Almohadilla troquelada de marco de conexión
Inspección de la rugosidad en almohadillas troqueladas de marcos de conexión
Durante la fabricación de semiconductores, se coge un chip de circuito integrado (CI) fragmentado y se monta en la almohadilla troquelada de un marco de conexión. Antes de finalizar el montaje del chip de CI, se aplica un adhesivo (pasta para unión troquelada) a la almohadilla troquelada. Se utiliza una pasta de unión troquelada, conductora o no conductora, dependiendo de la aplicación de montaje. La pasta no conductora está formada por epoxi, poliimida u otros materiales de resina. Por ende, cuando la almohadilla troquelada del marco de conexión es lo suficientemente rugosa, la adherencia de la pasta de resina no conductora aumenta. En ese sentido, conocer la rugosidad de las almohadillas troqueladas en marcos de conexión es clave para el control de calidad.
Existen diversos tipos de instrumentos que miden la rugosidad superficial de una sustancia, pero pocos de ellos son apropiados para medir la rugosidad de un marco de conexión.
- Un medidor de rugosidad por contacto puede generar daños superficiales debido a la sonda de medición usada. Paralelamente, la punta de dicha sonda suele ser de 2 µm como mínimo, por lo que resulta inadecuada para medir la rugosidad a escala micrométrica de un objeto dotado de una menor dimensión.
- Los interferómetros de luz blanca proporcionan una resolución bidimensional baja y su medición de rugosidad puede tener una precisión cuestionable en la adquisición de datos tridimensionales XYZ.
Solución Olympus: Medición de la rugosidad usando el microscopio OLS5000
Las mediciones de rugosidad usando el microscopio de escaneo láser en 3D LEXT OLS5000 de Olympus son más precisas que los datos de rugosidad obtenidos por separado mediante un trazado lineal.
Ventajas de medir la rugosidad de almohadillas troqueladas en marcos de conexión
El microscopio LEXT OLS5000 de Olympus ofrece las siguientes ventajas para medir la rugosidad de almohadillas troqueladas en marcos de conexión:
- La medición de la rugosidad planar por escaneo láser permite adquirir datos más precisos que las medidas de rugosidad lineal adquiridas con un medidor de rugosidad de contacto. Asimismo, si usa la aplicación mosaico para los datos, podrá adquirir varios tipos de datos unidos horizontalmente, para poder medir toda la zona de la almohadilla troquelada.
- Cabe agregar que se eliminan riesgos de daño en la almohadilla troquelada debido a la ausencia de contacto entre el microscopio y la superficie de la almohadilla. Evitando que se preocupe por una precisión más débil en la medición debido a los daños.
- En una medición de rugosidad en 3D con una resolución horizontal de 0,12 µm, podrá adquirir datos de alta precisión.
- La rugosidad no solo es adquirida como dato numérico, sino que también es reunida y visualizada como tres tipos de datos de imagen (color, láser y altura), lo que permite comprobar la textura al visualizar los datos numéricos en modo de imágenes.
- El microscopio LEXT OLS5000 define el área de medición y mide la rugosidad.
Después de la medición, el área es más grande que la superficie plana, ya que el área de rugosidad es agregada al área de medición. Al comparar los datos de medición con el área más grande posterior a la medición, es posible adquirir información de la superficie en 3D además de la información de altura.
Imagen
Imagen de medición mostrando los datos de rugosidad planar
