_{Solutions de microscopie pour}
fabrication de semi-conducteurs

Inspection de l’aspect des marquages

La lisibilité des marquages laser est importante, car le système d’automatisation trie et place les circuits intégrés en fonction des marquages qu’il identifie. Cependant, l’observation au microscope du marquage sur un boîtier de résine noire est difficile à réaliser en raison de l’éblouissement provoqué par l’éclairage du microscope.

Notre solution

Le microscope numérique DSX1000 acquiert des images claires de marquages laser sans éblouissement grâce à la technologie HDR (plage dynamique étendue).

Microscope numérique, gamme DSX Voir les détails du produit

Image normale

Image obtenue à l’aide de la fonction HDR

Notes d’application

Découvrir les applications associées :

	Analyse de sections de matrice de billes (BGA) Analyse de la fixation en surface du boîtier de semi-conducteur à l’aide du microscope confocal à balayage laser OLS5000 En savoir plus
	Utilisation d’un microscope pour déterminer si la surface des éléments de fixation est mouillable avec de la soudure En savoir plus