Detector de defectos por Phased Array OmniScan X3 con el método de focalización total (TFM)

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OmniScan® X3

Tecnología de ultrasonido multielemento (Phased Array) mejorada

Innovaciones dedicadas a la eficiencia

  • Dos veces tan rápido como el detector de defectos OmniScan™ MX2 (frecuencia de repetición de impulso)
  • Menú exclusivo para la difracción de tiempo de vuelo (TOFD) a fin de generar un proceso de trabajo más ágil
  • Rápida calibración del ultrasonido multielemento (Phased Array) mejorada que atenúa frustraciones
  • Alto rango de amplitud al 800 % que reduce la necesidad de un doble escaneo
  • Soporte integrado para sondas Dual Linear Array™ y Dual Matrix Array™ para agilizar la creación de la configuración

Compatibilidad con los archivos y las configuraciones existentes

  • Sondas y escáneres existentes
  • Archivos de datos MX2 y SX para comparar datos recientes con aquellos antiguos y monitorizar los cambios a través del tiempo
  • Configuraciones MX/MX2/SX para facilitar el cumplimiento normativo de los procedimientos

Fiable y fácil de usar

  • Plan de escaneo integrado que reduce la cantidad de pasos en el proceso de trabajo y facilita el aprendizaje del instrumento
  • El mejor ejemplar de sus instrumentos de inspección que cubre un amplio rango de aplicaciones de manera eficiente
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  • Escaneos sin interrupción hasta un tamaño máximo de archivo de 25 GB
  • Clasificación IP65 a prueba de agua y polvo, sistema GPS integrado y conectividad inalámbrica opcional

TFM innovador

Obtención de representaciones TFM con súper detalles, lograda mediante el procesamiento de la envolvente TFM.

Confirmación anticipada de cobertura con la herramienta integrada de modelado denominada «Mapa de influencia acústica (AIM)».

Capacidad de hasta cuatro modos TFM simultáneos para facilitar la interpretación y dimensionamiento de defectos.

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OmniScan® X3




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