OmniScan® X3 | Olympus IMS

OmniScan X3 : appareil multiélément doté de la fonction TFM Une fiabilité qui s’observe Demander une démonstration

Technologie multiélément améliorée

Des innovations favorisant l’efficacité Deux fois plus rapide que l’OmniScan™ MX2 (fréquence de répétition des impulsions) Un seul menu TOFD assurant un flux de travaux accéléré Étalonnage multiélément rapide et amélioré procurant une satisfaction accrue Étendue d’amplitude élevée de 800 % réduisant le besoin d’un second balayage Prise en charge intégrée des sondes Dual Linear Array™ et Dual Matrix Array™ accélérant la création de configurations	En savoir plus sur l’X3	Compatibilité avec les configurations et les fichiers existants Compatible avec les sondes et scanners existants Compatible avec les fichiers de données MX2/SX : comparez les nouvelles et les anciennes données et surveillez les changements au fil du temps Compatible avec les configurations MX/MX2/SX, pour faciliter la conformité des procédures

Fiabilité et facilité d’utilisation

Outil intégré de création du plan d’inspection réduisant le nombre d’étapes de configuration et rendant l’appareil facile à apprivoiser Le meilleur atout parmi vos appareils d’inspection : il offre une grande efficacité dans une vaste gamme d’applications	En savoir plus sur l’X3	Balayage ininterrompu grâce à la possibilité de créer des fichiers de grande taille (25 Go max.) Certification IP65 pour la protection contre la pluie et la poussière, système GPS intégré et connectivité sans fil (en option)

Fonction TFM novatrice Obtenez des images aux détails saisissants grâce à la fonction spéciale de traitement en temps réel de l’enveloppe TFM Confirmez à l’avance votre couverture grâce à l’outil de modélisation AIM intégré Jusqu’à quatre modes TFM en simultané facilitant la mesure et l’interprétation des défauts En savoir plus sur l’X3

OmniScan® X3

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