Au moment de lancer l’appareil de recherche de défauts par ultrasons multiéléments OmniScan™ X3 à la fin de 2019, Olympus l’avait conçu de manière à en faire un outil d’inspection par ultrasons multiéléments (PAUT) puissant, mais facile à utiliser Comme il présente une grande polyvalence et qu’il supporte même la méthode de focalisation en tout point (total focusing method, TFM), les inspecteurs qui l’utilisent profitent de toute la confiance requise pour prendre des décisions.
Les membres de l’Institut italien de la soudure (Istituto Italiano della Saldatura, IIS) sont des habitués de l’équipement de CND d’Olympus et ils ont été parmi les premiers à utiliser l’appareil de recherche de défauts OmniScan X3. L’IIS est constitué d’une association à but non lucratif et de trois sociétés à responsabilité limitée, lesquelles fournissent une certification (IIS CERT), une formation (IIS PROGRESS) et des services (IIS SERVICE) aux ingénieurs de l’Italie et de l’étranger.
Simone Rusca, responsable à l’IIS du secteur de la formation, des contrôles et des inspections, est chargé d’organiser les formations. Il explique : « L’IIS a donné sa première formation en 1951. Actuellement, nous formons environ 1000 personnes par année : ingénieurs en soudage, inspecteurs en soudage, opérateurs en CND des niveaux 1 à 3, etc. Les participants à nos formations viennent de différents secteurs, principalement de l’industrie pétrolière et gazière, mais aussi de la construction, des chemins de fer, de l’automobile, de la marine, de l’aéronautique et de l’aérospatiale ».
« Nous dispensons des formations portant sur un éventail de méthodes de CND, par exemple celles décrites dans la norme ISO 9712 (qualification et certification du personnel CND). Ces méthodes comprennent l’essai par ressuage, le contrôle magnétoscopique, le contrôle radiographique et, bien sûr, le contrôle par ultrasons, tant avec des techniques classiques qu’avec des techniques de contrôle avancées, comme la technologie multiélément ou à diffraction en temps de vol (TOFD) ».
L’importance de profiter d’un équipement de pointe pour la formation
L’IIS utilise l’équipement d’Olympus depuis environ 20 ans. Simone Rusca explique : « Nous souhaitons toujours utiliser de l’équipement de pointe dans le cadre de nos formations, car nos participants en bénéficient grandement. Cet équipement de pointe comprend bien sûr l’OmniScan X3, mais aussi de nouveaux éléments, sondes et logiciels fabriqués par Olympus ».
« Nos spécialistes en CND sont très heureux et satisfaits du nouvel équipement. Nous utilisons actuellement l’OmniScanX3 avec deux sondes différentes : à réseau linéaire de 32 éléments et à réseau linéaire de 64 éléments. Nous utilisons à la fois la technologie d’acquisition par ultrasons multiéléments et la technologie d’acquisition FMC (full matrix capture) ; en général, c’est cet équipement que nous utilisons pour démontrer à nos participants la sensibilité de ces nouvelles techniques et la facilité d’utilisation de l’appareil. Les réactions des participants et de nos formateurs sont très positives ; l’équipement s’avère un excellent outil leur permettant d’améliorer leurs compétences ».
Simone Rusca ajoute : « Un autre avantage clé pour nous est la grande polyvalence de l’OmniScan X3 qui peut s’adapter à diverses applications d’inspection. Les participants à nos cours inspectent généralement beaucoup de composants différents à la recherche d’indications et de défauts divers, et l’OmniScan X3 se prête parfaitement à ce besoin d’adaptabilité. »
Enseignement de la méthode TFM
L’appareil de recherche de défauts OmniScan X3 supporte entièrement la méthode de focalisation en tout point (total focusing method, TFM). L’inspection des composants avec la méthode TFM procure une clarté et une résolution accrues, ce qui assure une meilleure détection des petits défauts, comme ceux causés par l’attaque précoce par l’hydrogène à haute température (HTHA). L’appareil de recherche de défauts OmniScan X3 peut afficher quatre modes TFM simultanément, ce qui facilite l’interprétation et le dimensionnement des défauts.
Appareil de recherche de défauts OmniScan X3 doté de la fonction TFM
Au sujet de la méthode TFM, M. Rusca indique : « Nous l’intégrons à notre formation, et les techniciens sont très heureux et satisfaits qu’elle soit maintenant disponible sur l’OmniScan X3. Cependant, le défi principal que posent les nouvelles techniques, comme la méthode TFM, est qu’elles ne sont pas encore complètement normalisées ; donc, souvent, il est difficile de donner une réponse précise, car nous ne pouvons pas comparer les résultats TFM et ceux d’une procédure de référence. Néanmoins, dans l’absolu, la sensibilité est très bonne ».
Une solide relation de collaboration
L’étroite collaboration entre Olympus et l’IIS s’avère mutuellement bénéfique. L’IIS dispose d’un grand nombre d’inspecteurs en CND hautement qualifiés, lesquels possèdent de nombreuses connaissances théoriques et pratiques. Leur contribution et leur compréhension du domaine du CND et de l’équipement aident Olympus à mieux comprendre les besoins de ses clients.
M. Rusca ajoute : « Je pense que cette collaboration reflète bien l’établissement des normes d’excellence en matière de formation et d’équipement. Nous sommes toujours à la recherche de nouvelles technologies, de nouvelles solutions et de conseils pour améliorer les méthodes de CND, et nous apprécions beaucoup l’apport d’Olympus à cet égard ».
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