Existen muchos acrónimos y abreviaturas que puede encontrar cuando está estudiando o aprendiendo la fluorescencia de rayos X (XRF). Use esta guía de referencia rápida para consultar el significado de aquellos que podría encontrar en nuestro sitio web o escuchar en el trabajo.
XRF
XRF= Fluorescencia de rayos X. Note que también existe el acrónimo FRX usado en algunos países de habla hispana. Este es un método rápido y no destructivo para medir la composición de elementos (o composición química) de un material. Descubra más aquí sobre cómo funciona la fluorescencia de rayos X.
Entre los acrónimos similares destacan:
- EDXRF = Fluorescencia de rayos X de energía dispersiva. Una técnica XRF rápida y rentable proporcionada a través de dispositivos XRF portátiles.
- WDXRF = Fluorescencia de rayos X dispersiva de longitud de onda. Una técnica XRF de laboratorio más costosa que la EDXRF.
- HHXRF = Analizadores portátiles de tecnología XRF
- pXRF = Analizador móvil de tecnología XRF
Detectores
Los analizadores XRF portátiles pueden contar con uno de los dos tipos de detectores disponibles comercialmente:
- PIN = Detector de diodo PIN de silicio Una tecnología más antigua, menos costosa y más lenta en comparación con el detector SDD.
- SDD = Detector de deriva de silicio. Una tecnología moderna que puede ejecutar diez veces más recuentos de rayos X por segundo que el detector PIN.
Conozca cómo decidir el tipo de detector más apropiado para sus aplicaciones.
Elementos
E. L.= Elementos ligeros. La sigla en inglés es «LE». Los elementos ligeros poseen energías de rayos X más débiles que dificultan su detección por el analizador XRF.
Por tanto, dependerá del contexto a lo que se le considere un elemento ligero. Como elemento ligero se hace referencia frecuentemente a los siguientes elementos que pueden medirse con un analizador XRF portátil:
- Magnesio (Mg)
- Aluminio (Al)
- Silicio (Si)
- Fósforo (P)
- Azufre (S)
- Cloro (Cl)
- Potasio (K)
- Calcio (Ca)
Estos elementos ligeros solo pueden ser medidos con un SDD.
En otras ocasiones, los elementos ligeros hacen referencia a elementos de la tabla periódica con un número atómico bajo y cuyo análisis no puede llevarse a cabo con los analizadores XRF portátiles. Entre estos elementos destacan: el sodio (Na), el carbono (C), el hidrógeno (H) y el oxígeno (O).
Del hidrógeno (H) al sodio (Na): Estos elementos ligeros (E. L.), resaltados en azul, son demasiado claros para ser medidos con analizadores XRF portátiles. Del magnesio (Mg) al escandio (Sc): Estos elementos, resaltados en amarillo, son demasiado claros para ser medidos con un detector PIN; se requiere un detector SDD para analizarlos mediante un analizador XRF portátil.
Métodos de calibración
PF= Parámetros fundamentales (FP, siglas en inglés). Es un método de cálculo/calibración que trabaja con la fluorescencia de rayos X para tener en cuenta los efectos interelementales en función de las propiedades físicas fundamentales de los átomos. El método PF es importante para obtener la respuesta correcta al analizar muestras densas (como la mayoría de los metales).
CN= Normalización de Compton. Un método de cálculo/calibración más simple para muestras menos densas.
Identificación de material
PMI= Identificación positiva del (los) material(es) La identificación positiva del material se aplica cuando es de suma importancia confirmar el grado (ley) específico en equipos y piezas como tuberías, válvulas, soldaduras y recipientes a presión. Implica un ensayo de composición química altamente específico para identificar de forma rápida y precisa los grados (ley) de aleación. Conozca más sobre los analizadores XRF portátiles dedicados a la PMI.
Análisis
LOD= Límite(s) de detección. El LOD es el nivel más bajo en la que el dispositivo de análisis puede detectar la presencia de un elemento dado. En dicho nivel, es posible que sea difícil cuantificar o atribuir un número a la cantidad de un elemento.
LOQ= Límite(s) de cuantificación. El LOQ ofrece una escala tres veces más elevada que el LOD, la cual aporta un nivel de confianza en los resultados numéricos.
Modelos de analizadores Vanta
El analizador XRF Vanta™ de Olympus presenta modelos con acrónimos únicos, formados de tres letras, para describir las diferentes variaciones que satisfacen las necesidades analíticas y aplicativas de los clientes.
El acrónimo, que se forma de tres letras, evoca tres componentes importantes: el analizador Vanta, la serie y el tipo de tubo de rayos X. Ejemplos: VMR, VCR, VCA y VLW. En el primer ejemplo: V = Analizador Vanta; M = Serie M, y R = Tubo de rayos X con ánodo de rodio.
Consulte la completa lista de opciones de la serie Vanta y los tipos de tubos de rayos X a continuación:
Serie de analizadores Vanta
M, C, L: Se usa un número romano para indicar el nivel de costo [Esp. coste]/rendimiento. Mientras más elevado sea el número romano, mejor será el rendimiento. La serie M es la de mayor rendimiento, seguida de la serie C y la serie L.
Tipos de tubos de rayos X con ánodos
R= Tubo de rayos X con ánodo de rodio (Rh). Es el mejor para medir elementos ligeros. De rapidez notable para medir magnesio (Mg) — un elemento clave en los grados (ley) del aluminio (Al)—, es lo que posiciona al tubo de rayos X dotado del ánodo de rodio como la mejor opción para la mayoría de las aplicaciones de aleación.
W= Tubo de rayos X con ánodo de tungsteno/wolframio (W). El uso del tungsteno/wolframio (W) o de un material pesado equivalente es mejor para la identificación de elementos de alta energía como el cadmio, el cual es un objetivo crucial en los ensayos de restricción de sustancias peligrosas (RoHS).
A= Tubo de rayos X de ánodo de plata (Ag). El mejor para aplicaciones generales. La plata no es tan buena como el rodio para detectar magnesio, o como el tungsteno/wolframio en el caso del cadmio, sin embargo, proporciona una solución intermedia cuando el presupuesto es limitado.
Esperando que esta lista le sea útil, asegúrese de marcarla como favorito para facilitar su consulta y háganos saber si tiene otras siglas o acrónimos asociados a la tecnología XRF para que sean agregadas a la lista.
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