Microscopes pour l’inspection des semi-conducteurs et des écrans plats
Les microscopes Evident dédiés à l’inspection de wafers de semi-conducteurs et d’écrans plats offrent des niveaux d’efficacité extrêmement élevés et garantissent aux utilisateurs un démarrage rapide, une facilité d’utilisation, une gamme de processus d’analyses de défauts et des possibilités d’expansion. Notre gamme de microscopes d’inspection de semi-conducteurs est conçue pour un transfert de wafers en toute sécurité et est parfaitement adaptée à l’inspection des semi-conducteurs. Outre l’intégration de systèmes automatisés de prise en charge des wafers, un microscope numérique peut être utilisé pour l’analyse détaillée de petits défauts des semi-conducteurs. Explorez notre gamme complète de microscopes d’inspection de semi-conducteurs et d’écrans plats ci-dessous. |
Microscope d’inspection de wafers de semi-conducteurs
AL120
La série AL120 dédiée à l’analyse de wafers consiste en un microscope d’inspection de semi-conducteurs ergonomique et facile d’utilisation qui permet de transférer facilement des wafers de semi-conducteurs composés et en silicium, y compris en carbure de silicium (SiC) et en arséniure de gallium (GaAs), de la cassette vers le statif du microscope, tout en offrant une grande polyvalence et des fonctionnalités avancées.
AL120-12
Idéal pour des inspections en dernière étape de production à moindre coût, le système d’analyse de wafers AL120-20 consiste en un microscope d’inspection de semi-conducteurs compatible à la fois avec les FOUP (boîtes unifiées à ouverture frontale) et les FOSB (caisses d’expédition à ouverture frontale). Grâce à une conception sûre et économique, le système permet à l’opérateur de travailler en toute sécurité tout en assurant un transfert efficace des wafers, y compris pour des wafers minces et déformés.
MX63 / MX63L
Les systèmes de microscope MX63 et MX63L sont optimisés pour des inspections de haute qualité de wafers pouvant mesurer jusqu’à 300 mm. Compatibles avec les écrans plats, les circuits imprimés et autres échantillons de grande taille, leur conception modulaire vous permet de sélectionner les composants dont vous avez besoin pour adapter le système à votre utilisation.
Équipement pour l’inspection des semi-conducteurs et des écrans plats
Caméras numériques pour microscopes
Les caméras numériques pour microscopes Evident vous permettent d’acquérir des images de grande qualité de vos échantillons. Grâce à leur haute résolution et à leur excellente fidélité chromatique, nos caméras permettent d’afficher des images en cours d’acquisition nettes et en pleine résolution, de bénéficier d’une bonne qualité d’observation et d’une mise au point en temps réel.
Objectifs pour l’inspection de wafers de semi-conducteurs
La gamme d’objectifs MXPLFLN d’Evident a été conçue pour vous permettre de travailler simultanément en haute résolution et avec une grande distance frontale, ce qui est idéal pour l’inspection des wafers de semi-conducteurs.
Ressources supplémentaires pour l’inspection de wafers de semi-conducteurs
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