Überblick

Moderne Mikroskopie leicht gemacht Mit ihrem modularen Konzept bietet die BX3M Serie Vielseitigkeit für ein breites Spektrum von Anwendungen in Industrie und Materialforschung. Dank der verbesserten Integration in die PRECiV Software ermöglichen BX53M Mikroskope reibungslose Arbeitsabläufe bei mikroskopischen Standardanwendungen und digitaler Bildgebung von der Untersuchung bis zur Berichterstellung. BX53M Produktvideo ansehen

Moderne Mikroskopie leicht gemacht

Mit ihrem modularen Konzept bietet die BX3M Serie Vielseitigkeit für ein breites Spektrum von Anwendungen in Industrie und Materialforschung. Dank der verbesserten Integration in die PRECiV Software ermöglichen BX53M Mikroskope reibungslose Arbeitsabläufe bei mikroskopischen Standardanwendungen und digitaler Bildgebung von der Untersuchung bis zur Berichterstellung.

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	Wählen Sie das beste Modell: Die sechs für BX53M empfohlenen Konfigurationen bieten Ihnen eine flexible Auswahl der gewünschten Funktionen. Modelle für allgemeine Anwendungen: Basis, Standard, Erweitert Modelle für spezielle Anwendungen: Fluoreszenz, Infrarot, Polarisation Verschiedene Konfigurationen je nach Anforderungen des Anwenders Modularer Aufbau ermöglicht kundenspezifische Systeme Mehr anzeigen

Wählen Sie das beste Modell:

Die sechs für BX53M empfohlenen Konfigurationen bieten Ihnen eine flexible Auswahl der gewünschten Funktionen.

Modelle für allgemeine Anwendungen: Basis, Standard, Erweitert
Modelle für spezielle Anwendungen: Fluoreszenz, Infrarot, Polarisation
Verschiedene Konfigurationen je nach Anforderungen des Anwenders
Modularer Aufbau ermöglicht kundenspezifische Systeme

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Schnelle und einfache Bedienung Das BX53M vereinfacht komplexe Mikroskopieaufgaben durch seine durchdachten und benutzerfreundlichen Bedienelemente. Anwender können das Beste aus dem Mikroskop herausholen, ohne dass eine umfangreiche Schulung erforderlich ist. Die einfache und komfortable Bedienung des BX53M verbessert auch die Reproduzierbarkeit, da menschliche Fehler minimiert werden. Einfache Lichtquelle Intuitive Mikroskop-Bedienelemente Schnelle Fokuseinstellung Konsistente Beleuchtung Leichte und ergonomische Bedienung Einfache Wiederherstellung der Mikroskopeinstellungen Grundlegende Messfunktionen Mehr anzeigen

Schnelle und einfache Bedienung

Das BX53M vereinfacht komplexe Mikroskopieaufgaben durch seine durchdachten und benutzerfreundlichen Bedienelemente. Anwender können das Beste aus dem Mikroskop herausholen, ohne dass eine umfangreiche Schulung erforderlich ist. Die einfache und komfortable Bedienung des BX53M verbessert auch die Reproduzierbarkeit, da menschliche Fehler minimiert werden.

Einfache Lichtquelle
Intuitive Mikroskop-Bedienelemente
Schnelle Fokuseinstellung
Konsistente Beleuchtung
Leichte und ergonomische Bedienung
Einfache Wiederherstellung der Mikroskopeinstellungen
Grundlegende Messfunktionen

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	Funktional Das BX53M unterstützt die bekannten Verfahren der konventionellen Mikroskopie wie Hellfeld, Dunkelfeld, polarisiertes Licht und differentiellen Interferenzkontrast. Bei der Entwicklung neuer Materialien können viele der bei Standardverfahren auftretenden Schwierigkeiten bei der Erkennung von Defekten durch moderne Mikroskopieverfahren gelöst werden, welche genauere und zuverlässigere Prüfungen ermöglichen. Neue Beleuchtungstechniken und Optionen für die Bildaufnahme mit der PRECiV Bildanalyse-Software bieten dem Benutzer mehr Auswahlmöglichkeiten für die Auswertung seiner Proben und die Dokumentation der Ergebnisse. Scharfe Bilder des gesamten Objekts Mühelose Verstellung des Tischs für Übersichtsbild Darstellung sowohl dunkler als auch heller Bereiche Anpassbar an Mikroskopie- und Analysepräferenzen Ausgelegt für eine große Vielzahl an Proben Mehr anzeigen

Funktional

Das BX53M unterstützt die bekannten Verfahren der konventionellen Mikroskopie wie Hellfeld, Dunkelfeld, polarisiertes Licht und differentiellen Interferenzkontrast. Bei der Entwicklung neuer Materialien können viele der bei Standardverfahren auftretenden Schwierigkeiten bei der Erkennung von Defekten durch moderne Mikroskopieverfahren gelöst werden, welche genauere und zuverlässigere Prüfungen ermöglichen. Neue Beleuchtungstechniken und Optionen für die Bildaufnahme mit der PRECiV Bildanalyse-Software bieten dem Benutzer mehr Auswahlmöglichkeiten für die Auswertung seiner Proben und die Dokumentation der Ergebnisse.

Scharfe Bilder des gesamten Objekts
Mühelose Verstellung des Tischs für Übersichtsbild
Darstellung sowohl dunkler als auch heller Bereiche
Anpassbar an Mikroskopie- und Analysepräferenzen
Ausgelegt für eine große Vielzahl an Proben

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Zukunftsweisende Optik

Seit Jahrzehnten entwickeln wir hochwertige Optiken sowie Mikroskope mit bewährter optischer Qualität und hervorragender Messgenauigkeit.

Überragende optische Eigenschaften
Stabile Farbtemperatur und lichtstarke Weißlicht-LED-Beleuchtung
Unterstützung genauer Messungen
Nahtloses Stitching

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_{Wellenfront-Aberrationskorrektur}

_{„Schlechte“ Wellenfront}

„Gute Welle“ (Wellenfront-Aberrationskorrektur)

_{„Gute“ Wellenfront (Objektiv UIS2)}

Konfigurationen

Äußerst zuverlässiges modulares System

Die sechs für BX53M empfohlenen Konfigurationen erlauben eine flexible Auswahl der gewünschten Funktionen.

Allgemeine Anwendungen			Spezielle Anwendungen

Basismodell Einfache Konfiguration mit Grundfunktionen	Standard-Modell Einfache Verwendung mit vielseitigen Upgrades	Erweitertes Modell Unterstützung zahlreicher Zusatzfunktionen	Fluoreszenz-Modell Ideal geeignet für Fluoreszenzmikroskopie	Infrarot-Modell Für die Infrarot-Mikroskopie bei der Prüfung von integrierten Schaltkreisen	Polarisationsmodell Für die Beobachtung der Doppelbrechungseigenschaften
_{LCD-Farbfilter} ^{(Durchlicht/Hellfeld)}	_{Mikrogefüge mit ferritischen} ^Körnern ^{(Auflicht/Dunkelfeld)}	_{Kupferdraht einer Spule} ^{(Hellfeld + Dunkelfeld/MIX)}	_{Fotolackrückstand auf integriertem Schaltkreis} ^{(FL + Dunkelfeld/MIX)}	_{Siliziumlayer eines integrierten Schaltkreises} ^(IR)	_Asbest ^(POL)

Spezifikationstabelle anzeigen

	Basismodell	Standard-Modell	Erweitertes Modell	Fluoreszenz-Modell	Infrarot-Modell	Polarisationsmodell
Mikroskopstativ	Auflicht oder Auflicht/Durchlicht		Auflicht oder Auflicht/Durchlicht		Auflicht	Durchlicht
Standard	R-HF oder T-HF	R-HF oder T-HF oder DF	R-HF oder T-HF oder DF oder MIX	R-HF oder T-HF oder DF oder FL	R-HF oder IR	T-HF oder POL
Option	DIC	DIC/MIX	DIC	DIC/MIX	－	－
Einfache Lichtquelle	－			－	－	－
Legende zur Apertur	－				－
Codierte Hardware	－				－
Fokus-Skalenindex
Light Intensity Manager				－	－
Bedienung über Handschalter					－	－
MIX-Mikroskopie					－	－
Objektive	3 Objektive zur Auswahl, je nach Anwendung,		3 Objektive zur Auswahl, je nach Anwendung,		Objektive für IR	Objektive für POL
Tisch	5 Tische zur Auswahl, je nach Größe der Proben		5 Tische zur Auswahl, je nach Größe der Proben			Tisch für POL

MIKROSKOPIEVERFAHREN

R-HF: Hellfeld (Auflicht)
T-HF: Hellfeld (Auflicht/Durchlicht)
DF: Dunkelfeld
DIC: Differenzieller Interferenzkontrast/einfache Polarisation
MIX: MIX
FL: Fluoreszenz
IR: Infrarot
POL: Polarisation

_{*T-HF kann für ein Mikroskopstativ für Auflicht/Durchlicht verwendet werden.}

: Standard
: Option

Beispielkonfigurationen für die Materialwissenschaft

Das modulare Design ermöglicht verschiedene Konfigurationen, je nach den Anforderungen der Bediener.
Nachfolgend sind einige Konfigurationsbeispiele für die Materialwissenschaft beschrieben.

BX53M: Auflicht- und Auflicht-/Durchlichtkombination Die BX3M Serie bietet zwei verschiedene Mikroskopstative, eines nur für Auflichtmikroskopie und eines für Auflicht- und Durchlichtmikroskopie. Beide Stativtypen können mit manuellen, codierten oder motorgesteuerten Komponenten konfiguriert werden. Zum Schutz elektronischer Proben erfüllen die Stative ESD-Anforderungen.	_{Beispielkonfiguration BX53MRF-S}	_{Beispielkonfiguration BX53MTRF-S}

BX53M: Auflicht- und Auflicht-/Durchlichtkombination

Die BX3M Serie bietet zwei verschiedene Mikroskopstative, eines nur für Auflichtmikroskopie und eines für Auflicht- und Durchlichtmikroskopie. Beide Stativtypen können mit manuellen, codierten oder motorgesteuerten Komponenten konfiguriert werden. Zum Schutz elektronischer Proben erfüllen die Stative ESD-Anforderungen.

Beispielkonfiguration BX53MRF-S

_{Beispielkonfiguration BX53MRF-S}

Beispielkonfiguration BX53MTRF-S

_{Beispielkonfiguration BX53MTRF-S}

	BX53M: Kombination für die IR-Mikroskopie IR-Objektive können für Prüfungen, Messungen und Verarbeitung von Halbleitern eingesetzt werden, wenn eine Bildgebung durch Silizium hindurch erforderlich ist, um die Strukturen zu erkennen. Die Serie umfasst 5X- bis 100X-Infrarot(IR)-Objektive mit chromatischer Aberrationskorrektur vom sichtbaren Licht bis hin zum nahen Infrarotspektrum. Beim Arbeiten mit starker Vergrößerung können Aberrationen aufgrund der Dicke eines Objekts bei Objektiven der LCPLN-IR Serie durch Drehen des Korrekturringes korrigiert werden. Ein einziges Objektiv reicht aus, um immer ein klares Bild aufzunehmen. Für Einzelheiten zu den IR-Objektivlinsen hier klicken

BX53M: Kombination für die IR-Mikroskopie

IR-Objektive können für Prüfungen, Messungen und Verarbeitung von Halbleitern eingesetzt werden, wenn eine Bildgebung durch Silizium hindurch erforderlich ist, um die Strukturen zu erkennen. Die Serie umfasst 5X- bis 100X-Infrarot(IR)-Objektive mit chromatischer Aberrationskorrektur vom sichtbaren Licht bis hin zum nahen Infrarotspektrum. Beim Arbeiten mit starker Vergrößerung können Aberrationen aufgrund der Dicke eines Objekts bei Objektiven der LCPLN-IR Serie durch Drehen des Korrekturringes korrigiert werden. Ein einziges Objektiv reicht aus, um immer ein klares Bild aufzunehmen.

Für Einzelheiten zu den IR-Objektivlinsen hier klicken

BX53M: Kombination für die Polarisationsmikroskopie Die Optik der BX53M für die Polarisationsmikroskopie bietet Geologen das richtige Werkzeug für die Aufnahme kontrastreicher polarisationsmikroskopischer Bilder. Anwendungen, wie die Identifizierung von Mineralien, die Untersuchung der optischen Eigenschaften von Kristallen und die Betrachtung von Gesteinsdünnschliffen, profitieren von der Stabilität des Systems und der präzisen optischen Ausrichtung.	_{Orthoskopische Konfiguration: BX53-P}	_{Konoskopische/orthoskopische Konfiguration: BX53-P}

BX53M: Kombination für die Polarisationsmikroskopie

Die Optik der BX53M für die Polarisationsmikroskopie bietet Geologen das richtige Werkzeug für die Aufnahme kontrastreicher polarisationsmikroskopischer Bilder. Anwendungen, wie die Identifizierung von Mineralien, die Untersuchung der optischen Eigenschaften von Kristallen und die Betrachtung von Gesteinsdünnschliffen, profitieren von der Stabilität des Systems und der präzisen optischen Ausrichtung.

Orthoskopische Konfiguration: BX53-P

_{Orthoskopische Konfiguration: BX53-P}

Konoskopische/orthoskopische Konfiguration: BX53-P

_{Konoskopische/orthoskopische Konfiguration: BX53-P}

Bertrand-Linsen für konoskopische und orthoskopische Mikroskopie Mit dem Adapter U-CPA für konoskopische Betrachtung kann einfach und schnell zwischen orthoskopischer und konoskopischer Mikroskopie umgeschaltet werden. Eine Fokussierung auf klare Interferenzmuster in der hinteren Bildebene ist möglich. Die Bertrand-Feldblende ermöglicht ständig scharfe und klare konoskopische Bilder.

Bertrand-Linsen für konoskopische und orthoskopische Mikroskopie

Mit dem Adapter U-CPA für konoskopische Betrachtung kann einfach und schnell zwischen orthoskopischer und konoskopischer Mikroskopie umgeschaltet werden. Eine Fokussierung auf klare Interferenzmuster in der hinteren Bildebene ist möglich. Die Bertrand-Feldblende ermöglicht ständig scharfe und klare konoskopische Bilder.

	Umfassende Auswahl an Kompensatoren und Verzögerungsplatten Für die Messung der Doppelbrechung in Gestein und mineralischen Dünnschliffen stehen fünf verschiedene Kompensatoren zur Verfügung. Der Messbereich für den Gangunterschied reicht von 0 bis 20λ. Zur Erleichterung von Messungen und zum Erhalt hoher Bildkontraste können Berek- und Senarmont-Kompensatoren eingesetzt werden, die die Verzögerungsstufe im kompletten Sehfeld ändern.

Umfassende Auswahl an Kompensatoren und Verzögerungsplatten

Für die Messung der Doppelbrechung in Gestein und mineralischen Dünnschliffen stehen fünf verschiedene Kompensatoren zur Verfügung. Der Messbereich für den Gangunterschied reicht von 0 bis 20λ. Zur Erleichterung von Messungen und zum Erhalt hoher Bildkontraste können Berek- und Senarmont-Kompensatoren eingesetzt werden, die die Verzögerungsstufe im kompletten Sehfeld ändern.

Messbereich der Kompensatoren

Kompensator	Messbereich	Hauptanwendungsbereich
Thick Berek (U-CTB)	0 bis 11,000 nm (20λ)	Messung eines hohen Gangunterschieds (R^*>3λ) (Kristalle, Makromoleküle, Fasern usw.)
Berek (U-CBE)	0 bis 1,640 nm (3λ)	Messung des Gangunterschieds (Kristalle, Makromoleküle, lebende Organismen usw.)
Senarmont-Kompensator (U-CSE)	0 bis 546 nm (1λ)	Messung des Gangunterschieds (Kristalle, lebende Organismen usw.) Verstärkung des Bildkontrastes (lebende Organismen usw.)
Brace-Köhler-Kompensator 1/30λ (U-CBE2)	0 bis 20 nm (1/30λ)	Messung des Bildkontrastes (lebende Organismen usw.)
Quarzkeil (U-CWE2)	500 bis 2.200 nm (4λ)	Näherungsweise Messung des Gangunterschieds (Kristall, Makromoleküle usw.)

_{*R = Gangunterschied}
_{Für genauere Messungen sollten die Kompensatoren (außer U-CWE2) zusammen mit dem Interferenzfilter 45-IF546 verwendet werden.}

Spannungsfreie Optik

Dank unserer ausgereiften Konstruktion und der hochmodernen Fertigungstechnik ist die innere Spannung bei den UPLFLN-P Objektiven auf ein Minimum reduziert. Dies führt zu einem höheren EF-Wert und zu einem hervorragenden Bildkontrast.

Für Einzelheiten zu den UPLFLN-P Objektiven hier klicken

Für Einzelheiten zu den PLN-P/ACHN-P Objektiven hier klicken

	BXFM System Das BXFM kann an spezielle Anwendungen angepasst oder in andere Instrumente integriert werden. Dank des modularen Aufbaus und einer Vielzahl kleiner Speziallichtquellen und Befestigungsvorrichtungen lässt sich das Mikroskop unkompliziert an spezielle Umgebungen und Konfigurationen anpassen.

BXFM System

Das BXFM kann an spezielle Anwendungen angepasst oder in andere Instrumente integriert werden. Dank des modularen Aufbaus und einer Vielzahl kleiner Speziallichtquellen und Befestigungsvorrichtungen lässt sich das Mikroskop unkompliziert an spezielle Umgebungen und Konfigurationen anpassen.

Modularer Aufbau ermöglicht kundenspezifische Systeme

Mikroskopstative

Es stehen zwei verschiedene Mikroskopstative für die Auflichtmikroskopie zur Verfügung, eines davon eignet sich auch für die Durchlichtmikroskopie. Für größere Proben ist ein Adapter zum Anheben der Lichtquelle erhältlich.

		Auflicht	Durchlicht	Probenhöhe
1	BX53MRF-S	■	－	0 bis 65 mm
2	BX53MTRF-S	■	■	0 bis 35 mm
1, 3	BX53MRF-S + BX3M-ARMAD	■	－	40 bis 105 mm
2, 3	BX53MTRF-S + BX3M-ARMAD	■	■	40 bis 75 mm

Praktisches Zubehör für die Mikroskopie

－	HP-2	Handschalter
－	COVER-018	Staubschutzhaube

Mikroskopstative

Stative

Für Mikroskopieanwendungen, bei denen die Objekte nicht auf einen Tisch passen, können die Lichtquelle und die Optik an einem größeren Stativ oder einem anderen Gerät montiert werden.

BXFM + BX53M Konfiguration der Lichtquelle

1	BXFM-F	Stativhalterung zur Montage an Wand/32-mm-Säule
2	BX3M-ILH	Kondensorhalter
3	BXFM-ILHSPU	Gegendruckfeder für BXFM
5	SZ-STL	Großes Stativ

BXFM + U-KMAS Konfiguration der Lichtquelle

1	BXFM-F	Stativhalterung zur Montage an Wand/32-mm-Säule
4	BXFM-ILHS	U-KMAS Halter
5	SZ-STL	Großes Stativ

Stative

Tuben

Wählen Sie für die Mikroskopie mit Okularen oder mit einer Kamera Tuben entsprechend dem Bildtyp und der Haltung des Anwenders bei der Betrachtung aus.

		Sehfeldzahl	Typ	Winkel	Bild	Zahl der Dioptrin- einstellmechanismen
1	U-TR30-2	22	Trinokular	Fest	Umgekehrt	1
2	U-TR30IR	22	Binokular mit Kameratubus für IR	Fest	Umgekehrt	1
3	U-ETR-4	22	Trinokular	Fest	Aufrecht	－
4	U-TTR-2	22	Trinokular	Schwenkbar	Umgekehrt	－
5	U-SWTR-3	26,5	Trinokular	Fest	Umgekehrt	－
6	U-SWETTR-5	26,5	Trinokular	Schwenkbar	Aufrecht	－
7	U-TLU	22	Ein Anschluss	－	－	－
8	U-SWATLU	26,5	Ein Anschluss	－	－	－

Lichtquellen

Die Lichtquelle wirft entsprechend dem gewählten Mikroskopieverfahren Licht auf das Objekt. Software-Schnittstellen mit codierten Lichtquellen erkennen die Filterwürfelposition und identifizieren automatisch das Mikroskopieverfahren.

		Codierte Funktion	Lichtquelle	HF	DF	DIC	POL	IR	FL	MIX	Aperturblende/Leuchtfeldblende
1	BX3M-RLAS-S	Feste 3-Würfel-Position	LED - eingebaut	■	■	■	■	－	－	■	■
2	BX3M-URAS-S	Montierbar, 4-Würfel-Position	LED	■	■	■	■	－	－	■	■
			Halogen	■	■	■	■	■	－	■	■
			Quecksilber/Lichtleiter	■	■	■	■	－	■	■	■
3	BX3M-RLA-S		LED	■	■	■	■	－	－	■	■
3	BX3M-RLA-S		Halogen	■	■	■	■	■	－	■	■
4	BX3M-KMA-S		LED - eingebaut	■	－	■	■	－	－	■	－
5	BX3-ARM	Mechanischer Arm für Durchlicht
6	U-KMAS		LED	■	－	■	■	－	－	■	－
6	U-KMAS		Halogen	■	－	■	■	■	－	■	－

Lichtquellen

Lichtquellen und Netzteile für die Probenbeleuchtung – wählen Sie die geeignete Lichtquelle für die Beobachtungsmethode.

Standardkonfiguration für LED-Lichtquelle

1	BX3M-LEDR	LED-Lampenhaus für Auflicht
2	U-RCV	DF-Konverter für BX3M-URAS-S, ggf. für DF- und HF-Betrachtung erforderlich
3	BX3M-PSLED	Netzteil für LED-Lampenhaus, erfordert BXFM System
4	BX3M-LEDT	LED-Lampenhaus für Durchlicht

Beleuchtungskonfiguration für Fluoreszenzbeleuchtung

5	U-LLGAD	Lichtleiteradapter
2	U-RCV	DF-Konverter für BX3M-URAS-S, ggf. für DF- und HF-Betrachtung erforderlich
6	U-LLG150	Lichtleiter, Länge: 1,5 m
7	U-LGPS	Lichtquelle für Fluoreszenz
8, 9	U-LH100HG (HGAPO)	Quecksilber-Lampenhaus für Fluoreszenz
2	U-RCV	DF-Konverter für BX3M-URAS-S, ggf. für DF- und HF-Betrachtung erforderlich
10	U-RFL-T	Netzteil für 100 W Quecksilberlampe

Konfiguration für Halogen- und Halogen-IR-Beleuchtung

11	U-LH100IR	Halogen-Lampenhaus für IR
12	U-RMT	Verlängerungskabel für Halogen-Lampenhaus, Kabellänge 1,7 m (ggf. Kabelverlängerung erforderlich)
13, 14	TH4-100 (200)	100 V (200 V) Netzteil für 100 W/50 W Halogenlampe
15	TH4-HS	Handschalter zur Helligkeitsregulierung der Halogenlampe (Dimmer TH4-100 (200) ohne Handschalter)

Objektivrevolver

Aufnahme für Objektive und Schieber. Je nach der Anzahl und Typ der benötigten Objektive; auch mit/ohne Schieberadapter.

		Typ	Positionen	HF	DF	DIC	MIX	ESD	Anzahl Zentrierlöcher
1	U-P4RE	Manuell	4	■		■			4
2	U-5RE-2	Manuell	5	■
3	U-5RES-ESD	Codiert	5	■				■
4	U-D6RE	Manuell	6	■		■
5	U-D6RES	Codiert	6	■		■
6	U-D5BDREMC	Motorgesteuert	5	■	■	■	■
7	U-D6BDRE	Manuell	6	■	■	■	■
8	U-D5BDRES-ESD	Codiert	5	■	■	■	■	■
9	U-D6BDRES-S	Codiert	6	■	■	■	■	■
10	U-D6REMC	Motorgesteuert	6	■		■
11	U-D6BDREMC	Motorgesteuert	6	■	■	■	■	■
12	U-D5BDREMC-VA	Motorgesteuert	5	■	■

Schieber

Wählen Sie einen Schieber als Ergänzung zur klassisches Hellfeldmikroskopie. Der DIC-Schieber liefert topografische Informationen über das Objekt mit Optionen zur Maximierung des Kontrasts oder der Auflösung. Der MIX-Schieber erlaubt dank einer segmentierten LED-Lichtquelle im Dunkelfeld-Strahlengang eine flexible Beleuchtung.

DIC-Schieber

		Typ	Scherungsanteil	Verfügbare Objektive
1	U-DICR	Standard	Medium	MPLFLN^1, MPLFLN-BD^2, LMPLFLN, LMPLFLN-BD, MXPLFLN, MXPLFLN-BD, MPLAPON und LCPLFLN-LCD

*1 1,25X und 2,5X unterstützen keine DIC-Beobachtung.
*2 2,5X unterstützt keine DIC-Beobachtung.

MIX-Schieber

		Verfügbare Objektive
2	U-MIXR-2	MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD, MPLN-BD, MXPLFLN-BD

Kabel

U-MIXRCBL*

U-MIXR-Kabel, Kabellänge: 0,5 m

_{Nur *MIXR}

Steuergeräte und Handschalter

Steuergeräte für die Verbindung der Mikroskop-Hardware mit einem PC und Handschalter für die Hardware-Steuerung und -anzeige.

Konfiguration BX3M-CB (CBFM)

1	BX3M-CB	Steuergerät für BX53M
2	BX3M-CBFM	Steuergerät für BXFM
3	BX3M-HS	Steuerung der MIX-Betrachtung, Anzeige für codierte Hardware, programmierbarer Software-Funktionsknopf (PRECiV)
4	BX3M-HSRE	Drehung des motorgesteuerten Objektivrevolvers

Kabel

－

BX3M-RMCBL (ECBL)

Kabel für motorgesteuerten Objektivrevolver, Kabellänge: 0,2 m

Steuergeräte und Handschalter

Tische

Tische und Tischplatten zum Anbringen von Objekten. Auswahl je nach Form und der Größe der Objekte.

Tischkonfiguration 150 mm × 100 mm

1	U-SIC64	Tisch, 150 mm × 100 mm, mit flachem Trieb oben
2	U-SHG (T)	Griffring aus Silikongummi, zur leichteren Bedienung des Triebs (dicke Ausführung)
3	U-SP64	Tischplatte für U-SIC64
4	U-WHP64	Wafer-Platte für U-SIC64
5	BH2-WHR43	Wafer-Halter für 4-3 Zoll
6	BH2-WHR65	Wafer-Halter für 6-5 Zoll
7	U-SPG64	Glaseinlageplatte für U-SIC64

Tischkonfiguration 76 mm × 52 mm

12	U-SVR M	Tisch, 76 mm × 52 mm, mit rechtsseitigem Trieb
2	U-SHG (T)	Griffring aus Silikongummi, zur leichteren Bedienung des Triebs (dicke Ausführung)
13	U-MSSP	Tischplatte für U-SVR (/L) M
14, 15	U-HR (L) D-4	Halter für schmale Objektträger, rechts (links) öffnend
16, 17	U-HR (L) DT-4	Dicker Objektträgerhalter für die rechte (linke) Öffnung, um den Objektträger auf die Oberseite des Tischs zu drücken, wenn es schwierig ist, die Probe anzuheben.

Tischkonfiguration 100 mm × 100 mm

8	U-SIC4R 2	Tisch, 105 mm × 100 mm, mit rechtsseitigem Trieb
9	U-MSSP4	Tischplatte für U-SIC4R (L) 2
10	U-WHP2	Wafer-Platte für U-SIC4R (L) 2
5	BH2-WHR43	Wafer-Halter für 4-3 Zoll
11	U-MSSPG	Glaseinlageplatte für U-SIC4R

Sonstiges

18	U-SRG2	Drehtisch
19	U-SRP	Drehtisch für POL, Klickstopp bei 45° aus jeder Position
20	U-FMP	Mechanische Objektführung für U-SRP/U-SRG2

Kamera-Adapter

Kamera-Adapter für die Mikroskopie. Auswahl je nach dem erforderlichen Sehfeld und der Vergrößerung. Der tatsächliche Beobachtungsbereich kann mit folgender Formel berechnet werden: tatsächliches Sehfeld (Diagonale mm) = Sehfeld (Betrachtungsnummer) ÷ Objektivvergrößerung.

		Vergrößerung	Zentrierungseinstellung	CCD-Bildbereich (Sehfeldzahl) (mm)
		Vergrößerung	Zentrierungseinstellung	2/3 Zoll	1/1,8 Zoll	1/2 Zoll
1	U-TV1x-2 mit U-CMAD3	1	－	10,7	8,8	8
2	U-TV1xC	1	Ø 2 mm	10,7	8,8	8
3	U-TV0.63xC	0,63	－	17	14	12,7
4	U-TV0.5xC-3	0,5	－	21,4	17,6	16
5	U-TV0.35xC-2	0,35	－	－	－	22

Okulare

Okular für die direkte Betrachtung mit dem Mikroskop. Auswahl je nach dem erforderlichen Sehfeld und der Vergrößerung.

		Sehfeldzahl (mm)	Dioptrienkorrekturmechanismus	Eingebautes Fadenkreuz
1	WHN10x	22
2	WHN10x-H	22	■
3	CROSS WHN10x	22	■	■
4	SWH10x-H	26,5	■
5	CROSS SWH10x	26,5	■	■

Optische Filter

Optische Filter verändern die Wellenlänge oder die Farbtemperatur des auf die Probe gestrahlten Lichts. Auswahl des geeigneten Filters, je nach den jeweiligen Mikroskopieanforderungen.

HF, DF, FL

1, 2	U-25ND25,6	Neutralgraufilter, Transmission 25 %, 6 %
3	U-25LBD	Tageslichtfilter
4	U-25LBA	Halogenfilter
5	U-25IF550	Grünfilter
6	U-25L42	UV-Sperrfilter
7	U-25Y48	Gelbfilter
8	U-25FR	Mattfilter (für BX3M-URA erforderlich)

POL, DIC

9	U-AN-2	Feststehender Analysator
10	U-AN360-3	Drehbarer Analysator
11	U-AN360P-2	Drehbarer Analysator, hohe Qualität
12	U-PO3	Feststehender Analysator
13	45-IF546	Grünfilter, Ø 45 mm, für POL

IR

14	U-AN360IR	Der IR-Analysator ist drehbar (verringert bei Verwendung mit U-AN360IR und U-POIR die Lichthofbildung bei der IR-Mikroskopie).
15	U-POIR	Fester IR-Polarisationsfilter
16	U-BP1100IR	Bandpassfilter: 1100 nm
17	U-BP1200IR	Bandpassfilter: 1200 nm

Durchlicht

18	43IF550-W45	Grünfilter ø45 mm
19	U-POT	Polarisationsfilter

Sonstiges

20

U-25

Leerer Filter, für Filter des Anwenders mit Ø 25 mm

_{*AN und PO sind bei Verwendung von BX3M-RLAS-S und U-FDICR nicht erforderlich.}

Kondensoren

Kondensoren sammeln und bündeln das Licht. Sie werden für die Durchlichtmikroskopie verwendet.

1	U-AC2	Abbé-Kondensor (erhältlich für Objektive mit einer Vergrößerung ab 5X)
2	U-SC3	Klappkondensor (für Objektive mit einer Vergrößerung ab 1,25X)
3	U-LWCD	Kondensor mit großem Arbeitsabstand für Glaseinlageplatte (U-MSSPG, U-SPG64)
4	U-POC-2	Klappkondensor für POL

Filtermodule

Filtermodul für BX3M-URAS-S. Die Auswahl des Moduls erfolgt entsprechend den jeweiligen Mikroskopieanforderungen.

1	U-FBF	Für HF, abnehmbarer ND-Filter
2	U-FDF	Für DF
3	U-FDICR	Für POL, gekreuzte Position der Nicol-Prismen ist fixiert.
4	U-FBFL	Für HF, eingebauter ND-Filter (sowohl für HF* als auch FL erforderlich)
5	U-FWUS	Für Ultraviolett-FL: BP330-385 BA420 DM400
6	U-FWBS	Für blaue FL: BP460-490 BA520IF DM500
7	U-FWGS	Für grüne FL: BP510-550 BA590 DM570
8	U-FF	Leere Spiegeleinheit

_{* Nur für koaxiale episkopische Beleuchtungen}

Zwischentuben

Unterschiedliche Arten von Zubehör für verschiedene Zwecke. Zur Verwendung zwischen Tubus und Lichtquelle.

1	U-CA	Vergrößerungswechsler (1X, 1,25X, 1,6X, 2X)
2	U-TRU	Zwischentubus für Binokulartubus mit Kameratubus

UIS2 Objektive

Objektive vergrößern das Objekt. Die Wahl des Objektivs für die Anwendung erfolgt auf der Grundlage von Arbeitsabstand, Auflösung und Mikroskopieverfahren.

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Einfache Bedienung

Herkömmliche Verfahren einfach nutzen:
Einfache Lichtquelle

Die Lichtquelle minimiert komplizierte Arbeitsschritte, die in der Regel bei Arbeiten mit einem Mikroskop ausgeführt werden müssen. Mit dem Einstellrad an der Vorderseite der Beleuchtungsvorrichtung kann der Benutzer die Beobachtungsmethode einfach ändern. Der Anwender kann schnell zwischen den am häufigsten verwendeten Verfahren der Auflichtmikroskopie, von der Hellfeld- zur Dunkelfeld oder zur Polarisationsmikroskopie umschalten, um auf einfachste Weise unterschiedliche Arten der Analyse nutzen zu können. Zudem kann die einfache Polarisationsmikroskopie durch Drehen des Analysators angepasst werden.

Intuitive Mikroskopsteuerung: einfache Leuchtfeldblenden- und Aperturblendeneinstellungen

Intuitive Mikroskop-Bedienelemente:
Einfache Einstellungen der Leuchtfeldblende und Aperturblende

Die Verwendung der richtigen Einstellungen für Aperturstopp und Feldstopp sorgt für einen guten Bildkontrast und nutzt die numerische Apertur des Objektivs voll aus. Die Legende führt den Benutzer je nach Beobachtungsmethode und verwendetem Objektiv zur richtigen Einstellung.

Schnelle Fokuseinstellung

Der Fokus-Skalenindex am Stativ erleichtert das schnelle Scharfstellen. Bediener können den Fokus grob einstellen, ohne das Objekt durch ein Okular zu betrachten, und sparen so Zeit bei der Prüfung von Objekten mit unterschiedlicher Höhe.

Handschalter für motorgesteuerte Objektivrevolverdrehung

Leichte und ergonomische Bedienung

Ergonomie ist für alle Anwender von höchster Bedeutung. Egal ob eigenständige Mikroskope verwendet werden oder die PRECiV Bildanalysesoftware integriert ist, die Benutzer profitieren in jedem Fall von komfortablen Bedienelementen am Handgerät, die die Hardwareposition deutlich anzeigen. Die einfachen Handgeräte ermöglichen es dem Benutzer, sich auf die Probe und die durchführenden Inspektionen zu konzentrieren.

Für konsistente Beleuchtung:
Light Intensity Manager

Bei der Ersteinrichtung kann die Beleuchtungsstärke so angepasst werden, dass sie mit der jeweiligen Hardware-Konfiguration der codierten Lichtquelle und/oder des codierten Objektivrevolvers übereinstimmt.

Gleichbleibende Beleuchtung: Light Intensity Manager

Wiederherstellung der Mikroskopeinstellungen:
Codierte Hardware

Codierte Funktionen integrieren die Systemeinstellungen des BX53M Mikroskops in die PRECiV Bildanalyse-Software. Mikroskopieverfahren, Beleuchtungsstärke und Vergrößerung werden von der Software automatisch mit den zugehörigen Bildern aufgezeichnet. Dadurch kann der Anwender Prüfungen immer mit den gleichen Mikroskopieeinstellungen durchführen, was die Zuverlässigkeit der Prüfergebnisse verbessert.

Funktionen

Unsichtbares wird sichtbar:
MIX-Mikroskopie

Die MIX-Mikroskopietechnologie der Serie BX53M kombiniert die Methoden der herkömmlichen Beleuchtung und der Dunkelfeldbeleuchtung. Der LED-Ring des MIX-Schiebers sorgt für eine gerichtete Dunkelfeldbeleuchtung des Objekts. Dies hat einen ähnlichen Effekt wie das traditionelle Dunkelfeld, bietet aber die Möglichkeit, einen Quadranten der LEDs auszuwählen, um das Licht aus verschiedenen Winkeln zu lenken. Diese Kombination aus gerichtetem Dunkelfeld und Hellfeld, Fluoreszenz oder Polarisation wird als MIX-Beleuchtung bezeichnet und ist besonders hilfreich, um Defekte hervorzuheben und erhöhte Oberflächen von Vertiefungen zu unterscheiden.

Scharfe Bilder des gesamten Objekts: EFI

Die Funktion Extended Focus Imaging (EFI) der PRECiV Software erfasst Bilder von Proben, deren Höhe über die Schärfentiefe des Objektivs hinausgeht, und stapelt sie zu einem einzigen Bild, das voll im Fokus ist. EFI kann entweder mit einer manuellen oder einer motorgesteuerten Z-Achse ausgeführt werden und erstellt eine Höhenkarte zur einfachen Visualisierung der Struktur. Die Erstellung von EFI-Bildern ist auch dann möglich, wenn der PRECiV Desktop offline ist.

Darstellung sowohl dunkler als auch heller Bereiche: HDR

Durch moderne Bildverarbeitung gleicht die HDR-Funktion Helligkeitsunterschiede in Bildern aus, um Lichtreflexe zu reduzieren. HDR verbessert die Bildqualität digitaler Bilder und unterstützt die Erstellung professionell aussehender Berichte.

_{Klare Darstellung sowohl der dunklen wie auch der hellen Teile durch HDR (Probe: Kraftstoffeinspritzkolben)}

Kontrastverstärkung durch HDR (Probe: Schliffe von Magnesit)

_{Kontrastverstärkung durch HDR

(Probe: Magnesitschnitt)}

_{Bild einer Münze mit Instant MIA}

Panoramaaufnahmen durch einfaches Bewegen des Tisches: Instant MIA

Bilder können jetzt durch einfaches Bewegen des XY-Triebs eines manuell gesteuerten Tisches zusammengefügt werden. Ein motorgesteuerter Tisch ist nicht mehr erforderlich. PRECiV Software nutzt die Mustererkennung zur Erstellung von Panoramabildern, die dem Anwender ein größeres Sehfeld bieten als Einzelbilder.

Vielseitige Messfunktionen

Routine- oder Basismessungen

In PRECiV stehen verschiedene Messfunktionen zur Verfügung, so dass der Anwender leicht nützliche Daten aus den Bildern entnehmen kann. Für die Qualitätskontrolle und Prüfung werden oft Messfunktionen für die Bilder benötigt. Alle PRECiV Lizenzen bieten interaktive Messfunktionen wie Abstände, Winkel, Rechtecke, Kreise, Ellipsen und Polygone. Alle Messergebnisse werden zusammen mit den Bilddateien für die weitere Dokumentation gespeichert.

Zählen und Messen

Die Erkennung von Objekten und die Messung der Größenverteilung gehören zu den wichtigsten Anwendungen der digitalen Bildverarbeitung, PRECiV beinhaltet eine Erkennungs-Engine, die Schwellenmethoden einsetzt, um Objekte (z. B. Partikel, Kratzer) zuverlässig vom Hintergrund zu unterscheiden.

Lösungen für die Materialwissenschaften

PRECiV bietet eine intuitive, an Arbeitsabläufen orientierte Benutzeroberfläche für komplexe Bildanalysen. Auf Knopfdruck können komplexeste Bildanalyseaufgaben schnell, präzise und nach den gängigsten Industriestandards durchgeführt werden. Mit einer deutlichen Verkürzung der Bearbeitungszeit bei wiederkehrenden Aufgaben können sich die Werkstoffwissenschaftler auf die Analyse und Forschung konzentrieren. Die Software kann jederzeit problemlos durch modulare Erweiterungen für Einschlüsse und Korngrößenvergleiche ergänzt werden.

_{3D-Oberflächenansicht (Testprobe für Oberflächenrauheit)}

_{Einzelansicht und 3D-Profilmessung}

3D-Objektvermessung

Bei Einsatz eines externen motorgesteuerten Fokustriebs kann ein EFI-Bild schnell in 3D aufgenommen und angezeigt werden. Die erfassten Höhendaten können für 3D-Messungen am Profil oder in der Einzelbildansicht verwendet werden.

Erfahren Sie mehr über PRECiV

Darstellung von weiteren Probenarten und -größen

Der neue, 150 × 100 mm große Tisch bietet einen längeren Verfahrweg in X-Richtung als frühere Modelle. Zusammen mit der flachen Bauweise ist es dadurch problemlos möglich, große (oder mehrere) Objekte auf dem Tisch anzubringen. Die Tischplatte ist mit Gewindebohrungen zum Anbau einer Objekthalterung versehen. Der größere Tisch bedeutet mehr Flexibilität für den Bediener, da dieser mehr Objekte mit einem Mikroskop prüfen und so wertvollen Laborraum sparen kann. Das einstellbare Drehmoment des Tisches erleichtert die Feinpositionierung bei starker Vergrößerung und kleinem Sehfeld.

Flexibilität bei Objekthöhe und -gewicht

Mit der optionalen Moduleinheit können Proben bis zu 105 mm auf dem Tisch befestigt werden. Durch den verbesserten Fokussiermechanismus kann das Mikroskop ein Gesamtgewicht (Probe + Tisch) von bis zu 6 kg aufnehmen. Mit BX53M Mikroskopen können größere und schwerere Objekte geprüft werden, sodass weniger Mikroskope im Labor benötigt werden. Durch die dezentrierte Positionierung einer drehbaren Halterung für 6 Zoll Wafer kann der Anwender die gesamte Oberfläche des Wafers untersuchen, indem er einfach den Halter dreht, während er den Tisch über den 100-mm-Verfahrweg verschiebt. Die Drehmomenteinstellung des Tisches ist für einfache Bedienbarkeit optimiert, der komfortable Handgriff des Triebs erleichtert das Auffinden des gewünschten Objektbereichs.

_BX53MRF-S

_BXFM

Flexibilität bei der Objektgröße

Sind Objekte zu groß, um sie auf einem herkömmlichen Mikroskoptisch anzubringen, können die optischen Kernkomponenten für die Auflichtmikroskopie in einer modularen Konfiguration genutzt werden. Das BXFM kann als modulares System mithilfe einer Säule an einem größeren Stativ oder mithilfe einer Halterung an einem anderen Gerät montiert werden. Auf diese Weise können Bediener die herausragende Optik nutzen, auch wenn ihre Objekte ungewöhnliche Größen oder Formen haben.

Schutz elektronischer Geräte vor elektrostatischer Entladung: ESD-kompatibel

Das BX53M ist mit einer ESD-Ableitung ausgestattet, die elektronische Bauteile vor statischer Aufladung durch Mensch oder Umwelt schützt.

Bildqualität

Spitzenoptik mit Tradition

Mit hoher numerischer Apertur und großem Arbeitsabstand

Objektive bestimmen maßgeblich die Leistung eines Mikroskops.
Die MXPLFLN-Objektive erweitern die MPLFLN-Serie für die Bildgebung mit EPI-Beleuchtung, da sie gleichzeitig die numerische Apertur und den Arbeitsabstand maximieren. Höhere Auflösungen bei 20- und 50-facher Vergrößerung bedeuten in der Regel kürzere Arbeitsabstände, sodass die Probe oder das Objektiv beim Objektivwechsel zurückgefahren werden müssen. In vielen Fällen ist ein Arbeitsabstand von 3 mm der MXPLFLN-Serie die Lösung für dieses Problem: Die Untersuchungen können schneller durchgeführt werden und es besteht ein geringes Risiko, dass das Objektiv die Probe berührt.

Herkömmliches 50X-Objektiv: NA 0,8, Arbeitsabstand 1 mm / MXPLFLN50X: NA 0,8, Arbeitsabstand 3 mm

Tabelle

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Überragende optische Eigenschaften:
Wellenfront-Aberrationskorrektur

Die optischen Eigenschaften von Objektiven haben direkten Einfluss auf die Qualität von mikroskopischen Bildern und Analyseergebnissen. Unsere UIS2 Objektive mit starker Vergrößerung sollen Wellenfrontaberrationen auf ein Minimum reduzieren und besitzen zuverlässige optische Eigenschaften.

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_{„Schlechte“ Wellenfront}

_{„Gute“ Wellenfront (Objektiv UIS2)}

Halogen: Die Farbe variiert mit der Lichtintensität.

_{Halogenlampe: Die Farbe variiert mit der Lichtintensität.}

LED: Die Farbe bleibt bei unterschiedlichen Lichtintensitäten gleich und ist genauer definiert als bei Halogenbeleuchtung.

_{LED: Die Farbe bleibt bei unterschiedlichen Lichtintensitäten gleich und ist genauer definiert als bei Halogenlampe.}
^{* Alle Bilder mit Belichtungsautomatik aufgenommen}

Konsistente Farbtemperatur:
Lichtstarke Weißlicht-LEDs als Lichtquelle

Das BX53M Mikroskop arbeitet mit lichtstarken weißen LED-Lichtquellen sowohl für Auflicht als auch für Durchlicht. Die LED gewährleistet eine gleichbleibende Farbtemperatur, unabhängig von der Helligkeit. Langlebige LED sorgen für effiziente Beleuchtung und eignen sich ideal für Prüfungsanwendungen in der Materialforschung.

Mehr Leistung durch höchste Qualität

Unterstützung genauer Messungen:
Automatische Kalibrierung

Ähnlich wie bei digitalen Mikroskopen steht bei Verwendung von PRECiV eine automatische Kalibrierung zur Verfügung. Die automatische Kalibrierung schließt menschliche Einflüsse bei der Kalibrierung aus, was zu verlässlicheren Messungen führt. Bei der Autokalibrierung wird ein Algorithmus genutzt, der aus dem Durchschnitt mehrerer Messpunkte automatisch die korrekte Kalibrierung berechnet. Dies reduziert die bedienerabhängige Variabilität und sorgt für gleichbleibende Genauigkeit und höhere Zuverlässigkeit bei regelmäßigen Prüfungen.

Präzise Messung: Automatische Kalibrierung

Rechtes Bild: Gleichmäßige Beleuchtung im gesamten Sehfeld durch Helligkeitskorrektur

_{Halbleiter-Wafer (binarisiertes Bild):}
^{Die Helligkeitskorrektur führt zu gleichmäßiger Helligkeit im gesamten Sehfeld.}

Nahtloses Stitching:
Korrektur der Bildschattierung

Die PRECiV Software bietet eine Helligkeitskorrektur, um dunkle Bereiche in den Ecken von Bildern aufzuhellen. Zusammen mit Schwellenwerteinstellungen ermöglicht die Helligkeitskorrektur eine präzisere Analyse.

Erfahren Sie mehr über PRECiV

Anwendungen

Integrierter Schaltkreis auf einem Halbleiter-Wafer

Das Dunkelfeld wird zur Erkennung von sehr kleinen Kratzern oder Fehlern auf einer Probe oder zur Prüfung von Proben mit reflektierenden Oberflächen, wie Wafern, eingesetzt.

MIX-Beleuchtung macht es möglich, sowohl Muster als auch Farben darzustellen.

MIX (Hellfeld + Dunkelfeld)

_{MIX (Hellfeld + Dunkelfeld)}

Dunkelfeld

_Dunkelfeld

Fluoreszenz

_Fluoreszenz

MIX (Fluoreszenz + Dunkelfeld)

_{MIX (Fluoreszenz + Dunkelfeld)}

Fotolackrückstand auf einem Halbleiter-Wafer

Die Fluoreszenzmikroskopie wird für Objekte verwendet, die Licht emittieren, wenn sie mit Licht einer bestimmten Wellenlänge (erzeugt mit einem speziellen Filterwürfel) beleuchtet werden. Dies wird zur Erkennung von Verunreinigungen und Fotolackrückständen verwendet.

Die MIX-Beleuchtung ermöglicht die Betrachtung von Fotolackrückständen und IC-Strukturen.

LCD-Farbfilter

Diese Beobachtungstechnik eignet sich für transparente Proben wie LCDs, Kunststoffe und Glasmaterialien.

Die MIX-Beleuchtung ermöglicht die Darstellung sowohl des Farbfilters als auch der integrierten Schaltung.

Durchlicht

_Durchlicht

MIX (Durchlicht + Hellfeld)

_{MIX (Durchlicht + Hellfeld)}

Hellfeld

_Hellfeld

Differenzieller Interferenzkontrast (DIC)

_{Differenzieller Interferenzkontrast (DIC)}

Kugelgrafitgusseisen

DIC ist ein Mikroskopieverfahren, bei dem die Höhe einer Probe als Relief sichtbar ist, ähnlich einem 3D-Bild mit verbessertem Kontrast. Es eignet sich für Prüfungen von Proben mit geringen Höhenunterschieden, beispielsweise metallurgischer Strukturen und Mineralien.

Serizit

Die differenzielle Interferenzkontrastmikroskopie (DIC) ist eine Mikroskopiestechnik, bei der die Höhe eines Objekts, das normalerweise im Hellfeld nicht erkennbar ist, als Relief sichtbar wird, ähnlich einem 3D-Bild mit verstärktem Kontrast. Sie eignet sich hervorragend zur Prüfung von Objekten mit sehr geringen Höhenunterschieden, beispielsweise metallurgischen Gefügen und Mineralien.

Hellfeld

_Hellfeld

Polarisiertes Licht

_{Polarisiertes Licht}

Infrarot (IR)

_{Infrarot (IR)}

Lötflächen einer IC-Struktur

IR wird zur Erkennung von Defekten in IC-Chips und anderen Teilen aus Silizium auf Glas verwendet.

Spezifikationen

SPEZIFIKATIONEN FÜR BX53M MODELLE FÜR ALLGEMEINE ANWENDUNGEN

			Basismodell		Standard-Modell		Erweitertes Modell
Optisches System			Optisches System UIS2 (unendlich korrigiert)
Haupteinheit	Mikroskopstativ		BX53MRF-S (Auflicht)	BX53MTRF-S (Auflicht/Durchlicht)	BX53MRF-S (Auflicht)	BX53MTRF-S (Auflicht/Durchlicht)	BX53MRF-S (Auflicht)	BX53MTRF-S (Auflicht/Durchlicht)
	Scharfeinstellung		Hub: 25 mm Feintrieb: 100 µm je Umdrehung Kleinste Unterteilung: 1 μm Mit oberem Anschlag und Drehmomenteinstellung für Grobtrieb
	Max. Höhe des Objekts		Auflicht: 65 mm (ohne Distanzstück), 105 mm (mit BX3M-ARMAD) Auflicht/Durchlicht: 35 mm (ohne Distanzstück), 75 mm (mit BX3M-ARMAD)
	Beobachtungstubus	Großes Sehfeld (Sehfeldzahl 22)	U-TR30-2-2 Invers: trinokular
	Beleuchtung	Auflicht Durchlicht	BX3M-KMA-S Weißlicht-LED, HF/DF/DIC/POL/MIX Leuchtfeldblende, Aperturblende (mit Zentrierungsmechanismus), HF/DF-Verriegelung		BX3M-RLAS-S Codiert, Weißlicht-LED, HF/DF/DIC/POL/MIX Leuchtfeldblende, Aperturblende (mit Zentrierungsmechanismus), HF/DF-Verriegelung
			－	BX3M-LEDT Weißlicht-LED Abbé-Kondensoren/Kondensoren mit großem Arbeitsabstand	－	BX3M-LEDT Weißlicht-LED Abbé-Kondensoren/Kondensoren mit großem Arbeitsabstand	－	BX3M-LEDT Weißlicht-LED Abbé-Kondensoren/Kondensoren mit großem Arbeitsabstand
	Objektivrevolver		U-5RE-2 Für HF: Fünffach		U-D6BDRE Für HF/DF: Sechsfach			U-D6BDRES-S Für HF/DF: Sechsfach, codiert
	Okular (Sehfeldzahl 22)		WHN10 WHN10X-H
	MIX-Mikroskopie		－					BX3M-CB Steuereinheit BX3M-HS Handschalter U-MIXR-2 MIX-Schieber zur Auflichtmikroskopie U-MIXRCBL Kabel für MIXR
	Kondensor (großer Arbeitsabstand)		－	U-LWCD	－	U-LWCD	－	U-LWCD
	Stromkabel		UYCP (x1)					UYCP (x2)
	Gewicht		Auflicht: Ca. 15,8 kg (Mikroskopstativ 7,4 kg) Auflicht/Durchlicht: ca. 18,3 kg (Mikroskopstativ 7,6 kg)
Objektive	MPLFLN Satz		MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X HF/POL/FL-Beobachtung		－
	MPLFLN BD Satz		－		MPLFLN5XBD, 10XBD, 20XBD, 50XBD, 100XBD Beobachtung im HF/DF/DIC/POL/FL
	MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD Satz		－		MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Beobachtung im HF/DF/DIC/POL/FL
	MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD Satz		－		MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Beobachtung im HF/DF/DIC/POL/FL
Tisch (X × Y)	76 mm × 52 mm Satz		U-SVRM, U-MSSP Koaxialer Tisch mit rechtem Trieb: 76 (X) × 52 (Y) mm, mit Drehmomenteinstellung
	100 mm × 100 mm Satz		U-SIC4R2, U-MSSP4 Großer, koaxialer Tisch mit rechtsseitigem Trieb / 100 (X) × 100 (Y) mm, mit Verriegelungsmechanismus der Y-Achse
	100 mm × 100 (G) mm Satz		U-SIC4R2, U-MSSPG Großer, koaxialer Tisch mit rechtsseitigem Trieb / 100 (X) × 100 (Y) mm, mit Verriegelungsmechanismus der Y-Achse (Glaseinlageplatte)
	150 mm × 100 mm Satz		U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Großer, koaxialer Tisch mit rechtsseitigem Trieb / 150 (X) × 100 (Y) mm, mit Drehmomenteinstellung, mit Verriegelungsmechanismus der Y-Achse
	150 mm × 100 (G) mm Satz		U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Großer, koaxialer Tisch mit rechtsseitigem Trieb / 150 (X) × 100 (Y) mm, mit Drehmomenteinstellung, mit Verriegelungsmechanismus der Y-Achse (Glaseinlageplatte)
Option	MIX-Mikroskopiesatz*		BX3M-CB, BX3M-HS, U-MIXR-2, U-MIXRCBL				－
	DIC*		U-DICR
	Zwischentuben		U-CA, U-EPA2, U-TRU
	Filter		U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR
	Filter für Kondensor		43IF550-W45, U-POT
	Tischplatte		U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR65, U-WHP2
	Objekthalterung		U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4
	Griffgummi		U-SHG, U-SHGT

_{*Kann nicht mit U-5RE-2 verwendet werden.}

ESD für BX53M/BXFM

Elemente	Mikroskopstativ	BX53MRF-S, BX53MTRF-S
	Lichtquelle	BX3M-KMA-S, BX3M-RLA-S, BX3M-URAS-S, BX3M-RLAS-S
	Objektivrevolver	U-D6BDREMC, U-D6BDRES-S, U-D5BDREMC-ESD, U-5RES-ESD
	Tisch	U-SIC4R2, U-MSSP4

SPEZIFIKATIONEN FÜR BX53M MODELLE FÜR SPEZIELLE ANWENDUNGEN

				Fluoreszenz-Modell		Infrarot-Modell	Polarisationsmodell
Optisches System				Optisches System UIS2 (unendlich korrigiert)
Haupteinheit	Mikroskopstativ			BX53MRF-S (Auflicht)	BX53MTRF-S (Auflicht/Durchlicht)	BX53MRF-S (Auflicht)	BX53MTRF-S (Auflicht/Durchlicht)
	Scharfeinstellung			Hub: 25 mm Feintrieb: 100 µm je Umdrehung Kleinste Unterteilung: 1 μm Mit oberem Anschlag und Drehmomenteinstellung für Grobtrieb
	Max. Höhe des Objekts			Auflicht: 65 mm (ohne Distanzstück), 105 mm (mit BX3M-ARMAD) Auflicht/Durchlicht: 35 mm (ohne Distanzstück), 75 mm (mit BX3M-ARMAD)
	Beobachtungstubus	Großes Sehfeld (Sehfeldzahl 22)		U-TR30-2 Invers: trinokular		U-TR30IR Invers: Binokular mit Kameratubus für IR	U-TR30-2 Invers: trinokular
		Polarisations-Zwischenadapter (U-CPA)	Bertrand-Objektiv	－		－	Fokussierbar
			Bertrand-Leuchtfeldblende	－		－	Ø3,4 mm Durchmesser (fest)
			Einschieben oder Ausschwenken der Bertrand-Linse beim Wechsel zwischen orthoskopischer und konoskopischer Mikroskopie	－		－	Position des Schiebers ● ein Position des Schiebers ○ aus
			Analysatoreinschub	－		－	Drehbarer Analysator mit Einschub (U-AN360P-2)
	Beleuchtung	Auflicht	FL-Mikroskopie	BX3M-URAS-S Codiertes Universal-Auflicht, 4-Positionen-Modulrevolver, (Standard: U-FWUS, U-FWBS, U-FWGS, U-FBF usw.) mit FS, AS (mit Zentriermechanismus), mit Verschlussmechanismus		－	－
			IR-Mikroskopie	－		BX3M-RLA-S 100 W Halogenlampe für IR, HF/IR, AS (mit Zentriermechanismus) U-LH100IR (mit 12 V 10 W Halogenlampe) 100 W Halogenlichtquelle für IR TH4-100 100 W Netzteil TH4-HS Handschalter U-RMT Verlängerungskabel	－
		Durchlicht	POL-Mikroskopie	－		－	BX3M-LEDT Weißlicht-LED Abbé-Kondensoren/Kondensoren mit großem Arbeitsabstand
	Objektivrevolver			U-D6BDRES-S Für HF/DF: Sechsfach, codiert		U-5RE-2 Für Hellfeld : Fünffach	U-P4RE Vierfache, zentrierbare, aufsteckbare Komponenten 1/4 Wellenlängenverzögerungsplatte (U-TAD), Farbtonplatte (U-TP530) und verschiedene Kompensatoren können mit einem Plattenadapter (U-TAD) montiert werden.
	Okular (Sehfeldzahl 22)			WHN10X
				WHN10X-H			CROSS-WHN10X
	Filtermodule			U-FDF Für DF U-FBFL Für HF, integrierter ND-Filter U-FBF Für HF, abnehmbarer ND-Filter U-FWUS Für ultraviolette FL U-FWBS Für blaue FL U-FWGS Für grüne FL		－
	Filter / Polarisator / Analysator			U-25FR Mattfilter		U-BP1100IR/U-BP1200IR Bandpassfilter für IR	43IF550-W45 Grünfilter
				U-POIR Auflicht-Polarisationsschieber für IR		U-AN360IR Drehbarer Analysatorschieber für IR	U-AN360P-2 360° drehbar Mindestdrehwinkel 0,1°
	Kondensor			U-LWCD Großer Arbeitsabstand		－	U-POC-2 Spannungsfreier Achromat-Kondensor. Um 360° drehbarer Polarisator mit klappbarem Achromat als obere Linse. Klickstopp in Position „0°“ ist einstellbar. NA 0,9 (obere Linse ein) / NA 0,18 (obere Linse aus) Aperturblende: Öffnung einstellbar von 2 mm bis 21 mm Durchmesser
	Schieberegler / Kompensatoren			－			U-TAD Schieber (Adapter für Kompensatoren)
							U-TP530 Hilfspräparat U-TP137 Verzögerungsplatte für 1/4-Wellenlänge
	Stromkabel			UYCP (x1)		UYCP (x2)	UYCP (x1)
	Gewicht			Auflicht: Ca. 15,8 kg (Mikroskopstativ 7,4 kg)	Auflicht/Durchlicht: ca. 18,3 kg (Mikroskopstativ 7,6 kg)	Ca. 18,9 kg (Mikroskopstativ 7,4 kg)	Ca. 16,2 kg (Mikroskopstativ 7,6 kg)
Auflicht FL-Lichtquelle	Lichtleiter			U-LGPS, U-LLGAD, U-LLG150, Lichtleitersatz		－	－
	Quecksilberlampe			U-LH100HGAPO1-7, USH-103OL (x2), U-RFL-T, U-RCV, Quecksilberlampensatz		－	－
Objektive	MPLFLN Satz			MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X Beobachtung im HF/DIC/POL/FL		－	－
	MPLFLN BD Satz			MPLFLN5XBD, 10XBD, 20XBD, 50XBD, 100XBD Beobachtung im HF/DF/DIC/POL/FL		－	－
	MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD Satz			MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Beobachtung im HF/DF/DIC/POL/FL		－	－
	MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD Satz			MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Beobachtung im HF/DF/DIC/POL/FL		－	－
	IR Satz			－		LMPLN5XIR,10XIR,LCPLN20XIR,50XIR,100XIR IR-Mikroskopie	－
	POL Satz			－		－	UPLFLN4XP, 10XP, 20XP, 40XP POL-Mikroskopie
Tisch (X × Y)	76 mm × 52 mm Satz			U-SVRM, U-MSSP Koaxialer Tisch mit rechtem Trieb: 76 (X) × 52 (Y) mm, mit Drehmomenteinstellung
	100 mm × 100 mm Satz			U-SIC4R2, U-MSSP4 Großer, koaxialer Tisch mit rechtsseitigem Trieb / 100 (X) × 100 (Y) mm, mit Verriegelungsmechanismus der Y-Achse
	100 mm × 100 (G) mm Satz			U-SIC4R2, U-MSSPG Großer, koaxialer Tisch mit rechtsseitigem Trieb / 150 (X) × 100 (Y) mm, mit Verriegelungsmechanismus der Y-Achse (Glaseinlageplatte)
	150 mm × 100 mm Satz			U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Großer, koaxialer Tisch mit rechtsseitigem Trieb / 150 (X) × 100 (Y) mm, mit Drehmomenteinstellung, mit Verriegelungsmechanismus der Y-Achse
	150 mm × 100 (G) mm Satz			U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Großer, koaxialer Tisch mit rechtsseitigem Trieb / 150 (X) × 100 (Y) mm, mit Drehmomenteinstellung, mit Verriegelungsmechanismus der Y-Achse (Glaseinlageplatte)
	POL Satz			－			U-SRP+U-FMP Polarisations-Drehtisch + mechanische Objektführung
Option	MIX-Mikroskopiesatz*			BX3M-CB, BX3M-HS, U-MIXR-2, U-MIXRCBL
	DIC*			U-DICR
	Zwischentuben			U-CA, U-EPA2, U-TRU
	Filter			U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR
	Filter für Kondensor			43IF550-W45, U-POT
	Tischplatte			U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR65, U-WHP2
	Objekthalterung			U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4
	Griffgummi			U-SHG, U-SHGT