Evident LogoOlympus Logo

Microscopios industriales
Funcionalidad

Revelar lo invisible:
Observación MIX

La tecnología de observación combinada (MIX) del microscopio BX53M permite usar métodos de iluminación tradicional con la iluminación de campo oscuro. Al usar el deslizador MIX, el anillo de LED que posee ilumina el campo oscuro direccional sobre la muestra. Esto produce un efecto similar al campo oscuro tradicional, aunque ofrece la capacidad de seleccionar un cuadrante de los LED a fin de dirigir la luz a partir de ángulos diferentes. Esta combinación entre campo oscuro y campo claro, fluorescencia o polarización direccional se denomina método de iluminación MIX y es especialmente útil para hacer destacar los defectos y diferenciar las superficies elevadas de las cóncavas.

Revelar lo invisible: Observación MIX
Crear imágenes totalmente enfocadas: EFI

Crear imágenes totalmente enfocadas: EFI

La función de imagen focal extendida (EFI) del software PRECiV captura imágenes de muestras cuya altura es superior a la de la profundidad de enfoque del objetivo y las apila para crear una imagen que está totalmente focalizada. La función EFI puede ejecutarse con el eje Z manual o el motorizado y crea un mapa de altura para disfrutar de una visualización clara de la estructura. También es posible construir una imagen EFI, estando fuera de línea, con la función PRECiV Desktop.

Capture áreas claras y oscuras: HDR

Con el procesamiento de imágenes avanzado, el alto rango dinámico (HDR, sigla en inglés) ajusta las diferencias a nivel de la iluminación dentro de una imagen para reducir los destellos (o el deslumbramiento). El HDR mejora la calidad visual de las imágenes digitales; por ende, permite generar informes de nivel profesional.

Partes oscuras y claras claramente expuestas por el HDR (muestra: bombilla del inyector de combustible)

Partes oscuras y claras claramente expuestas por el HDR (muestra: bombilla del inyector de combustible)

Mejoramiento del contraste por HDR (muestra: magnesita cortada)

Mejoramiento del contraste por HDR
(muestra: magnesita cortada)

Imagen instantánea de una moneda tratada con la función MIA.

Imagen instantánea de una moneda tratada con la función MIA.

Desplazamiento sencillo de platina para panorámicas: MIA instantánea

Ahora le es posible unir imágenes de forma fácil y rápida con tan sólo mover los tornillos axiales X e Y en la platina manual; no se requiere la platina motorizada. El software PRECiV usa un reconocimiento de patrones para generar una imagen panorámica que ofrece a los usuarios un campo visual más amplio que un único fotograma.

Función de medición versátil

Funciones de medición rutinarias o básicas

Hay disponibles varias funciones de medición en el PRECiV para que el usuario pueda obtener datos útiles de las imágenes. Para un control e inspección de calidad, suelen necesitarse características de medición en las imágenes. Todos los niveles de licencias PRECiV incluyen funciones de medición interactivas, como distancias, ángulos, rectángulos, círculos, elipses y polígonos. Todos los resultados medidos se guardan con los archivos de imagen para su posterior documentación.

Funciones de medición rutinarias o básicas
Recuento y medición

Recuento y medición

La detección de objetos y la medición de la distribución del tamaño se encuentran entre las aplicaciones más importantes del procesamiento de imágenes digital. El PRECiV incorpora un motor de detección que utiliza métodos de valor umbral para separar con fiabilidad objetos (p. ej., partículas, arañazos, etc.) del fondo.

Soluciones para la ciencia de los materiales

El software PRECiV ofrece una interfaz a carácter intuitivo basada en el flujo de trabajo para un análisis de imágenes complejo. Basta con un clic de botón para ejecutar las tareas analíticas de imágenes más complejas de forma rápida y precisa y en conformidad con las normativas industriales más comunes. Dada la reducción considerable del tiempo de procesamiento para las tareas repetidas, los científicos de materiales pueden centrarse en el análisis y la investigación. Los complementos modulares para los diagramas de inclusiones e intersecciones (tb. interceptos) pueden aplicarse de forma fácil en cualquier momento.

Soluciones para la ciencia de los materiales
Vista superficial 3D (muestra en ensayo de rugosidad)

Vista superficial 3D (muestra en ensayo de rugosidad)

Vista simple y medida de perfil 3D

Vista simple y medida de perfil 3D

Medición de muestra 3D

Si usa una unidad de enfoque motorizada externa, es posible capturar una imagen EFI y visualizarla en 3D rápidamente. Los datos de altura adquiridos pueden ser usados en las mediciones 3D del perfil o a partir de la imagen de vista simple.

Más información sobre PRECiV

Vea más tipos y tamaños de muestras

La nueva platina de 150 × 100 mm proporciona un desplazamiento más extenso en la dirección X que los modelos anteriores. Esto, sumado al diseño meseta de la superficie, permite colocar muestras de gran tamaño o varias muestras en la platina. La placa de la platina cuenta con roscas para acoplar el portamuestras. La platina de mayor tamaño ofrece flexibilidad a los usuarios al permitirles inspeccionar más muestras en un microscopio, lo que les ahorra un espacio de laboratorio útil. La torsión ajustable de la platina facilita un posicionamiento fino bajo una alta magnificación con un campo visual angosto.

Flexibilidad para la altura y el peso de la muestra

Es posible montar muestras de hasta 105 mm en la platina con una unidad modular opcional. Gracias al mecanismo de enfoque mejorado, el microscopio puede admitir un peso total (muestra + platina) de hasta 6 kg. Esto significa que pueden inspeccionarse muestras más grandes y más pesadas en el BX53M, lo que conllevará a usar menos microscopios en un laboratorio. El posicionamiento estratégico de un soporte giratorio para obleas (plaquetas) electrónicas de 6 pulgadas no centradas permite a los usuarios observar toda la superficie de la oblea con tan sólo rotar el soporte durante el desplazamiento por el rango de recorrido de 100 mm. El ajuste de torsión de la platina está optimizado para facilitar el uso y la cómoda sujeción de la empuñadura para encontrar la región de interés de la muestra.

BX53MRF-S

BX53MRF-S

BXFM

BXFM

Flexibilidad para el tamaño de la muestra

Cuando las muestras son demasiado grandes para colocarlas en una platina de un microscopio tradicional, los componentes ópticos principales destinados a la microscopía de luz reflejada pueden adoptar una configuración modular. Este sistema modular, el BXFM, puede montarse en una platina de mayor tamaño a través de una vara o montarse en otro instrumento de elección mediante un soporte de montaje. Esto permite que los usuario saquen el máximo provecho de nuestra reconocida óptica incluso cuando sus muestras son únicas en tamaño y forma.

Proteja sus dispositivos electrónicos de descargas electrostáticas: compatible con el programa de ESD

El BX53M se dota de la capacidad de disipación de ESD que protege a los dispositivos electrónicos de la electricidad estática generada por factores humanos o ambientales.

Lo sentimos, la página solicitada no se encuentra disponible en su país.

Let us know what you're looking for by filling out the form below.

Lo sentimos, la página solicitada no se encuentra disponible en su país.