La serie de manipuladores de obleas (discos/plaquetas) electrónicas AL120 posibilita la transferencia segura y rápida de las obleas semiconductoras de silicio y compuestos desde el casete hasta la platina del microscopio. Diseñado para aumentar el rendimiento del producto, el manipulador de obleas se combina con nuestro microscopio de semiconductores MX63 con el objetivo de proporcionar una solución de inspección fiable para obleas electrónicas.
La capacidad de adaptarse a diferentes tamaños de obleas (discos/plaquetas) es clave para ampliar las instalaciones de fabricación de obleas electrónicas. La serie de manipuladores AL120 se compone de tres modelos basados en los siguientes diámetros: modelo de 200 mm, modelo convertible de 150 mm y 200 mm, y modelo 150 mm para obleas electrónicas de tamaño igual o inferior a 150 mm. Cada sistema está diseñado para la transferencias de obleas y la inspección microscópica. También está disponible la macro inspección para la superficie superior y de fondo de todos los tamaños de obleas.
Tamaño y espesor de obleas electrónicas
A fin de cumplir con las demandas de los fabricantes relativas a las obleas delgadas, el diseño manga del modelo AL120-LMB-90 permite manipular un casete completo de obleas de 90 µm.
Macro inspección con función de rotación de 360 grados (simulación) |
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El diseño AL120 incluye funciones avanzadas para maximizar la seguridad de la oblea. El sistema dotado de tres sensores monitoriza continuamente la posición de las obleas para ejecutar de forma segura y adecuada su extracción, transferencia, carga y descarga. Estas funciones evitan daños con respecto a la carga de más de una oblea en la ranura y la recogida accidental transversal a partir de ranuras.
El manipulador de obleas AL120 comunica con nuestra serie de microscopios de inspección para obleas MX™, los cuales proporcionan una excepcional resolución y claridad de imágenes a través de un rango de métodos de observación, como el campo claro, el campo oscuro, el contraste de interferencia diferencial (DIC) y el infrarrojo cercano (NIR). Asimismo, la torreta de objetivo motorizada y el tope de apertura están entrelazados; esto permite una óptima iluminación y contraste para cada lente de objetivo. El manipulador de obleas puede adaptarse a otros modelos de microscopios bajo una base de orden especial.
* Puede que la platina motorizada no esté disponible para algunas áreas geográficas.
Especificaciones del manipulador de obleas AL120*1 | ||||||||
Tipo de 200 mm | Tipo convertible de 200 mm/ 150 mm | Tipo de 150 mm | ||||||
AL120-
LMB8- 90 |
AL120-
LMB86- 180 |
AL120-
LMB8 |
AL120-
LMB6- 150 |
AL120-
L6- 150 | ||||
Tamaño de oblea (estándar SEMI) | 200 mm | 200 mm / 150 mm |
150 mm /
125 mm / 100 mm | |||||
Espesor mínimo de oblea | 90 µm | 180 µm | 400 µm | 150 µm | ||||
Tipo de casete | Ranura de 25 (26) - estándar SEMI | |||||||
Cantidad de casetes | 1 | |||||||
Fórmula de inspección | Total / Muestreo | |||||||
Secuencia de inspección | Micro (microscopio) | Sí | Sí | Sí | Sí | Sí | ||
Macro imagen de superficie superior | Sí | Sí | Sí | Sí | ||||
Macro imagen de superficie de fondo | Sí | Sí | Sí | Sí | ||||
Nivel macro de superficie superior (2.º) | Sí | Sí | Sí | Sí | ||||
Orientación de oblea (cada 90°) | Sin contacto (fuera de campo/muesca) | Sin contacto (fuera de campo) | ||||||
Modelo de microscopio compatible | Microscopio de inspección MX63 para semiconductores y pantallas de panel plano. | |||||||
Dimensiones | 640 (anch.) x 620 (prof.) x 378 (alt.), estructura principal; 1100 (anch.) x 620 (prof.) x 378 (alt.) con microscopio | 570 (anch.) x 620 (prof.) x 401 (alt.), estructura principal; 983 (anch.) x 620 (prof.) x 401 (alt.) con microscopio | ||||||
Peso (kg) [sólo estructura principal] | 44 | 44 | 44 | 40 | 37 | |||
Utilidad (consumo de potencia/vacío) | AC100 V - 120 V, 1 A, or AC 220 V - 240 V, 0.5 A 50/60 Hz, de –67 a –80 kpa; 20 litros/mín. o más |
*1 Todos los tipos de obleas electrónicas deben ser analizados de antemano; póngase en contacto con la oficina local de Evident.
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