Notre équipe de scientifiques spécialistes de la technologie par fluorescence X (XRF) étaient présents à l’ECNDT 2018 à Göteborg, en Suède, pour échanger sur plusieurs sujets intéressants, notamment le contrôle du verre et la mesure de l’épaisseur des revêtements.
Consultez les documents et les présentations ci-dessous pour vous tenir informé de ce que vous avez manqué.
Mesurer l’épaisseur d’un revêtement à l’aide de la technologie XRF portable
Présentateurs : Karen Paklin, Peter Faulkner et Dillon McDowell
Résumé
La technologie par fluorescence X portable (HHXRF) peut être utilisée pour mesurer l'épaisseur des revêtements, en plus d’offrir précision et portabilité en comparaison d’autres technologies. Souvent, l’analyse des revêtements appliqués sur de grandes surfaces nécessite des procédures destructives pour permettre une analyse sur table. La technologie HHXRF s’affranchit de cette limitation grâce à ses capacités d’analyse non destructive.
La fonction d’étalonnage intégrée à l’interface utilisateur de l’appareil facilite l’utilisation d’une norme homologuée pour analyser et caractériser jusqu’à trois couches d’épaisseurs précises. Les mesures d’épaisseur par HHXRF, qui sont indépendantes du substrat, permettent à l’utilisateur d’analyser librement tout revêtement déposé composé d’éléments allant du titane (Ti) au plutonium (Pu). En raison de la vaste gamme d’éléments couverts par l’analyse, de nombreux revêtements de corrosion, d’usure et d’adhésion définis dans des laboratoires proches du site d’analyse peuvent bénéficier de résultats précis obtenus par la fluorescence X portable.
La physique de l’analyse d’un revêtement est régie par la loi Lambert-Beer de l’absorption, selon laquelle l’intensité des rayons X pénétrant dans un échantillon est maximale lorsqu’ils pénètrent dans la première couche et diminue à mesure qu’ils la traversent. Lors de l’entrée
Détecter des contaminants céramiques et des contaminants au plomb dans les chaînes de recyclage du verre à l’aide des analyseurs XRF portables (HHXRF)
Présentateurs : Dillon McDowell et Alex Thurston
Résumé
Les installations de récupération de matériaux utilisent généralement des systèmes de tri magnétiques et optiques pour séparer le calcin du verre recyclé. Cependant, ces systèmes ne sont pas efficaces pour distinguer les vitrocéramiques et les composants au plomb du calcin. Ces contaminants réduisent la valeur du calcin pour les producteurs de verre, car ils posent des problèmes de production et de sécurité. Les analyseurs XRF portables (HHXRF) sont largement utilisés dans diverses installations de recyclage et de production pour fournir rapidement la composition chimique de toute une gamme d’éléments, même en présence de concentrations oscillant entre 1 et 10 ppm. Nous avons comparé l’analyse HHXRF d’échantillons de verre aux étalons de verre testés en laboratoire et utilisés par des installations de récupération de matériaux et des producteurs de verre. Nos résultats montrent que la technologie HHXRF peut détecter de faibles quantités (<100 ppm) d’éléments céramiques dans le verre et le calcin in situ. Nos résultats montrent également que des contaminants au plomb et des agents colorants (Fe, Cu, etc.) peuvent être détectés dans le calcin. Nous démontrons aussi que la même technique peut être appliquée à des systèmes de contrôle sur ligne pour analyser les flux de matériaux à la recherche de ces mêmes constituants.
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