Der Scan-Algorithmus des Mikroskops ermöglicht eine verbesserte Datenqualität und eine höhere Geschwindigkeit, um die Scanzeit zu verkürzen und Ihren Workflow zu rationalisieren, was zu einer höheren Produktivität führt. |
VLSI-Höhenstandard mit 80 nm Höhe (MPLFLN10XLEXT) | Das OLS5000 Mikroskop arbeitet mit einem PEAK-Algorithmus für die 3D-Datenkonstruktion. Dieser Algorithmus liefert hochgenaue Daten bei geringer und starker Vergrößerung und verkürzt die Datenerfassungszeit. |
Bei der Messung von Stufenformen an einem Objekt mit fast senkrechten Ebenen, z. B. einem Elektronikbauteil oder MEMS, kann die Datenerfassungszeit verkürzt werden, wenn
das Scannen unnötiger Bereiche in Z-Richtung übersprungen wird.
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Die Informationen auf dieser Seite, einschließlich der Genauigkeitsgarantie, basieren auf den von Olympus festgelegten Bedingungen.