Untersuchung von Stufen im Nanometerbereich und Messung von Höhenunterschieden im Submikrometerbereich. |
Messung der Linien- und Flächenrauheiten. |
Keine Probenvorbereitung erforderlich – einfach die Probe auf dem Tisch platzieren und messen. |
Herkömmliche Messgeräte | Laser-Mikroskop | |
Lichtmikroskop, Digitalmikroskop | ||
•Messung kleiner Strukturen ist nicht möglich •Geringe laterale Auflösung •Messergebnisse sind nicht rückverfolgbar | •3D-Präzisionsmessung •0,12 μm laterale Auflösung • Rückverfolgbare Messergebnisse | |
Tastschnittgerät zur Messung der Oberflächenrauheit | ||
•Kann die Oberfläche der Probe beschädigen • Informationen nur von einer Linie •Schwierig, die Tastspitze an eine Zielposition zu setzen | • Berührungsfreie Messung, keine Beschädigung der Probe • Erfassen der Informationen einer vollständigen Ebene •Punktgenaue Messung | |
•Weißlichtinterferometer | ||
• Probleme bei der Messung steiler Flanken • Geringe laterale Auflösung macht die Positionierung schwierig • Korrektur für ungünstige Neigung | • Genaue Messung rauer Oberflächen durch Erfassung großer Steigungen •0,12 μm laterale Auflösung • Platzieren Sie einfach Ihre Probe auf der Stage und starten Sie die Messung | |
Rasterelektronenmikroskop (REM) | ||
• Keine Farbinformation • Proben müssen vorab zerstört und vorbereitet werden • 3D-Messung ist nicht möglich | • Hochauflösende Farbmikroskopie • Zerstörungsfrei, keine Vorbereitung der Probe erforderlich • Präzise 3D-Messung |