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Erkennung von Fehlern in wärmebehandelten Teilen aus Aluminiumlegierungen / Verschiedene Mikroskopietechniken mit digitalen Mikroskopen


Anwendung

Die Wärmebehandlung bestimmter Metalle kann zur Bildung anormaler Kristalle, sogenannter Dendriten, führen. Wenn beispielsweise ein Rohblock durch eine Matrize gezogen wird, um einen Stab mit einem bestimmten Durchmesser herzustellen, können sich die Wärmebehandlungsbedingungen ändern, was zu unterschiedlicher Rekristallisation in der Mitte und am Randbereich des Stabes führt. Dadurch bleibt die Korngröße der Kristalle in der Mitte groß und erstarrt in diesem Zustand. Diese Dendriten können während der Oberflächenbehandlung (einem der letzten Schritte der Fertigung) zu Fehlern im Erscheinungsbild oder bei konzentrierter Belastung zu Ermüdungsrissen führen.

Die Lösung von Olympus

Die digitalen DSX1000 Mikroskope von Olympus verfügen standardmäßig über eine EFI-Funktion (Extended Focal Image). Mithilfe dieser dieser Funktion lassen sich beim Feinfokussierung viele Bilder auf verschiedenen Z-Ebenen zu einem einzigen, kombinierten Bild zusammensetzen, das vollständig scharf ist. Außerdem erleichtert EFI das Fokussieren auf jeden beliebigen Bereich, selbst bei einer Probe, bei der eine Fokussierung auf die gesamte Oberfläche aufgrund feiner, durch Ätzen verursachter Oberflächenunregelmäßigkeiten nicht möglich ist. Darüber hinaus erleichtert der hohe Dynamikumfang (HDR) des Mikroskops die Optimierung des Kontrasts, was die Messung von Partikelprofilen vereinfacht. Dank dieser Funktionen kann ein Prüfer das Vorhandensein und die Größe von Dendriten in Teilen aus Aluminiumlegierungen bewerten. Das DSX1000 verfügt über die meisten Funktionen, die für eine effiziente Prüfung von Metallstrukturen erforderlich sind, sodass der Prüfer immer das beste mit unterschiedlichen Techniken erzeugte Bild auswählen kann.

Auswirkung auf das Erscheinungsbild
Aluminiumlegierung

 

Mängelfreie Metallstruktur-Kristallisation: Differenzielle Interferenzmikroskopie

non-defective_dic objective lens 5x
Objektiv 5x

non-defective_dic objective lens 10x
Objektiv 10x

non-defective_dic objective lens 20x
Objektiv 20x

Dendriten (anormale Kristallisation): Differenzielle Interferenzmikroskopie

dendrite_dic objective lens 5x
Objektiv 5x

dendrite_dic objective lens 10x
Objektiv 10x

dendrite_dic objective lens 20x
Objektiv 20x

Olympus IMS

Verwendete Produkte

Bessere Bilder und Ergebnisse. Die digitalen Mikroskope der Serie DSX1000 ermöglichen schnellere Fehleranalysen mit Genauigkeit und Wiederholbarkeit.

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