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Descripción

Los microscopios BX61 de Olympus han sido desarrollados gracias a avanzadas tecnologías ópticas y de procesamiento de imágenes con el objetivo de abordar diversas aplicaciones de la ciencia de los materiales.

Olympus se dedica a crear soluciones de sistemas microscópicos para respaldar su trabajo en cada nivel.

Serie BX61TRF / BX-RLAA / U-AFA2M / DP

El microscopio BX61 está especialmente desarrollado para funcionar con la unidad de autoenfoque láser de Olympus. Mediante un enfoque preciso y un seguimiento activo, los usuarios pueden acelerar las inspecciones de rutina. Los parámetros de configuración adicionales, como el nivel de iluminación, la selección de lentes y el ajuste de apertura, pueden ser configurados usando los botones del estativo del microscopio, un teclado o un PC. Una variedad de módulos motorizados está disponible e incluye portaobjetivos e iluminadores para brindar total flexibilidad a la configuración de su sistema.

Excelente claridad de imagen y excelente resolución

Haga su selección a través de una gama de lentes de objetivo para personalizar su sistema

Olympus ofrece una amplia variedad de objetivos para adaptarse a cada técnica de observación. Es posible seleccionar el objetivo adecuado para su aplicación a partir de los más de 150 objetivos de Olympus. La fidelidad del color es importante para una inspección precisa y eficiente. Las lentes de objetivo de la serie UIS2 reproducen el color natural gracias a la combinación de un vidrio de alta transmitancia, cuidadosamente seleccionado, y una tecnología de revestimiento avanzada.

Imágenes de observación de muestras

Cabezal magnético (campo claro)

DVD (campo claro)

Oblea (fluorescencia)

Filtro de color (transmitido)

Alineación diversa que permite una selección conforme al propósito
MPLAPON	Serie de lentes de objetivo Plan Apochromat (plan apocromático)
MPLFLN	Serie de lentes de objetivo Semi Apochromat (semiapocromáticas) para campo claro
MPLFLN-BD	Serie de lentes de objetivo Semi Apochromat (semiapocromáticas) para campo claro y campo oscuro
MPLFLN-BDP	Serie de lentes de objetivo Semi Apochromat (semiapocromáticas) para campo claro, campo oscuro y contraste de fase
LMPLFLN	Serie de lentes de objetivo Semi Apochromat (semiapocromáticas) con larga distancia de trabajo para campo claro
LMPLFLN-BD	Serie de lentes de objetivo Semi Apochromat (semiapocromáticas) con larga distancia de trabajo para campo claro y campo oscuro
MPLN	Serie de lentes de objetivo Plan Achromat (plan apocromático) para campo claro
MPLN-BD	Serie de lentes de objetivo Plan Achromat (plan apocromático) para campo claro y campo oscuro
SLMPLN	Serie de lentes de objetivo Plan Achromat (plan apocromático) con distancia de trabajo súper larga
LCPLFLN-LCD	Serie de lentes de objetivo Semi Apochromat (semiapocromáticas) con larga distancia de trabajo para campo claro
LMPLN-IR / LCPLN-IR	Serie de lentes de objetivo de plan acromático (Plan Achromat) con larga distancia de trabajo para el infrarrojo cercano

> Haga clic aquí para obtener más detalles acerca de las lentes de objetivo UIS2

Soluciones de software

Desarrolladas para un trabajo eficiente con cámaras digitales y softwares de análisis de imágenes

La completa grama de cámaras digitales de Olympus proporcionan visualización de alta resolución y transferencia rápida de imágenes, a la vez que sus softwares de análisis de imágenes proporcionan a los usuarios todas las herramientas necesarias para satisfacer los requisitos metalúrgicos más rigurosos de la actualidad. Haga su selección a partir de los módulos aplicativos específicos de Mediciones extendidas (Extended Measurements), Metalografía estándar (Standard Metallography) y Metalografía avanzada (Advanced Metallography) cuyo contenido presente más de una docena de rutinas específicas de aplicación; asimismo, complete los datos y cree informes de forma automática conforme a las normativas ASTM e ISO más populares, todo con unos pocos clics de ratón.

> Haga clic aquí para conocer la gama de cámaras digitales de Olympus

> Haga clic aquí para conocer las opciones de software de Olympus

Especificaciones

Sistema óptico	Sistema óptico UIS2 (con corrección de infinito)
Estativo de microscopio > Iluminación	Reflejada/transmitida
Estativo de microscopio> Iluminación	Fuente de luz externa de 12 V con 100 W Conmutador predeterminado de luz Indicador de voltaje LED Conmutador de intercambio reflejado/transmitido
Estativo de microscopio > Enfoque	Enfoque motorizado Recorrido (carrera): 25 mm Graduación mínima: 0,01 μm
Estativo de microscopio> Altura máxima de muestra	25 mm (sin espaciador)
Tubos de observación > Campo amplio Número de campo (FN) 22	Invertido: binocular, trinocular, binocular inclinable (basculante) Vertical: trinocular, binocular inclinable (basculante)
Tubos de observación > Campo súper amplio Número de campo 26,5)	Invertido: trinocular Vertical: trinocular, trinocular inclinable (basculante)
Iluminación de luz reflejada > BF (campo claro), etc.	BX-RLAA Conmutación motorizada BF (campo claro) / DF (campo oscuro) Diafragma de iris de apertura (AS) motorizada
Iluminación de luz reflejada > Reflejada Fluorescencia	BX-RFAA Torreta motorizada de seis posiciones Obturador motorizado empotrado Con los diafragmas de iris de apertura y campo (AS y FS).
Luz transmitida	Halógena de 100W Condensadores: Abbe/de larga distancia de trabajo Filtros de luz transmitida incorporados (LBD, ND25, ND6)
Giratorio Portaobjetivos > Para BF (campo claro)	Motorizado séxtuple
Giratorio Portaobjetivos > Para BF (campo claro) / DF (campo oscuro)	Motorizado quíntuple; motorizado séxtuple; de centrado quíntuple
Platinas	Platina con mango izquierdo/derecho coaxial: 76 (X) × 52 (Y) mm, con ajuste de torsión Platina con mango izquierdo/derecho coaxial de gran tamaño: 10 (X) × 0 (Y) mm, con mecanismo de bloqueo en eje Y
Dimensiones	318 (anch.) x 602 (fondo) x 541 (alto) mm aproximadamente.
Peso	25,5 kg aprox. [Estativo del microscopio: 11,4 kg]

Galería de imágenes de la aplicación

La imagen que desea gracias al microscopio BX61

Campo oscuro

Placa de conexión superficial

El campo oscuro (ingl. Darkfield) permite observar la luz dispersa o difractada de la muestra. La luz de la lámpara viaja a través de los dispositivos ópticos de iluminación en forma de anillo a partir del iluminador, y se enfoca en la muestra. La luz de la muestra se refleja en el eje z solo en el caso de existir imperfecciones. El usuario puede identificar la existencia de un pequeño rasguño o defecto hasta en un nivel de 8 nm — un valor menor al límite de potencia de resolución de un microscopio óptico. El método de campo oscuro es ideal para detectar pequeños arañazos o defectos en una muestra y examinar muestras de superficie reflectante, como las obleas (plaquetas) electrónicas.

Luz polarizada

Amianto

Esta técnica de observación microscópica aplica luz polarizada generada por un conjunto de filtros (analizador y polarizador). Las características de la muestra tienen efecto directo en la intensidad de la luz que se refleja a través del sistema. Es adecuado para estructuras metalúrgicas (p. ej., patrón de crecimiento del grafito sobre una fundición nodular), minerales, dispositivos LCD y materiales semiconductores.

Contraste de interferencia diferencial (DIC)

Cabezal magnético

DIC es una técnica de observación microscópica en la que la diferencia de altura de una muestra, imposible de detectar con el método de campo claro, deviene una imagen en relieve o tridimensional con un contraste mejorado. Esta técnica de luz polarizada puede adaptarse a sus necesidades a través de la selección de tres prismas especialmente diseñados. Es idónea para examinar muestras con diferencias mínimas de altura, ya sea en estructuras metalúrgicas, minerales, cabezales magnéticos, discos duros y superficies de obleas (plaquetas) pulidas.

Fluorescencia

Partícula en oblea (plaqueta) semiconductora

Esta técnica se usa en el caso de muestras que emiten fluorescencia (es decir, luz de una longitud de onda diferente) cuando al iluminarse con un módulo de filtro especialmente diseñado y adaptado para su aplicación. Es adecuada para inspeccionar la contaminación en obleas (plaquetas) semiconductoras, residuos fotorresistentes, y detectar grietas mediante el uso de tinte fluorescente. Es posible agregar un sistema opcional de lentes colectores para lámpara apocromática con el fin de compensar las aberraciones cromáticas desde la luz visible hasta la luz del infrarrojo cercano.

Observación de luz transmitida

Filtro de color LCD

Para muestras transparentes, como los dispositivos LCD, plásticos y materiales de vidrio, la verdadera observación de luz transmitida se encuentra disponible a través del uso de una variedad de condensadores de luz transmitida. Es posible examinar las muestras con los métodos de procesamiento de imágenes de campo claro, campo oscuro, DIC y polarización de luz transmitida, y todo en un cómodo sistema conveniente.

BX61