Patrón de circuito integrado en una pastilla de semiconductorEl campo oscuro se utiliza para detectar rasguños o defectos minúsculos en una muestra o para inspeccionar muestras con superficies con efecto espejo, como las pastillas. La iluminación MIX permite a los usuarios visualizar tanto los patrones como los colores. | MIX (campo claro + campo oscuro) | Campo oscuro |
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Fluorescencia | MIX (fluorescencia + campo oscuro) | Residuo fotorresistente en una pastilla de semiconductorLa fluorescencia se usa en el caso de muestras que emiten luz cuando son iluminadas con un cubo de filtros especialmente desarrollado, lo que permite detectar la contaminación y los residuos fotorresistentes. La iluminación combinada (MIX) permite la observación tanto de residuos fotorresistentes como de patrones de circuito integrado. |
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Filtro de color LCDEsta técnica de observación es adecuada para muestras transparentes, tales como materiales de LCD, plástico y vidrio. La iluminación combinada (MIX) permite la observación tanto del color de filtro como el patrón de circuito. | Luz transmitida | MIX (luz transmitida + campo claro) |
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Campo claro | Contraste de interferencia diferencial (DIC) | Hierro fundido con grafito esferoidalEl contraste de interferencia diferencial (DIC) es una técnica de observación donde la altura de una muestra es visualizada como un relieve, similar a una imagen 3D con un contraste mejorado. Es ideal para las inspecciones de muestras que tienen diferencias de altura muy pequeñas, entre las que se incluyen las estructuras metalúrgicas y los minerales. |
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SericitaEl contraste de interferencia diferencial (DIC) es una técnica de observación donde la altura de una muestra, normalmente no detectable en el campo claro, se visualiza como un relieve, similar a una imagen 3D con un contraste mejorado. Es ideal para las inspecciones de muestras que tienen diferencias de altura muy pequeñas, entre las que se incluyen las estructuras metalúrgicas y los minerales. | Campo claro | Luz polarizada |
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Luz infrarroja (IR) | Adherencia de pastillas en un patrón de circuito impresoLa luz infrarroja se usa para observar defectos internos en los chips de circuitos integrados y otros dispositivos fabricados con silicio sobre vidrio. |
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