Fonctionnalité | Olympus IMS

L’invisible devient visible : observation MIX La technologie d’observation MIX du BX53M associe des méthodes d’éclairage en fond clair et en fond noir. Lorsque le module coulissant MIX est utilisé, son anneau de LED crée un éclairage directionnel en fond noir sur l’échantillon. Cette technique produit un effet semblable à la technique de fond noir traditionnelle, mais offre la possibilité sélectionner un quadrant de LED en particulier afin de diriger la lumière depuis des angles différents. Cette association de fond clair et de fond noir directionnel, de fluorescence et de polarisation est nommée « éclairage MIX » et est particulièrement utile pour mettre en évidence les défauts et différencier les surfaces en relief des zones de dépression.

L’invisible devient visible :
observation MIX

La technologie d’observation MIX du BX53M associe des méthodes d’éclairage en fond clair et en fond noir. Lorsque le module coulissant MIX est utilisé, son anneau de LED crée un éclairage directionnel en fond noir sur l’échantillon. Cette technique produit un effet semblable à la technique de fond noir traditionnelle, mais offre la possibilité sélectionner un quadrant de LED en particulier afin de diriger la lumière depuis des angles différents. Cette association de fond clair et de fond noir directionnel, de fluorescence et de polarisation est nommée « éclairage MIX » et est particulièrement utile pour mettre en évidence les défauts et différencier les surfaces en relief des zones de dépression.

	Créez des images avec une mise au point parfaite sur l’ensemble de l’objet : EFI La fonction d’imagerie à profondeur de champ étendue (EFI) du logiciel PRECiV crée plusieurs images d’échantillons dont la hauteur dépasse la profondeur de mise au point de l’objectif et les superpose pour former une image entièrement nette. La fonction EFI peut être utilisée selon un axe Z manuel ou motorisé et permet de cartographier l’échantillon en fonction d’une échelle de hauteurs pour faciliter la visualisation des différentes structures. Il est également possible de construire une image EFI en mode hors ligne au moyen du logiciel PRECiV Desktop.

Créez des images avec une mise au point parfaite sur l’ensemble de l’objet : EFI

La fonction d’imagerie à profondeur de champ étendue (EFI) du logiciel PRECiV crée plusieurs images d’échantillons dont la hauteur dépasse la profondeur de mise au point de l’objectif et les superpose pour former une image entièrement nette. La fonction EFI peut être utilisée selon un axe Z manuel ou motorisé et permet de cartographier l’échantillon en fonction d’une échelle de hauteurs pour faciliter la visualisation des différentes structures. Il est également possible de construire une image EFI en mode hors ligne au moyen du logiciel PRECiV Desktop.

Capture des zones lumineuses et des zones sombres : HDR À l’aide du traitement avancé d’images, la fonction de plage dynamique étendue (HDR) ajuste les différences de luminosité dans une image pour réduire les reflets. La fonction HDR améliore la qualité visuelle des images numériques et donne ainsi une qualité professionnelle aux rapports.	_{Exposition parfaite pour les zones sombres et les zones lumineuses grâce à la fonction HDR (échantillon : tête d’injecteur de carburant)}	_{Amélioration du contraste grâce à la fonction HDR} (échantillon : tête d’injecteur de carburant)

Capture des zones lumineuses et des zones sombres : HDR

À l’aide du traitement avancé d’images, la fonction de plage dynamique étendue (HDR) ajuste les différences de luminosité dans une image pour réduire les reflets. La fonction HDR améliore la qualité visuelle des images numériques et donne ainsi une qualité professionnelle aux rapports.

_{Exposition parfaite pour les zones sombres

et les zones lumineuses

grâce à la fonction HDR

(échantillon : tête d’injecteur de carburant)}

Amélioration du contraste grâce à la fonction HDR (échantillon : coupe de magnésite)

_{Amélioration du contraste

grâce à la fonction HDR}
(échantillon : tête d’injecteur de carburant)

_{Image d’une pièce de monnaie acquise avec la fonction d’alignement d’images multiples (MIA) instantanée}	Déplacez facilement la platine pour une vision panoramique : fonction d’alignement d’images multiples (MIA) instantanée Vous pouvez désormais assembler les images facilement et rapidement en déplaçant les molettes XY de la platine manuelle ; aucune platine motorisée n’est nécessaire. Le logiciel PRECiV utilise la fonction de reconnaissance des motifs pour générer une image panoramique qui offre à l’utilisateur un champ d’observation plus étendu qu’avec un format normal d’image.

_{Image d’une pièce de monnaie acquise avec

la fonction d’alignement d’images multiples (MIA) instantanée}

Déplacez facilement la platine pour une vision panoramique : fonction d’alignement d’images multiples (MIA) instantanée

Vous pouvez désormais assembler les images facilement et rapidement en déplaçant les molettes XY de la platine manuelle ; aucune platine motorisée n’est nécessaire. Le logiciel PRECiV utilise la fonction de reconnaissance des motifs pour générer une image panoramique qui offre à l’utilisateur un champ d’observation plus étendu qu’avec un format normal d’image.

Capacités de mesure variées

Fonctions de mesure de routine ou de base Différentes fonctions de mesure sont disponibles dans PRECiV, pour permettre à l’utilisateur d’obtenir facilement des données utiles à partir des images. Pour le contrôle qualité et l’inspection, des fonctions de mesure sur les images sont souvent requises. Tous les types de licences PRECiV disposent de fonctions de mesure interactives permettant par exemple de mesurer les distances et les angles, et d’effectuer des mesures à partir de zones délimitées par des rectangles, cercles, ellipses et polygones. Tous les résultats mesurés sont sauvegardés avec les fichiers images à des fins de consultation ultérieure.

Fonctions de mesure de routine ou de base

Différentes fonctions de mesure sont disponibles dans PRECiV, pour permettre à l’utilisateur d’obtenir facilement des données utiles à partir des images. Pour le contrôle qualité et l’inspection, des fonctions de mesure sur les images sont souvent requises. Tous les types de licences PRECiV disposent de fonctions de mesure interactives permettant par exemple de mesurer les distances et les angles, et d’effectuer des mesures à partir de zones délimitées par des rectangles, cercles, ellipses et polygones. Tous les résultats mesurés sont sauvegardés avec les fichiers images à des fins de consultation ultérieure.

Fonctions de mesure de routine ou de mesure de base

	Count and Measure (comptage et mesure) La détection des objets et la mesure de la répartition par taille font partie des applications les plus importantes de l’imagerie numérique. PRECiV intègre un moteur de détection qui utilise des méthodes de seuils pour séparer avec fiabilité les objets de l’arrière-plan (p. ex., des particules ou des rayures).

Count and Measure (comptage et mesure)

La détection des objets et la mesure de la répartition par taille font partie des applications les plus importantes de l’imagerie numérique. PRECiV intègre un moteur de détection qui utilise des méthodes de seuils pour séparer avec fiabilité les objets de l’arrière-plan (p. ex., des particules ou des rayures).

Solutions pour les sciences des matériaux Le logiciel PRECiV offre une interface intuitive et axée sur les flux opérationnels pour faciliter l’analyse d’images complexes. En un simple clic, les tâches d’analyse d’image les plus complexes peuvent être exécutées rapidement, avec précision et conformément aux normes industrielles les plus courantes. Grâce à une réduction considérable du temps de traitement pour les tâches répétitives, les opérateurs spécialisés dans les matériaux peuvent se concentrer sur leurs analyses et leurs travaux de recherche. Les extensions propres à chaque module sont faciles à utiliser à tout moment pour réaliser des tableaux de classification d’inclusions et des tableaux d’intersection.

Solutions pour les sciences des matériaux

Le logiciel PRECiV offre une interface intuitive et axée sur les flux opérationnels pour faciliter l’analyse d’images complexes. En un simple clic, les tâches d’analyse d’image les plus complexes peuvent être exécutées rapidement, avec précision et conformément aux normes industrielles les plus courantes. Grâce à une réduction considérable du temps de traitement pour les tâches répétitives, les opérateurs spécialisés dans les matériaux peuvent se concentrer sur leurs analyses et leurs travaux de recherche. Les extensions propres à chaque module sont faciles à utiliser à tout moment pour réaliser des tableaux de classification d’inclusions et des tableaux d’intersection.

_{Vue de surface 3D (échantillon de test de rugosité)}	_{Vue simple et mesure de profil 3D}	Mesure d’échantillons en 3D Lors de l’utilisation d’un système d’entraînement motorisé de la mise au point externe, une image à profondeur de champ étendue (EFI) peut être rapidement acquise et affichée en 3D. Les données de hauteur obtenues peuvent être utilisées pour les mesures 3D effectuées sur les vues de profil ou sur l’image simple.

_{Vue de surface 3D

(échantillon de test de rugosité)}

_{Vue simple et mesure de profil 3D}

Mesure d’échantillons en 3D

Lors de l’utilisation d’un système d’entraînement motorisé de la mise au point externe, une image à profondeur de champ étendue (EFI) peut être rapidement acquise et affichée en 3D. Les données de hauteur obtenues peuvent être utilisées pour les mesures 3D effectuées sur les vues de profil ou sur l’image simple.

En savoir plus sur PRECiV

Capacité d’analyse d’une grande variété de types et de tailles d’échantillon

La nouvelle platine de 150 × 100 mm fournit une course plus longue que les modèles précédents sur l’axe X. Ayant également une surface plane, elle permet aux utilisateurs d’y placer facilement des échantillons de grande taille ou plusieurs échantillons. De plus, comme la plaque de la platine comporte des trous filetés, il est possible d’y fixer un porte-échantillon. La grande platine offre aux utilisateurs une grande polyvalence en leur permettant d’observer plusieurs échantillons sur un seul microscope. Cette polyvalence leur permet également de profiter d’un gain d’espace appréciable dans le laboratoire. Enfin, le couple réglable de la platine facilite les positionnements précis à un fort grossissement avec un champ d’observation étroit.

Prise en charge d’une large gamme de hauteurs et de poids d’échantillons Les échantillons allant jusqu’à 105 mm de hauteur peuvent être montés sur la platine avec l’unité modulaire en option. Grâce au mécanisme de mise au point amélioré, le microscope peut accueillir un poids total (échantillon + platine) maximal de 6 kg. Cela signifie que des échantillons plus grands et plus lourds peuvent être observés sur le BX53M, réduisant ainsi le nombre de microscopes nécessaires dans le laboratoire. En positionnant de façon stratégique et décentrée un support rotatif de 6 pouces pour wafers, l’utilisateur peut observer l’ensemble de la surface d’un wafer en faisant simplement tourner le support lors du déplacement sur la plage de 100 mm disponible. Le réglage du couple de la platine est optimisé pour être facile d’utilisation et la poignée confortable permet de trouver facilement la région d’intérêt de l’échantillon.	_BX53MRF-S

Prise en charge d’une large gamme de hauteurs et de poids d’échantillons

Les échantillons allant jusqu’à 105 mm de hauteur peuvent être montés sur la platine avec l’unité modulaire en option. Grâce au mécanisme de mise au point amélioré, le microscope peut accueillir un poids total (échantillon + platine) maximal de 6 kg. Cela signifie que des échantillons plus grands et plus lourds peuvent être observés sur le BX53M, réduisant ainsi le nombre de microscopes nécessaires dans le laboratoire. En positionnant de façon stratégique et décentrée un support rotatif de 6 pouces pour wafers, l’utilisateur peut observer l’ensemble de la surface d’un wafer en faisant simplement tourner le support lors du déplacement sur la plage de 100 mm disponible. Le réglage du couple de la platine est optimisé pour être facile d’utilisation et la poignée confortable permet de trouver facilement la région d’intérêt de l’échantillon.

_BX53MRF-S

_BXFM	Capacité d’analyse d’échantillons de grande taille Lorsque des échantillons sont trop grands pour être placés sur une platine de microscope classique, les composants optiques principaux pour la microscopie en lumière réfléchie peuvent être organisés selon une configuration modulaire. Ce système modulaire, le BXFM, peut être monté sur un statif plus grand avec l’utilisation d’une colonne ou sur un autre instrument au choix au moyen d’un support de montage. L’utilisateur peut ainsi continuer à utiliser nos composants optiques renommés, même lorsque leurs échantillons sont de taille ou de forme spécifiques.

_BXFM

Capacité d’analyse d’échantillons de grande taille

Lorsque des échantillons sont trop grands pour être placés sur une platine de microscope classique, les composants optiques principaux pour la microscopie en lumière réfléchie peuvent être organisés selon une configuration modulaire. Ce système modulaire, le BXFM, peut être monté sur un statif plus grand avec l’utilisation d’une colonne ou sur un autre instrument au choix au moyen d’un support de montage. L’utilisateur peut ainsi continuer à utiliser nos composants optiques renommés, même lorsque leurs échantillons sont de taille ou de forme spécifiques.

Protection des appareils électroniques grâce à la dissipation des décharges électrostatiques

Le BX53M possède une fonctionnalité de dissipation des décharges électrostatiques qui protège les appareils électroniques de l’électricité statique causée par les facteurs humains ou environnementaux.

Sorry, this page is not available in your country

Microscopes industriels
Fonctionnalité

L’invisible devient visible :
observation MIX

Créez des images avec une mise au point parfaite sur l’ensemble de l’objet : EFI

Capture des zones lumineuses et des zones sombres : HDR

Déplacez facilement la platine pour une vision panoramique : fonction d’alignement d’images multiples (MIA) instantanée

Capacités de mesure variées