Vue d’ensemble

Les microscopes Olympus BX61 ont été développés sur la base de technologies optiques et d’imagerie de pointe pour répondre à diverses applications de la science des matériaux.

Olympus se consacre à la création de solutions de système de microscope pour soutenir votre travail à tous les niveaux

Série BX61TRF/BX-RLAA/U-AFA2M/DP

Le microscope BX61 est spécialement conçu pour fonctionner avec l’unité de mise au point automatique à laser Olympus. Avec une mise au point précise et un suivi actif, les utilisateurs peuvent accélérer les inspections de routine. Des paramètres supplémentaires tels que le niveau d’éclairage, la sélection de la lentille et le réglage de l’ouverture peuvent être définis à l’aide des boutons poussoirs sur la potence du microscope, un clavier ou via le PC. Une variété de modules motorisés, y compris des tourelles porte-objectifs et des systèmes d’éclairage, sont disponibles pour vous offrir une flexibilité totale dans la configuration de votre système.

Excellente clarté de l’image et superbe résolution

Choisissez parmi une gamme de lentilles d’objectif pour personnaliser votre système

Olympus propose une grande variété de lentilles d’objectif adaptées à toutes les techniques d’observation. Vous pouvez sélectionner la bonne lentille pour votre application parmi notre famille de plus de 150 lentilles d’objectif. La fidélité des couleurs est importante pour une inspection précise et efficace. La série de lentilles d’objectif UIS2 produit une reproduction des couleurs naturelle en combinant un verre à haute transmittance soigneusement sélectionné et une technologie de revêtement avancée.

Exemples d’images d’observation

Tête magnétique (fond clair)

DVD (fond clair)

Plaquette (fluorescence)

Filtre de couleur (transmis)

Une gamme variée permettant des choix personnalisés et adaptés
MPLAPON	Série de lentilles d’objectif du plan apochromatique
MPLFLN	Série de lentilles d’objectif semi-apochromatique pour fond clair
MPLFLN-BD	Série de lentilles d’objectif semi-apochromatique pour fond clair et fond noir
MPLFLN-BDP	Série de lentilles d’objectif semi-apochromatique pour fond clair, fond noir et contraste de phase
LMPLFLN	Série de lentilles d’objectif semi-apochromatique à longue distance de travail pour fond clair
LMPLFLN-BD	Série de lentilles d’objectif semi-apochromatique à longue distance de travail pour fond clair et fond noir
MPLN	Série de lentilles d’objectif du plan achromatique pour fond clair
MPLN-BD	Série de lentilles d’objectif du plan achromatique pour fond clair et fond noir
SLMPLN	Série de lentilles d’objectif du plan achromatique à très longue distance de travail
LCPLFLN-LCD	Série de lentilles d’objectif semi-apochromatique à longue distance de travail pour écran LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR	Série de lentilles d’objectif du plan achromatique à longue distance de travail pour lumière proche infrarouge

> Cliquez ici pour en savoir plus sur les lentilles d’objectif UIS2

Solutions logicielles

Conçu pour fonctionner facilement avec les caméras numériques et les logiciels d’analyse d’images

Notre gamme complète de caméras numériques offre une visualisation haute résolution et un transfert d’image rapide, tandis que notre logiciel avancé d’analyse d’images OLYMPUS responsabilise les utilisateurs et fournit tous les outils nécessaires pour les exigences métallurgiques les plus complexes d’aujourd’hui. Choisissez parmi les mesures étendues, la métallographie standard et les modules spécifiques aux applications de métallographie avancée (plus d’une douzaine de routines spécifiques aux applications) et collectez automatiquement les données et générez des rapports conformes aux spécifications ASTM et ISO les plus populaires, le tout en quelques clics.

> Cliquez ici pour découvrir la gamme des caméras numériques Olympus

> Cliquez ici pour découvrir la gamme des options logicielles Olympus

Caractéristiques techniques

Système optique	Système optique UIS2 (corrigé à l’infini)
Potence du microscope > Éclairage	Réfléchie/transmise
Potence du microscope > Éclairage	Source de lumière externe 12 V 100 W Commutateur de préréglage d’intensité Indicateur de tension LED Commutateur de changement lumière incidente/lumière transmise
Potence du microscope > Mise au point	Mise au point motorisée Course de 25 mm Graduation minimale de 0,01 μm
Potence du microscope > Hauteur maximale de l’échantillon	25 mm (sans espacement)
Tête d’observation > Grand champ (F.N. 22)	Inversé : binoculaire, trinoculaire, binoculaire inclinable Droit : trinoculaire, binoculaire inclinable
Tête d’observation > Super grand champ (F.N. 26,5)	Inversé : trinoculaire Droit : trinoculaire, trinoculaire inclinable
Illumination en lumière réfléchie > Fond clair	BX-RLAA Changement fond clair/fond noir motorisé AS motorisé
Illumination en lumière réfléchie > Lumière réfléchie fluorescence	BX-RFAA Tourelle motorisée à 6 positions Obturateur motorisé intégré Avec FS, AS
Lumière transmise	Halogène 100 W Condenseurs d’Abbe/à grande distance de travail Filtres de lumière transmise intégrés (LBD, ND25, ND6)
Tourelle porte-objectifs rotative > Pour fond clair	Sextuple tourelle motorisée
Tourelle porte-objectifs rotative > Pour fond clair et fond noir	Quintuple tourelle motorisée, sextuple tourelle motorisée, quintuple tourelle de centrage
Platines	Platine à poignée gauche (droite) coaxiale/76 (X) x 52 (Y) mm, avec réglage du couple Grande platine à molette à gauche (droite) coaxiale/100 (X) × 105 (Y) mm, avec mécanisme de verrouillage sur l’axe Y
Dimensions	Env. 318 x 602 x 541 mm (L x P x H)
Poids	Env. 25,5 kg (Potence du microscope : 11,4 kg)

Application galerie photo

BX61 vous procure exactement les images dont vous avez besoin

Fond noir

Carte de monture de la surface

Le fond noir vous permet d’observer la lumière diffusée ou diffractée de l’échantillon. La lumière de la lampe passe à travers les composants optiques d’éclairage en forme d’anneau dans le système d’éclairage et est mise au point sur l’échantillon. La lumière de l’échantillon n’est réfléchie que par les imperfections de l’axe Z. L’utilisateur peut identifier l’existence d’une éraflure ou d’un défaut, même minime, jusqu’à un niveau de 8 nm, soit moins que la limite de pouvoir de résolution d’un microscope optique. Le fond noir est idéal pour détecter les éraflures et défauts, même minimes, sur un échantillon ou pour examiner les échantillons à surface miroir, y compris les plaquettes.

Lumière polarisée

Amiante

Cette technique d’observation microscopique se sert d’une lumière polarisée générée par un ensemble de filtres (analyseur et polariseur). Les caractéristiques de l’échantillon influencent directement l’intensité de la lumière réfléchie à travers le système. Elle convient aux structures métallurgiques (p. ex. modèle de croissance du graphite sur fonte nodulaire), aux minéraux, aux écrans LCD et aux matériaux semi-conducteurs.

Contraste interférentiel différentiel (CID)

Tête magnétique

Le CID est une technique d’observation microscopique dans laquelle la différence de hauteur d’un échantillon non détectable avec fond clair devient une image en relief ou en trois dimensions avec un contraste amélioré. Cette technique, basée sur la lumière polarisée, peut être adaptée à vos besoins avec un choix de trois prismes spécialement conçus. Il est idéal pour examiner des échantillons avec des différences de hauteur très minimes, y compris la structure métallurgique, les minéraux, les têtes magnétiques, les supports de disque dur et les surfaces de plaquettes polies.

Fluorescence

Particule sur une plaquette de semi-conducteurs

Cette technique est utilisée pour les échantillons qui deviennent fluorescents (qui émettent une lumière de longueur d’onde différente) lorsqu’ils sont éclairés avec un module de filtre à conception spéciale pouvant être adapté à votre application. Elle convient à l’inspection de la contamination sur les plaquettes de semi-conducteurs, au contrôle des résidus de photorésine, et à la détection de fissures à l’aide d’un fluorophore. Un système d’embout focalisateur de lampe apochromatique en option peut être ajouté pour compenser les aberrations chromatiques de la lumière visible à la lumière proche infrarouge.

Observation en lumière transmise

Filtre de couleur d’un écran LCD

Pour les échantillons transparents tels que les écrans LCD, les plastiques et les types de verre, une véritable observation en lumière transmise est disponible en utilisant une variété de condenseurs de lumière transmise. Vous pouvez examiner vos échantillons en fond clair, fond noir, CID et imagerie polarisée en lumière transmise, le tout dans un seul système pratique.

BX61