mikroskopů pro průmysl
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
White Light Interferometry Objective
Micrometer
OEM komponenty mikroskopů pro integraci
Mikroskopy – často kladné otázky
Řešení na míru
Řešení na míru
Průmyslové endoskopy
▾
Průmyslové videoskopy
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite a IPLEX G Lite-W
IPLEX TX II
Videoskopy IPLEX s dlouhými sondami
Video boroskopy pro kontrolu větrných turbín
Letecké boroskopy pro kontrolu letadel
Video Borescopes for Automotive Engine Inspection
Fibroskopy
▾
Fibroskopy - malé průměry
Digitální nástroj pro otáčení turbíny Sweeney
Software pro video boroskop
▾
InHelp
Software pro 3D modelování 3DAssist
Zdroje světla
Evident Connect
▾
ViSOL
Průmyslové odvětví
Zdroje informací
Školení
Blog
Podpora
▾
Kontaktujte nás
Consultation Reception about Introduction
Zákaznický servis
XRF and XRD Technical Support
Service Solutions
▾
Overview
Servisní centra
Finanční řešení na míru
Olympus Scientific Cloud
Stažení softwaru
User Manuals
Certifikace ISO
MSDS datové listy
Compliance and Ethics at Evident
Důležitá upozornění
Product Service Termination List
Starší produkty
▾
MultiScan MS5800 pro kontrolu potrubí
▾
Software MultiView
Softwarová aplikace TubePro
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
EVIDENT Modern Slavery Act Statement
APAC Technology Center
▾
Overview
Automated Multi-Element XRF Analysis
▾
Overview
Microscope Inspection System
▾
Overview
Bolt Inspection Scanner
▾
Overview
Simplified Data Transfer and Management
▾
Overview
Rentals
Shop
Careers
What is EVIDENT?
Hledat
My Account
IMS Log in
App Marketplace
Connected Devices
My Apps
My Data
My Organization
Evident Connect Log in
Evident Connect Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Průmyslová řešení
Careers
Careers
Navštivte náš web
Navštivte náš web
Hlavní stránka
/
Mapa webu
Produkty
Defektoskopy
Defektoskopy
Přenosné ultrazvukové defektoskopy
EPOCH 6LT
Overview
Software Features
Specifications
Applications
Resources
EPOCH 650
Sondy a převodníky
EPOCH 6LS
Overview
Specifications
Přístroje Phased Array
OmniScan X4
Overview
Applications
Onboard Software
OmniPC 6
Specifications
Resources
OmniScan X3 a OmniScan X3 64
Pokročilá analýza
OmniScan SX
FOCUS PX / PC / SDK
Produkty pro zkoušky vířivými proudy
NORTEC 600
Rotační skenery pro kontrolu otvorů
Přehled
Applications
Specifikace
Resources
Sondy pro kontrolu trubek
Sondy s indukční cívkou pro detekci vířivých proudů
Detachable Eddy Current Probes
Eddy Current Titanium Probes
Eddy Current High-resolution Probes
Vířivoproudé flexibilní kuličkové (bullet) sondy
Eddy Current CARTER Super Magnetic Bias Probe
Eddy Current Airgun Probes
Sonda pro trubky detekující vířivé proudy v režimu array
Sondy detekující vzdálené pole
Near Field Probes
Sondy detekující magnetické rozptylové toky
Sondy IRIS
Probe Selection Guide
MultiScan MS5800 for Tube Inspection
Produkty s technologií využívající soustavu snímačů vířivých proudů
OmniScan MX ECA/ECT
Sondy vířivých proudů
Sondy pro pravoúhlé povrchy
Povrchové sondy s rovným dříkem
Povrchové sondy se zahnutým dčíkem
Povrchové sondy s ohebným dříkem
Bent Shaft Surface Probes
Povrchové tužkové sondy
Všechny ostatní povrchové sondy
Rotating Plastic Scanner Probes
Sondy pro rotační skenery z nerezové oceli
Sondy pro jiné skenery
Sondy pro otvory pro šrouby s ručním ovládáním
Bodové sondy
Kruhové/prstencové sondy
Posuvné (kluzné) sondy
Vodivostní sondy a etalony
Sondy pro svary
Kabely a adaptéry
Etalony
Informace k výběru sondy vířivých proudů
Typy sond a jejich použití
BondTesting
BondMaster 600
Sondy BondMaster
Mechanical Impedance Analysis (MIA) Probes
Resonance Probes
BondMaster Probe Kits
35RDC
Ruční měření tloušťky materiálu
72DL PLUS
39DL PLUS
45MG
Magna-Mike 8600
27MG
35RDC
Převodníky a příslušenství
Sondy a převodníky
Ultrazvukové převodníky Panametrics
Úhlový svazek
Atlas dle evropských norem
Snímače a klíny AWS
Klíny CDS
Kontakt
Zpoždění
Duální sonda
Řada DC
EMAT
Vysoká frekvence
Vysokofrekvenční standoff sondy
Imerze
Speciální snímače pro imerzi
Příslušenství pro imerzi
Integrální úhlový svazek
Příčná vlna s kolmým dopadem
Chráněná čelní strana
RTD
Speciální oblasti použití
Bodový svar
Standardní snímače s úhlovým svazkem
TOFD
Kalibrační bloky
Kabely pro sondy
Vazební prostředek a adaptéry
Sondy vířivých proudů
Sondy pro kontrolu trubek
R/D Tech sondy pro apl. fázového pole
EdgeFORM
Typy svaru
Dual Matrix sondy pro mapování koroze
Technické údaje
Zdroje informací
Dual array sondy pro kontrolu koroze
Flexibilní sonda Phased Array
Ruční kontaktní sondy
Sondy s malou stopou
Univerzální sondy
Sondy pro měření v blízkosti stěny
Sondy s hlubokým průnikem
Imerzní sondy
Zakřivené sondy typu array
Imerzní rohové klíny pro zakřivené sondy typu array
Sondy s integrovaným klínem splňující požadavky platné legislativy
Předsádky
Sonda HTHA
Klín RexoFORM
Sondy BondMaster
Integrované inspekční systémy
Systém kontroly kol
Wheelset Inspection System (PASAWIS)
Řešení kontroly tyčí
Systém kontroly tyčí (BIS) – Technologie Phased Array
Systém kontroly tyčí (BIS) – soustava snímačů vířivých proudů
Specifikace
Rotační systém pro kontrolu hutních polotovarů (RBIS)
FOX-IQ
Systém kontroly ingotů s pravoúhlým průřezem (square billet inspection system, SBIS)
Systémy kontroly trubek
Rotační systém pro kontrolu trubek (PRS)
Kontrola trubek In-Line ERW
Systém in-line kontroly trubek svařovaných ERW za vysoké teploty
Kontrola trubek Off-Line ERW
FOX-IQ
PipeWIZARD
Systém kontroly trubek LSAW
Tube End Inspection System (TEIS)
Overview
Software and Acquisition Unit
Specification
Resources
Systém kontroly svaru na principu třecího svařování s promíšením
Kontrola potrubních obvodových svarů
PipeWIZARD iX
Oblasti použití
Charakteristiky
Technické parametry
NDT Systems Instrumentation
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
QuickScan iX ECA
Přehled
Technické údaje
Aplikace
QuickScan iX PA+
Přehled
Technické údaje
Aplikace
Průmyslové skenery
Kontrolní skenery svarů
AxSEAM
SteerROVER
WeldROVER
HST-Lite
Mini-Wheel
COBRA
HSMT-Compact
HSMT-Flex
HST-X04
VersaMOUSE
Lankový kodér
Přehled
Zdroje
ChainSCANNER
Skenery pro kontrolu koroze
FlexoFORM
Overview
Scanning Options
Resources
SteerROVER
MapSCANNER
MapROVER
Skener HydroFORM
ChainSCANNER
GLIDER
VersaMOUSE
Mini-kolečko
Skenery pro kontrolu v letectví
RollerFORM
Mini-kolečko
GLIDER
VersaMOUSE
Příslušenství ke skenerům
Vodní čerpadlo CFU
Dálkový generátor impulzů/předzesilovač TRPP 5810
Vazební prostředek na bázi elastomeru
Interbox
Evident Connect
X3 RCS
Inspection Project Manager (IPM)
Software
Software WeldSight™
Software TomoView
TomoVIEWER Software - zdarma
Software NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
OmniPC 4 Software
ScanPlan Software
Overview
AeroView™ Software
Overview
Computer and Software Requirements
Ordering Information
Průmyslové spektrometry
Ruční XRF analyzátory
Vanta Max a Vanta Core
Vanta Element
Kompaktní a přenosné XRF analyzátory
Vanta™ GX
Inline XRF analyzátory
OEM řešení
X-STREAM
Aplikace a řešení – přehled
Evident Connect
Vanta Data Viewer
Mikroskopy
Konfokální laserové mikroskopy
OLS5100
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
表面粗さ測定ポータル
Digitální mikroskopy
Digitální mikroskopy
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
Měřicí mikroskopy
STM7
STM7-BSW
Inspektor čistoty
CIX100
Světelné mikroskopy
Vzpřímené mikroskopy
BX53M
Oblasti použití
BX53-P
Inverzní mikroskopy
Inverzní mikroskopická řešení
GX53
Modulární mikroskopy
BXFM
BXFM-S
Řada BXC
Přehled
Technické parametry
Zdroje
Polovodičové mikroskopy a inspekční mikroskopy s plochým panelovým displejem
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
AR mikroskopy
SZX-AR1
Stereo mikroskopy
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Digitální fotoaparáty
DP75
DP28
SC180
DP23
LC35
DP23M
Software obrazové analýzy
PRECiV
Stream Enterprise
Micro Spectrophotometer
USPM-RU-W
Objektivové čočky mikroskopů pro průmysl
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
White Light Interferometry Objective
Micrometer
OEM komponenty mikroskopů pro integraci
Mikroskopy – často kladné otázky
Řešení na míru
Řešení na míru
Průmyslové endoskopy
Průmyslové videoskopy
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite a IPLEX G Lite-W
IPLEX TX II
Videoskopy IPLEX s dlouhými sondami
Video boroskopy pro kontrolu větrných turbín
Letecké boroskopy pro kontrolu letadel
Video Borescopes for Automotive Engine Inspection
Fibroskopy
Fibroskopy - malé průměry
Digitální nástroj pro otáčení turbíny Sweeney
Software pro video boroskop
InHelp
Software pro 3D modelování 3DAssist
Zdroje světla
Evident Connect
ViSOL
Průmyslové odvětví
Zdroje informací
Školení
Blog
Podpora
Kontaktujte nás
Consultation Reception about Introduction
Zákaznický servis
XRF and XRD Technical Support
Service Solutions
Overview
Servisní centra
Finanční řešení na míru
Olympus Scientific Cloud
Stažení softwaru
User Manuals
Certifikace ISO
MSDS datové listy
Compliance and Ethics at Evident
Důležitá upozornění
Product Service Termination List
Starší produkty
MultiScan MS5800 pro kontrolu potrubí
Software MultiView
Softwarová aplikace TubePro
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
EVIDENT Modern Slavery Act Statement
APAC Technology Center
Overview
Automated Multi-Element XRF Analysis
Overview
Microscope Inspection System
Overview
Bolt Inspection Scanner
Overview
Simplified Data Transfer and Management
Overview
Rentals
Shop
Careers
Landing Pages
20th WCNDT World Conference
ANI Drip Campaign: Lead paint - Hazardous Substance Survey
ANI Drip Campaign: Lead paint - Hazardous Substance Survey 2
ANI Drip Campaign: PMI Test
ANI Drip Campaign: PMI Test 2
ANI Drip Campaign: Salt damage screening survey
ANI Drip Campaign: Salt damage screening survey 2
ASNT Fall Conference
ASNT Fall Conference 2020
ASNT Fall Conference 2021
ASNT Fall Conference 2022
Analizoare chimice XRF portabile
Analytická řešení vhodná pro kontrolu obsahu kovů při výrobě baterií
Analytická řešení vhodná pro recyklaci a opětovné zpracování baterií
Asijsko-tichomořské technologické centrum
Automatická víceprvková XRF analýza
Automotive Solutions
Aviation Solutions
BX53M for Automotive
BX53M for Electronic
Control 2020 Voucher
Covid Response
DSX Microscopes for Automotive
DSX Mircoscopes for Electronics
DSX1000
Dicing
Die Bonding
Děkujeme, že jste si vybrali společnost TRUMPF pro vaše potřeby v oblasti laserů!
EP50 digital camera for industrial microscopes
EVIDENT Same Day Shipping
Ergonomická řešení
Evident Around the World
Evident LINKS
FABTECH 2019
Fast Failure Analysis
Guaranteed Dimension Measurement Accuracy
IC Design
IPLEX GX/GT for Inspection Services
IPLEX GX/GT for Manufacturing Inspection
IPLEX GX/GT for Turbines Inspection
IPLEX NX
IPLEX-NX
ISO/IEC 17025認定校正ソリューション
ISRI 2021 Raffle Form
InspectTech NDT Podcast
K-Show
Know Your Materials
LEXT OLS5000
Laser Marking
MRAI International Indian Material Recycling Conference 2022
Microscope Solutions for Semiconductor Manufacturing
Mikroskopová řešení pro materiálografii Úvodní slovo k důležitosti kovových materiálů
Mikroskopová řešení pro výrobu zdravotnických prostředků
Mining Convention 2019
Montáž elektronických součástek na povrch
Nanášení pájecí pasty na desku plošných spojů
Navštivte naše inovační laboratoře průmyslové mikroskopie
OLS5000 for Automotive
OLS5100
Olympus @ MRO Europe
Packaging
Photolithography
Podzimní konference ASNT 2023
Power Generation Turbines
Precise, Non-Contact Surface Roughness Measurement
Proces montáže
Proces výroby elektrod
QC China 2024
Request Olympus NDT Training and Support
Sady pro vizuální kontrolu vhodné pro provádění údržby v závodech na výrobu polovodičů
Slicing and Polishing
Soluções em microscopia de medição e inspeção para desenvolvimento e fabricação de veículos elétricos
Step into Our Microscope Studio for a One-on-One Virtual Demo
Technologie TruAI
Vanta Element
Visual Inspection Solution for Casting Inspection
Visual Inspection Solution for Oil and Gas Processing Facility Maintenance
Visual Inspection Solutions for Nuclear Power Generation: Plant Maintenance
Vrtání otvorů
Vytváření vnitřní vrstvy
Využití mikroskopů při výrobě lithium-iontových baterií
Výroba jaderné energie: Údržba elektrárny – Kondenzátor
Výroba jaderné energie: Údržba elektrárny – Parní generátor
Výroba jaderné energie: Údržba elektrárny – Potrubí
Výroba jaderné energie: Údržba elektrárny – Reaktorová nádoba
Výroba jaderné energie: Údržba elektrárny – Turbína
Výroba substrátu
Wind Power Solutions
Wind Turbine Inspection Kit
Wire Bonding
Zpracování vnější vrstvy
analytica virtual 2020
productronica 2019 Voucher
vanta build your analyzer
vanta virtual demo
Řešení pro Výroba PCB
Řešení pro analýzu distribuce částic
Řešení pro analýzu fází
Řešení pro analýzu litiny
Řešení pro analýzu nekovových vměstků
Řešení pro analýzu vzdálenosti větví dendritů
Řešení pro měření tloušťky vrstvy/nátěru
Řešení pro referenční porovnávání
Řešení pro určení velikosti zrn
Řešení pro vizuální kontrolu pro oblast obrany a bezpečnosti
Řešení pro vizuální kontrolu pro údržbu datových center
Řešení pro vizuální kontrolu ve farmaceutickém, potravinářském a nápojářském průmyslu
Řešení pro vizuální kontrolu vhodná pro údržbu průmyslových výrobních závodů
Řešení s využitím mikroskopu pro Výroba akumulátorů s tuhým elektrolytem
Řešení s využitím mikroskopu pro Výroba motorů
Řešení s využitím mikroskopu pro Výroba převodů a ložisek
Řešení s využitím mikroskopu pro Výroba řídicích jednotek výkonu
Řešení vizuální kontroly
Řešení vizuální kontroly pro Vrtulníky a malá letadla
ハンドヘルド蛍光X線分析計 学術研究における用途事例をご紹介!
不確かさとは | 不確かさの定義
不確かさとは | 不確かさの表記方法
不確かさとは | 不確かさ算出の要点
即納在庫あり! 年度末おすすめ商品&キャンペーンのご案内
品質マネジメントシステムの要求事項 | IATF 16949:2016
品質マネジメントシステムの要求事項 | ISO 13485:2016
品質マネジメントシステムの要求事項 | ISO 9001:2015
学術研究用途における分析の事例:その他
学術研究用途における分析の事例:文化財・考古学
学術研究用途における分析の事例:環境リサイクル・材料
導入前のサンプル検証や取得データの解析でお困りの方へ | 導入前後のご相談受付中 |
工場設備の『安全・事故防止』に貢献!最新の非破壊検査事例-第1回
工場設備の『安全・事故防止』に貢献!最新の非破壊検査事例-第2回
測定とは | 国際単位系SI
測定とは | 測定の定義
計量トレーサビリティと校正 | 国際相互認証の仕組み
計量トレーサビリティと校正 | 校正
計量トレーサビリティと校正 | 校正証明書
計量トレーサビリティと校正 | 計量トレーサビリティ
誤差評価 | σ(シグマ)表記
誤差評価 | 誤差評価の概念
誤差評価 | 誤差評価の関連用語
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Kontaktujte nás
Zaregistrovat se pro odběr Newsletterů
Hlavní stránka
/
Mapa webu
Tisk
Search
Cancel
Redirecting
You are being redirected to our local site.
Pozor: Povolte JavaScript
Sorry, this page is not available in your country