El analizador DELTA de Olympus alberga un detector de deriva de silicio (SDD) de extrema resolución y un tubo de rayos X de 4W que permiten ofrecer análisis rápidos y precisos mediante la tecnología XRF portátil. El detector SDD proporciona tres mejoramientos importantes en comparación con los detectores de rayos X de diodo PiN de silicio: 1) la capacidad para detectar y procesar diez veces más rayos X en un período específico, 2) una mejor resolución de energía, y 3) una relación mejorada entre pico y eco de fondo. El resultado es una precisión mucho mejor y límites de detección más cortos en el caso de aplicaciones de minería y exploración. Rendimiento sin precedentes en menas de hierro y elementos de traza asociados:El grado de alimentación óptimo para los concentrados de mineral de hierro suele ser superior al 60 % en hierro (Fe) por peso, con menos del 0,20 % de fósforo (P), de 3 a 7 % de sílice, menos del 5 % de aluminio y baja concentración de azufre (S) y titanio (Ti). |  |
La inclusión de pequeñas cantidades de algunos oligoelementos puede tener efectos profundos, tanto buenos como malos, sobre el comportamiento del hierro en un horno de fundición. El analizador DELTA, junto con la tecnología SDD, ahora permite determinar todas las fases importantes del fierro. El contenido del hierro (Fe) puede ser distinguido de forma precisa y fiable en un amplio rango analítico (del 30 % al 80 % de hierro). El manganeso, titanio, aluminio, sílice, fósforo y azufre, más otros 25 elementos, pueden ser analizados de forma precisa.
Representación del hierro, manganeso, titanio, aluminio, sílice y fósforo en una mena de bandas de hierro típica, rica en hematita. Tiempo de ensayo de 90 segundos en AIR con un analizador DELTA SDD.
Análisis de elementos ligeros y preparación de muestras
En los análisis desarrollados con el analizador de fluorescencia de rayos X, los elementos ligeros (LE) son reconocidos normalmente con un número atómico (Z) inferior a 18 (argón), y suelen pertenecer al grupo de: Mg, Al, Si, P, S y Cl. Los análisis de depósitos de bauxita están dominados por esta serie de elementos ligeros (en particular aluminio [Al], silicio [Si] + calcio [Ca] y potasio [K]) y su estilo de mineralización, que se alberga en una matriz gruesa cristalina; por ende, se ven influenciados significativamente por la heterogeneidad de las muestras. Para contrarrestar este factor y alcanzar una calidad analítica (nivel de decisión) apropiada es necesario realizar una preparación de muestra. La muestra podría presentar un molido grueso o, de ser necesario, ser pulverizada a < 200 µm para, luego, ser colocada en los recipientes de muestra XRF que incluyen las cubiertas con películas de polipropileno (y no las de Mylar, que no pueden ser usadas para identificar elementos ligeros).
¿Por qué debe usar la tecnología portátil de fluorescencia de rayos X en campo?
La característica de «alta portabilidad» que integra nuestra última generación de analizadores XRF permite crear esencialmente una versión miniatura de un laboratorio en campo con pocas limitaciones. Olympus es transparente frente a estas limitaciones: (1) Límites de detección más extensos que los de las técnicas de laboratorio; (2) Precisión más baja que aquella proporcionada por las técnicas de laboratorio (valores ± superiores que, sin embargo, no comprometen la precisión por debajo de los límites de detección); (3) Menor repetibilidad de resultados.
La tecnología portátil XRF en campo no debe ser considerada una sustitución a los análisis de laboratorio. Asimismo, debe ser usada respetando los protocolos de informe de la industria y los estándares de laboratorio tal como se estipula en la normativa ASX (código JORC) y TSX (43-101). La principal ventaja de la tecnología portátil XRF reside en la capacidad para generar dinámicamente y en tiempo real grupos de datos geoquímicos, registrados espacialmente.
Ahora, los geólogos pueden asumir inmediatamente las características elementales de la litología y de los regolitos para adoptar decisiones fundadas durante la exploración en campo, en la ubicación exacta de la muestra de interés. Asimismo, es posible obtener enfoques instantáneos e interactivos para administrar los proyectos de exploración, como también un reconocimiento del objetivo y de los vectores asociados hacia la mineralización. Esto conduce a la reducción significativa de los intervalos de tiempo con reiteraciones menos complejas y lentas, como cuando se extraen las muestras y son enviadas al laboratorio pasando por los lapsos de tiempo y retrasos «comunes» relacionados. La tecnología portátil XRF en campo puede ser considerada como una herramienta para monitorizar previamente las muestras y enviarlas posteriormente al laboratorio con el fin de llevar a cabo análisis más exhaustivos y detallados.
Adicionalmente, la capacidad para refinar su programa de muestreo en campo en tiempo real representa un aumento fácil de la densidad y resolución de la muestra instantáneamente.
Este aumento de eficiencia en campo permite el avance de los intervalos de tiempo de los proyectos y asiste a las empresas respecto a una mejor utilización de su tiempo en campo y a una maximización de su presupuesto de exploración.
Límites de detección (LOD): La pregunta del millón
La determinación de los límites de detección (LOD) depende de varios aspectos que no están relacionados directamente con la selección del equipo analítico. Entre estas influencias se incluyen (factor influyente indicado entre paréntesis):
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«Dicho esto, la muestra es el factor que más influye en la definición de los límites de detección al usar el analizador de fluorescencia de rayos X»
