Soluciones de microscopios para
la fabricación de semiconductores
Prueba eléctrica
Verifique si la oblea (plaqueta) funciona correctamente con un comprobador (tester) de electrónica llamado «probador».
Medir las dimensiones de la marca dejada por la aguja de pruebas
Durante los ensayos eléctricos de los chips IC, la aguja de pruebas debe rayar las almohadillas troqueladas de los chips. Si la marca de rayado es grande, las condiciones de conductividad eléctrica en las almohadillas troqueladas se deteriorarán y afectarán el proceso de unión de los hilos metálicos. Por ello, es necesario medir las dimensiones de las marcas dejadas por el rayado
Solución Olympus
El microscopio digital DSX1000 de Olympus es capaz de capturar imágenes 3D y ejecutar mediciones 3D, lo cual permite medir la profundidad y el ancho de las marcas de rayado.
 Microscopio digital de la serie DSX |  Ajuga de pruebas |  Marca de prueba en una almohadilla troquelada |
Notas de aplicación
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