Microscopios de inspección para semiconductores y pantallas planas
Los microscopios de inspección para pantallas planas y obleas/placas semiconductoras de Evident ofrecen el máximo nivel de eficiencia al asegurar tiempos de inicio rápidos, funcionamiento sencillo, análisis de errores y capacidad de expansión para los usuarios. Nuestra selección de microscopios de inspección para semiconductores ha sido diseñada para transferir de forma segura obleas/placas electrónicas, lo que es ideal en la inspección de defectos de semiconductores. Además de los sistemas automatizados dedicados a la manipulación de los semiconductores, es posible usar un microscopio digital para analizar detalladamente defectos más pequeños en ellos. A continuación, explore nuestra gama completa de microscopios de inspección para pantallas planas y obleas/placas semiconductoras. |
Microscopio de inspección para obleas/placas semiconductoras
AL120
El manipulador de obleas/placas electrónicas de la serie AL120 es un microscopio de inspección para semiconductores que permite transferir de forma sencilla las obleas/placas semiconductoras de dióxido de silicio y materiales compuestos, como el carburo de silicio (SiC) y el arseniuro de galio (GaAs), desde el cajetín hasta la platina del microscopio con capacidades y flexibilidad mejoradas, a la vez que otorga un diseño ergonómico y sencillo de usar.
AL120-12
El manipulador de obleas/placas electrónicas AL120-12, ideal para inspecciones secundarias de menor costo(e), es un microscopio de inspección de semiconductores compatible con el módulo unificado de apertura frontal (FOUP) y el contenedor de transporte de apertura frontal (FOSB). El diseño seguro y ergonómico mantiene la seguridad del operador, al mismo tiempo que transfiere obleas/placas electrónicas de forma eficaz, como aquellas finas y arqueadas.
MX63 / MX63L
Los sistemas microscópicos MX63 y MX63L están optimizados para la inspección de alta calidad de obleas/placas electrónicas de hasta 300 mm. El diseño modular que poseen, compatible con pantallas planas, circuitos impresos y otras muestras grandes, favorece la selección de los componentes que necesita para personalizar el sistema en función de su aplicación.
Equipamiento de inspección para pantallas planas y semiconductores
Cámaras digitales para microscopios
Las cámaras microscópicas digitales de Evident le permiten capturar imágenes de alta calidad a partir de sus muestras. Nuestras cámaras, que otorgan alta resolución y una excelente fidelidad del color, proyectan imágenes nítidas en directo de total resolución, al mismo tiempo que posibilitan una observación clara y enfoque instantáneo.
Objetivos de inspección de obleas electrónicas de semiconductores
La serie de objetivos MXPLFLN de Evident está diseñada para ofrecer de forma simultánea alta resolución y una larga distancia de trabajo, lo cual es ideal para inspeccionar obleas semiconductoras.
Material informativo adicional sobre la inspección de obleas/placas semiconductoras
Optimización de su microscopio y flujo de trabajo dedicados a la inspección de obleas electrónicasDescubra cómo los fabricantes de obleas/placas semiconductoras pueden mejorar el control de calidad en la inspección de obleas/placas electrónicas a través de la optimización de su equipamiento y flujos de trabajo. |  |
El potencial del procesamiento de imágenes en el infrarrojo cercano para la inspección de semiconductores y electrónicaDescubra cómo los microscopios de inspección de Evident mejoran el procesamiento de imágenes en el infrarrojo cercano al inspeccionar semiconductores. | |
Inspección de patrones de circuitos en muestras de obleas electrónicasDescubra cómo los microscopios industriales MX63/MX63L de Evident, dedicados a la inspección de semiconductores/FPD, suponen una alternativa eficiente a los métodos de observación convencionales de muestras de obleas electrónicas. |
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