Obtenez des images claires à des niveaux de grossissement importants sans préparation compliquée des échantillons.
Grossissement 1100×
Échantillon : motifs de circuit intégré sur une plaquette de semi-conducteur
Voyez dans les moindres détails les motifs fins sur un circuit intégré et les petits défauts sur une plaquette.
Échantillon observé
Plaque semi-conducteur
Passez d’une méthode d’observation à l’autre d’un seul clic
Vous pouvez choisir entre cinq méthodes d’observation d’un seul clic pour une flexibilité maximale.
Observation sur fond noir
Échantillon : puce à circuit intégré sur un capteur UV
Observez les parties métalliques, comme les fils de connexion et les cadres conducteurs.
Observation sur fond clair
Échantillon : puce à circuit intégré sur un capteur UV
Le motif de la puce à circuit intégré peut être observé dans une image nette.
Observation MIX (fond noir + fond clair)
Échantillon : puce à circuit intégré sur un capteur UV
La puce à circuit intégré et les parties métalliques peuvent être observées simultanément en combinant les images fond noir et fond clair.
Échantillon observé
Capteur UV
Images en 3D
Visualisez votre échantillon en trois dimensions, peu importe l’angle.
Échantillon : broches sur un circuit imprimé
Visualisez en 3D la forme des broches en saillie.
Échantillon observé
Broches sur un circuit imprimé
Mesurez les formes complexes en temps réel
La fonction de mesure 3D du microscope DSX permet de mesurer instantanément les formes complexes et les éléments difficiles d’approche.
Échantillon : MEMS
Il est possible de mesurer en temps réel les petits écartements sur les MEMS, peu importe la direction.
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