Vielseitige Betrachtung – von Makro zu Mikro
Dank des großen Vergrößerungsbereichs des Mikroskops von 20X bis 7000X lassen sich bei geringer Vergrößerung Übersichtsbeobachtungen auf hohem Niveau durchführen und für detaillierte Analysen kann nahtlos bis in den Mikrometerbereich heruntergezoomt werden.
Die Schärfentiefe und der große Arbeitsabstand geben die notwendige Flexibilität, größere Proben zu untersuchen, während Proben mit dem Freiwinkel-Betrachtungssystem aus vielen Richtungen betrachtet werden können.
Starke Vergrößerung
Probe
Halbleiterwafer |
Bild mit hoher Auflösung
Probe
Halbleiterwafer |
Große Schärfentiefe
Probe
Zahnrad |
Schwenkmechanismus
Probe
Leiterplatte |
Mehrere Mikroskopieverfahren mit einem einzigen Klick
Das DSX1000 Mikroskop bietet höchste Flexibilität bei der Bildgebung, um den Arbeitsablauf bei einer Prüfung schneller und einfacher zu gestalten. Die Beleuchtung kann ganz einfach mit einem Drehschalter geändert werden. Per Knopfdruck wird zwischen den sechs verschiedenen Mikroskopieverfahren umgeschaltet.
Verschiedene Mikroskopieverfahren
Instant 3D-Bild
Zuverlässige Ergebnisse mit garantierter* Genauigkeit und Präzision
Das telezentrische optische System des Mikroskops ermöglicht sehr präzise Messungen, und die garantierte Genauigkeit und Präzision geben Prüfern die Gewissheit, dass ihre Ergebnisse stimmen.
* Um die XY-Genauigkeit zu garantieren, ist eine Kalibrierung erforderlich, die von einem Servicetechniker von Olympus durchgeführt werden muss.