Des capacités de personnalisation qui repoussent les limites des microscopes conventionnelsExploitez tout le potentiel d’une inspection automatisée des semi-conducteurs grâce à du matériel et des logiciels de microscopie personnalisés. |
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Les microscopes pour semi-conducteurs MX63 et MX63L permettent de réaliser des observations de qualité sur des wafers jusqu’à 300 mm, des écrans plats, des circuits imprimés et d’autres échantillons de grande taille. Ces systèmes ergonomiques et conviviaux disposent d’un design modulaire adapté à diverses applications. Pour simplifier votre inspection, la série MX63 peut être personnalisée avec les éléments suivants :
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Personnalisez votre microscope pour semi-conducteurs |
Motorisation complèteDécouvrez nos platines X-Y et nos axes Z motorisés pour l’inspection automatisée de semi-conducteurs. |
Imagerie amélioréeUtilisez la lumière infrarouge transmise pour l’inspection d’échantillons de silicium, notamment pour l’inspection des dommages subis par les puces et la détection des courts-circuits. |
Porte-échantillons personnalisésChoisissez parmi toute une gamme de porte-échantillons pouvant être personnalisés pour des applications spécifiques. |
Des logiciels personnalisés pour optimiser vos procédures d’inspectionProfitez au maximum de tous les avantages d’une platine motorisée grâce à des solutions logicielles personnalisées. Notre logiciel PRECiV™ peut être personnalisé en fonction de votre procédure analytique spécifique. |
Par exemple, la solution personnalisée « Navigate on Wafer » propose une procédure de mesure multiposition. Regardez la vidéo pour découvrir comment cet outil définit la structure du wafer et se déplace vers différents points pour produire des images. |
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