OmniScan X3 Phased-Array-Prüfgerät mit TFM-Funktion
Unverkennbare Zuverlässigkeit
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Verbesserte Phased-Array-Technik
Innovationen für mehr Effizienz
- Doppelt so schnelle Impulsfolgefrequenz (IFF) wie die des OmniScan MX2 Prüfgeräts
- Ein Menü für Laufzeitbeugung (TOFD) beschleunigt den Arbeitsablauf
- Verbesserte schnelle Phased-Array-Kalibrierung beseitigt zeitaufwendige Einstellungen
- 800 % hoher Amplitudenbereich verringert erneutes Prüfen
- Integrierte Unterstützung für Dual Linear Array und Dual Matrix Array Sensoren beschleunigt Konfigurationen
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Kompatibel mit bereits existierenden Dateien und Konfigurationen
- Kompatibel mit bereits existierenden Sensoren und Scannern
- Kompatibel mit MX2/SX Prüfdatendateien zum Vergleich von neuen Daten mit alten Daten und zur Überwachung von Veränderungen im Laufe der Zeit
- Kompatibel mit MX/MX2/SX Konfigurationen zur Erleichterung der Verfahrenskonformität
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Zuverlässige und einfache Bedienung
Innovative TFM-Funktion
Erhalten Sie TFM-Bilder mit aussagekräftigen Details unter Verwendung der optimierten TFM-Bildverarbeitung in Echtzeit Bestätigung des abgedeckten Prüfbereichs im Vornhinein Bis zu vier gleichzeitige TFM-Modi erleichtern die Interpretation und Größenbestimmung von Fehlern Mehr über das OmniScan X3 Prüfgerät | |
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