Los sistemas microscópicos para semiconductores MX63 y MX63L brindan observaciones de calidad para obleas de hasta 300 mm, pantallas planas, placas de circuito impreso, y otras muestras grandes. Estos sistemas ergonómicos y fáciles de utilizar presentan un diseño modular para diversas aplicaciones.

Con el fin de agilizar la inspección, la serie MX63 puede personalizarse con:

• Amplia platina motorizada para inspeccionar obleas grandes.
• Serie de soportes para obleas/plaquetas y accesorios para muestras.
• Software personalizado basado en el sencillo software PRECiV™.
• Adaptadores para permitir la inspección IR transmitida.

Software personalizado para optimizar sus flujos de inspección

Saque provecho de todas las ventajas de una platina motorizada con las soluciones de software personalizado. Nuestro software PRECiV™ puede ser personalizado para su flujo de trabajo específico.

Por ejemplo, la solución personalizada de navegación en obleas/plaquetas ofrece un flujo de trabajo de medición multiposición.

Visualice el video para aprender cómo esta solución define el diseño de la oblea/plaqueta y se desplaza a través de varios puntos de una oblea/plaqueta para procesar imágenes.