Glossaire et terminologie de la technologie XRF

Le domaine de la technologie de fluorescence des rayons X (XRF) comporte de nombreux termes et acronymes. Ce guide de consultation rapide donne la signification de ceux que vous pourriez trouver sur notre site Web ou entendre au travail.

XRF

XRF = acronyme anglais pour « X-ray fluorescence », qui signifie fluorescence X, ou fluorescence de rayons X. Il s’agit d’une technologie non destructive puissante qui sert à mesurer la composition élémentaire d’un matériau. Lisez cet article de blogue pour en savoir plus sur la façon dont fonctionne cette technologie.

Les acronymes apparentés incluent les suivants :

• EDXRF = acronyme anglais pour « energy dispersive X-ray fluorescence », qui signifie fluorescence X à dispersion d’énergie. Il s’agit d’une technique XRF rapide et économique utilisée dans les analyseurs XRF à main.
• WDXRF = acronyme anglais pour « wavelength dispersive X-ray fluorescence », qui signifie fluorescence X à dispersion d’énergie. Il s’agit d’une technique XRF de laboratoire plus coûteuse que l’EDXRF.
• HHXRF = acronyme anglais pour « handheld XRF », qui fait référence aux analyseurs XRF qui sont suffisamment compacts pour être portables et manipulés à l’aide d’une main. Chez Olympus, ces analyseurs ont une apparence semblable à celle d’un pistolet (l’analyseur Vanta, par exemple).
• pXRF = acronyme anglais pour « portable XRF », qui fait référence aux analyseurs XRF qui sont suffisamment compacts pour être portables, mais qui peuvent être utilisés sur paillasse (l’analyseur Xpert, par exemple).

Détecteurs

Les analyseurs XRF à main sont équipés de détecteurs qui peuvent être de deux types différents :

• PIN = détecteur au silicium PIN. Il s’agit d’une technologie plus ancienne, moins chère et dont le fonctionnement est plus lent que celui du détecteur SDD.
• SDD = détecteur au silicium à diffusion. Il s’agit d’une technologie plus récente qui peut compter 10 fois plus de rayons X par seconde que le détecteur PIN.

Lisez l’article de blogue SDD ou PIN : de quel type de détecteur avez-vous besoin pour votre analyseur XRF à main ? pour savoir lequel convient le mieux à vos exigences d’analyse.

Éléments

Éléments légers  : Les éléments légers ont des énergies de rayons X plus faibles qui ont du mal à atteindre le détecteur d’un analyseur XRF.

Un élément est considéré comme « léger » selon le contexte. Les éléments suivants qui peuvent être mesurés à l’aide d’un analyseur XRF à main sont considérés comme légers :

Seul un analyseur équipé d’un détecteur SDD peut mesurer ces éléments légers.

Parfois aussi les éléments du tableau périodique portant un faible numéro atomique sont considérés comme légers ; ceux-là ne peuvent être mesurés à l’aide d’un analyseur XRF à main. Ces éléments comprennent le sodium (Na), le carbone (C), l’hydrogène (H) et l’oxygène (O).

De l’H au Na : ces éléments (surlignés en bleu) sont trop légers pour être mesurés avec un analyseur XRF à main. Du Mg au Sc : ces éléments (surlignés en jaune) sont trop légers pour être mesurés avec analyseur à détecteur PIN, il faut utiliser un analyseur à détecteur SDD.

Méthodes d’étalonnage

Calcul selon la méthode des paramètres fondamentaux (FP, fundamental parameters) : Il s’agit d’une méthode de calcul/étalonnage qui prend en compte les effets interéléments basés sur les propriétés physiques fondamentales des atomes. La méthode des paramètres fondamentaux est un outil important pour obtenir les bons résultats lorsque l’échantillon analysé est dense (c’est le cas de la plupart des métaux).

Calcul selon la normalisation de type Compton (CN, Compton normalization) : Il s’agit d’une méthode de calcul/étalonnage plus simple utilisée lorsque les échantillons analysés sont moins denses.

Identification de matériau

PMI = acronyme anglais pour « positive material identification » (applications d’identification positive des matériaux). La méthode PMI est utilisée lorsque l’identification précise de la nuance est d’une importance critique, par exemple dans le cas de certains équipements ou pièces, comme la tuyauterie, les régulateurs de débit, les soudures et les réservoirs sous pression. Il s’agit d’analyser la composition chimique très précise d’un matériau pour identifier les nuances d’alliage rapidement et précisément. En savoir plus sur l’utilisation de l'analyseur Vanta a pour les applications d’identification positive des matériaux (PMI).

Types d’analyse

LD = limite de détection. La limite de détection est le niveau le plus bas auquel il est possible de détecter la présence d’un élément donné. À ces niveaux très bas, il peut être difficile de quantifier ou de chiffrer la teneur d’un élément.

LQ = limite de quantification. La limite de quantification est environ trois fois plus élevée que la limite de détection, ce qui vous permet d’obtenir une meilleure fiabilité quant aux résultats numériques.

Modèles d’analyseurs Vanta

Nos différents modèles d’analyseurs XRF Vanta™ sont identifiés par des acronymes de trois lettres permettant de déterminer leurs particularités en fonction des besoins applicatifs et analytiques précis des clients.

Ces acronymes de trois lettres font référence à trois éléments importants : le nom de l’analyseur lui-même, la série à laquelle il appartient et le type d’anode dont est équipé le tube à rayons X, par exemple : VMR, VCR, VCA et VLW. Dans le premier exemple, V signifie Vanta, M indique la série à laquelle l’analyseur appartient et R fait référence à l’anode en rhodium (Rh) dont le tube à rayons X est équipé..

Voyez ci-dessous la liste complète des modèles de la série Vanta et des types d’anodes :

Identification de la série VANTA

M, C, L : Il s’agit d’un chiffre romain qui fait référence au niveau de performance et au coût de l’appareil. Plus le chiffre romain est élevé, meilleures sont les performances. La série M regroupe les analyseurs les plus performants ; viennent ensuite les analyseurs de la série C, puis de la série L.

Types d’anode dont peut être équipé le tube à rayons X

R = Tube à rayons X avec anode en rhodium (Rh). Le rhodium est le meilleur matériau pour l’analyse des éléments légers. Cette anode est particulièrement rapide pour l’analyse du magnésium (Mg), un élément clé qu’on trouve dans les nuances d’aluminium (Al). Le rhodium constitue donc le meilleur choix pour la plupart des applications d’alliage.

W = Tube à rayons X avec anode en tungstène (W). L’utilisation du tungstène ou d’un matériau lourd similaire est optimale pour l’analyse d’éléments à énergie élevée, comme le cadmium (Cd). Ce type d’analyse est entre autres important dans le cadre d’analyse de conformité à la directive RoHS.

A = Tube à rayons X avec anode en argent (Ag). Il s’agit de l’anode la plus polyvalente. Toutefois, l’argent n’offre pas la même qualité d’analyse que le rhodium pour l’analyse du magnésium ou que le tungstène pour l’analyse du cadmium, mais il s’agit d’un bon compromis pour les budgets limités.

Nous espérons que ces renseignements vous seront utiles. N’oubliez pas d’ajouter cette page Web à vos favoris pour pouvoir vous y référer facilement. De plus, indiquez-nous au besoin les autres acronymes XRF qui pourraient venir l’enrichir !

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