Detector de defectos por ultrasonido multielemento (Phased Array) OmniScan™ X4 con TFM y PCI

Detectar y definir grietas más pequeñas generadas por el HTHA

Detectar el ataque por hidrógeno a alta temperatura (HTHA) en una fase temprana es tan desafiante que múltiples métodos de inspección son usados en conjunción para maximizar la probabilidad de detección. La difracción del tiempo de vuelo (TOFD), el ultrasonido multielemento (PA) focalizado, conjuntamente al método de focalización total (TFM), en especial al usar las sondas Dual Linear Array™ (DLA), han demostrado ser particularmente efectivos en esta aplicación.

El detector de defectos OmniScan™ X4 64 respalda integralmente estos métodos, como también el innovador procesamiento por coherencia de fase (PCI) que resalta los defectos pequeños y las puntas de las grietas. Los instrumentos de la serie OmniScan X4 también ofrecen una variedad de herramientas de software integradas con el fin de facilitar la distribución del trabajo de configuración y análisis.

• Configuración integrada de las sondas DLA y los escáneres
• Representaciones TFM de alta resolución (hasta 1,024 × 1,024 puntos)
• Herramientas de software dedicadas a optimizar el proceso de inspección TFM, desde la configuración hasta el análisis (plan de escaneo con modelo del AIM, curva TCG automática, emisión de poca densidad (sparse), ganancia de software y deslizador de paleta, envolvente TFM en directo y filtros de imagen, puertas y alarmas).
• Apertura TFM de 64 elementos y apertura ampliada de 128 elementos (modelo OmniScan X4 64:128PR).
• Procesamiento de imágenes por coherencia de fase para resaltar pequeños defectos y puntas de grietas (todas las unidades OmniScan X4).
• Adquisición posible de hasta ocho grupos TOFD y Phased Array simultáneamente para una detección eficiente.
• Adquisición y presentación de hasta cuatro grupos TFM y PCI a la vez.
• Procesamiento de imágenes de onda plana (PWI) disponible con las técnicas TFM y PCI (usando la unidad OmniScan X4 con sondas de matriz lineal).