Vue d’ensemble
Une nouvelle norme pour l'observation de la lumière polariséeLe microscope polariseur BX53-P offre une excellente performance dans les applications en lumière polarisée grâce à la combinaison du système optique corrigé à l’infini UIS2 et de la conception optique particulière. La vaste gamme de compensateurs compatibles rend le microscope BX53-P suffisamment polyvalent pour assurer des applications d’observations et de mesure dans pratiquement tous les domaines. |
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Les optiques UIS2 offrent une expansibilité exceptionnelleEn optimisant les avantages de la correction à l’infini, le système optique UIS2 évite la détérioration des performances optiques du microscope et élimine les facteurs de grossissement, même lorsque des éléments polarisants comme des analyseurs, des plaques d’étain ou des compensateurs sont introduits dans la trajectoire optique. Le microscope BX53-P peut aussi être équipé des accessoires intermédiaires offerts pour les microscopes de la série BX3, ainsi que de caméras et de systèmes d’imagerie. | |
Structure de zone de plagioclase en diorite de quartz.
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Texture optique de MBBA
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| Lentille de Bertrand pour les observations orthoscopiques et conoscopiquesGrâce à l’accessoire d’observation conoscopique, il est facile de basculer entre les observations orthoscopiques et conoscopiques. Le focus de cet accessoire peut être ajusté pour le visionnement clair des motifs d’interférence du plan focal arrière. Le focus de la lentille de Bertrand est ajustable pour le visionnement clair des motifs d’interférence du plan focal arrière. Le diaphragme de champ permet de toujours obtenir des images conoscopiques nettes. |
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Gamme complète de compensateurs et de lames d’onde
Six compensateurs différents sont offerts pour les mesures de la biréfringence dans les sections minces des roches et des minéraux. Les niveaux de retard varient de 0 à 20λ. Pour simplifier les mesures et obtenir des images à contraste élevé, vous pouvez utiliser des compensateurs de Berek ou de Senarmont qui changent le niveau de retard dans tout le champ d’observation.
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MEASURING RANGE OF COMPENSATORS
For more accurate measurement, we recommend that compensators (except U-CWE2) be used together with the interference fi lter 45-IF546 |
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| Système optique à contrainte minimaleLes objectifs à lumière polarisée réduisent au minimum la contrainte interne. La valeur d’extension de zone est ainsi augmentée, créant un excellent contraste dans l’image. |
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Platine tournante robuste et préciseLe mécanisme de centrage rotatif fixé à la platine circulaire tournante permet la rotation en douceur d’un échantillon. De plus, un mécanisme d’arrêt à déclic placé à tous les 45 degrés assure la précision des mesures. La platine mécanique double en option rend possible des mouvements X-Y discrets. |
Platine mécanique double |
Caractéristiques techniques
| Méthode d’observation > Fond clair | ✓ |
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| Méthode d’observation > Lumière polarisée | ✓ |
| Méthode d’observation > Lumière polarisée simple | ✓ |
| Mise au point > Mécanisme de mise au point > Mise au point par la platine | ✓ |
| Platine > Mécanique > Platine rotative de précision | Rotation : 360 degrés |
| Condenseur > Manuel > Condenseur polarisant | Ouverture numérique : 0,9 / Distance de travail : 1,3 mm (lamelle en verre de 1,5 mm) (x4-x100) |
| Tête d’observation > Grand champ (numéro de champ : 22) > Trinoculaire | ✓ |
| Tête d’observation > Grand champ (numéro de champ : 22) > Trinoculaire inclinable | ✓ |
| Dimensions (L × P × H) | 274 (W) x 436 (D) x 535 (H) mm |
| Poids | 16 kg |
Ressources
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