Unsichtbares wird sichtbar:
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 | Scharfe Bilder des gesamten Objekts: EFIDie Funktion Extended Focus Imaging (EFI) der PRECiV Software erfasst Bilder von Proben, deren Höhe über die Schärfentiefe des Objektivs hinausgeht, und stapelt sie zu einem einzigen Bild, das voll im Fokus ist. EFI kann entweder mit einer manuellen oder einer motorgesteuerten Z-Achse ausgeführt werden und erstellt eine Höhenkarte zur einfachen Visualisierung der Struktur. Die Erstellung von EFI-Bildern ist auch dann möglich, wenn der PRECiV Desktop offline ist. |
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Darstellung sowohl dunkler als auch heller Bereiche: HDRDurch moderne Bildverarbeitung gleicht die HDR-Funktion Helligkeitsunterschiede in Bildern aus, um Lichtreflexe zu reduzieren. HDR verbessert die Bildqualität digitaler Bilder und unterstützt die Erstellung professionell aussehender Berichte. |  Klare Darstellung sowohl der dunklen wie auch der hellen Teile durch HDR (Probe: Kraftstoffeinspritzkolben) |  Kontrastverstärkung durch HDR
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 Bild einer Münze mit Instant MIA | Panoramaaufnahmen durch einfaches Bewegen des Tisches: Instant MIABilder können jetzt durch einfaches Bewegen des XY-Triebs eines manuell gesteuerten Tisches zusammengefügt werden. Ein motorgesteuerter Tisch ist nicht mehr erforderlich. PRECiV Software nutzt die Mustererkennung zur Erstellung von Panoramabildern, die dem Anwender ein größeres Sehfeld bieten als Einzelbilder. |
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Vielseitige Messfunktionen |
Routine- oder BasismessungenIn PRECiV stehen verschiedene Messfunktionen zur Verfügung, so dass der Anwender leicht nützliche Daten aus den Bildern entnehmen kann. Für die Qualitätskontrolle und Prüfung werden oft Messfunktionen für die Bilder benötigt. Alle PRECiV Lizenzen bieten interaktive Messfunktionen wie Abstände, Winkel, Rechtecke, Kreise, Ellipsen und Polygone. Alle Messergebnisse werden zusammen mit den Bilddateien für die weitere Dokumentation gespeichert. |  |
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 | Zählen und MessenDie Erkennung von Objekten und die Messung der Größenverteilung gehören zu den wichtigsten Anwendungen der digitalen Bildverarbeitung, PRECiV beinhaltet eine Erkennungs-Engine, die Schwellenmethoden einsetzt, um Objekte (z. B. Partikel, Kratzer) zuverlässig vom Hintergrund zu unterscheiden. |
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Lösungen für die MaterialwissenschaftenPRECiV bietet eine intuitive, an Arbeitsabläufen orientierte Benutzeroberfläche für komplexe Bildanalysen. Auf Knopfdruck können komplexeste Bildanalyseaufgaben schnell, präzise und nach den gängigsten Industriestandards durchgeführt werden. Mit einer deutlichen Verkürzung der Bearbeitungszeit bei wiederkehrenden Aufgaben können sich die Werkstoffwissenschaftler auf die Analyse und Forschung konzentrieren. Die Software kann jederzeit problemlos durch modulare Erweiterungen für Einschlüsse und Korngrößenvergleiche ergänzt werden. |  |
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 3D-Oberflächenansicht (Testprobe für Oberflächenrauheit) |  Einzelansicht und 3D-Profilmessung | 3D-ObjektvermessungBei Einsatz eines externen motorgesteuerten Fokustriebs kann ein EFI-Bild schnell in 3D aufgenommen und angezeigt werden. Die erfassten Höhendaten können für 3D-Messungen am Profil oder in der Einzelbildansicht verwendet werden. |
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Erfahren Sie mehr über PRECiV |
Darstellung von weiteren Probenarten und -größenDer neue, 150 × 100 mm große Tisch bietet einen längeren Verfahrweg in X-Richtung als frühere Modelle. Zusammen mit der flachen Bauweise ist es dadurch problemlos möglich, große (oder mehrere) Objekte auf dem Tisch anzubringen. Die Tischplatte ist mit Gewindebohrungen zum Anbau einer Objekthalterung versehen. Der größere Tisch bedeutet mehr Flexibilität für den Bediener, da dieser mehr Objekte mit einem Mikroskop prüfen und so wertvollen Laborraum sparen kann. Das einstellbare Drehmoment des Tisches erleichtert die Feinpositionierung bei starker Vergrößerung und kleinem Sehfeld. |
Flexibilität bei Objekthöhe und -gewichtMit der optionalen Moduleinheit können Proben bis zu 105 mm auf dem Tisch befestigt werden. Durch den verbesserten Fokussiermechanismus kann das Mikroskop ein Gesamtgewicht (Probe + Tisch) von bis zu 6 kg aufnehmen. Mit BX53M Mikroskopen können größere und schwerere Objekte geprüft werden, sodass weniger Mikroskope im Labor benötigt werden. Durch die dezentrierte Positionierung einer drehbaren Halterung für 6 Zoll Wafer kann der Anwender die gesamte Oberfläche des Wafers untersuchen, indem er einfach den Halter dreht, während er den Tisch über den 100-mm-Verfahrweg verschiebt. Die Drehmomenteinstellung des Tisches ist für einfache Bedienbarkeit optimiert, der komfortable Handgriff des Triebs erleichtert das Auffinden des gewünschten Objektbereichs. |  BX53MRF-S |
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 BXFM | Flexibilität bei der ObjektgrößeSind Objekte zu groß, um sie auf einem herkömmlichen Mikroskoptisch anzubringen, können die optischen Kernkomponenten für die Auflichtmikroskopie in einer modularen Konfiguration genutzt werden. Das BXFM kann als modulares System mithilfe einer Säule an einem größeren Stativ oder mithilfe einer Halterung an einem anderen Gerät montiert werden. Auf diese Weise können Bediener die herausragende Optik nutzen, auch wenn ihre Objekte ungewöhnliche Größen oder Formen haben. |
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Schutz elektronischer Geräte vor elektrostatischer Entladung: ESD-kompatibelDas BX53M ist mit einer ESD-Ableitung ausgestattet, die elektronische Bauteile vor statischer Aufladung durch Mensch oder Umwelt schützt. |