Contexte
Plus les équipements électroniques sont petits et sophistiqués, plus la demande de cartes de circuits imprimés miniatures augmente. Une partie essentielle de la fabrication des cartes de circuits imprimés consiste à lier des fils de cuivre à un substrat diélectrique en résine. Pour assurer une bonne adhérence des fils de cuivre, la surface de la résine est rendue rugueuse pour augmenter sa surface utile. Si la surface est trop rugueuse, elle crée une impédance électrique qui influence négativement l’appareil électronique. Il faut donc mesurer la rugosité de surface pour s’assurer qu’elle reste dans les limites optimales.
Solution proposée par Olympus
Le microscope laser de mesure 3D LEXT d’Olympus est conçu pour mesurer la rugosité de surface avec une résolution planaire de 0,12 µm et une résolution d’irrégularité de 5 nm, idéales pour les applications de contrôle de la rugosité des cartes de circuits imprimés. Grâce à une densité de pixels élevée et une très grande sensibilité aux inclinaisons, il vous permet de mesurer les surfaces ayant de fines irrégularités et des angles abrupts. Le microscope LEXT utilise une technologie de mesure de la rugosité sans contact de sorte à ne pas endommager la surface du substrat contrôlé.
Caractéristiques du microscope
Le microscope LEXT produit des images en ultra-haute résolution avec une densité de pixels élevée pour des observations en 3D précises. Il a une sensibilité élevée aux inclinaisons et mesure de manière fiable les échantillons ayant des angles abrupts. Comme la mesure de la rugosité de surface se fait sans aucun contact, le substrat en résine est protégé. Le microscope LEXT satisfait aux exigences pour la mesure de la rugosité de surface des normes JIS/ISO.
Image
Figure 1 : image 3D illustrant la mesure de la rugosité d’un substrat en résine
