Mesure précise de la forme et de la rugosité des surfaces de l’ordre du micromètre au nanomètre quatre fois plus rapide que le modèle antérieur, pour une meilleure productivité Lancement du microscope laser de mesure 3D LEXT OLS5000

Olympus Corporation (Président : Hiroyuki Sasa) a le plaisir d’annoncer le lancement mondial, le 18 octobre 2017, du microscope laser de mesure 3D LEXT OLS5000, dernier-né des produits de la division Solutions scientifiques. Ce microscope est utilisé en recherche et développement et en contrôle qualité dans les industries de l’automobile, des composants électroniques et des semi-conducteurs.

Le microscope laser de mesure 3D OLS5000 balaie une lumière laser sur la surface d'un échantillon pour produire des images de caractéristiques microniques et effectuer des mesures de forme de la rugosité de surface, des pas et d'autres caractéristiques.

D’importantes améliorations ont été apportées aux performances de mesure réalisées par le LEXT OLS5000, qui succède au modèle OLS4100. Le système optique avancé et la nouvelle technologie 4K, tous deux spécifiquement conçus pour le LEXT OLS5000, permettent de détecter des caractéristiques presque verticales et des pas de l’ordre du nanomètreLe système optique avancé et la nouvelle technologie 4K, tous deux spécifiquement conçus pour le LEXT OLS5000, permettent de détecter des caractéristiques presque perpendiculaires et des pas de l’ordre du nanomètre.Les échantillons de grande taille ou dont la surface est irrégulière peuvent être mesurés grâce à deux éléments spécifiquement conçus pour le microscope OLS5000 : un statif d’extension pouvant recevoir des échantillons jusqu'à 210 mm et une lentille à longue distance frontale*. Autant de caractéristiques qui séduiront les utilisateurs aux besoins complexes, allant de l’observation à l'acquisition et l'analyse de données jusqu’à la génération de rapports.

* Une lentille qui fonctionne à une plus grande distance de la surface de l'échantillon qu'une lentille conventionnelle.

•Présentation du lancement

•Caractéristiques principales

1. Amélioration de la fiabilité des mesures grâce à la technologie de balayage 4K et au système optique, tous deux conçus spécifiquement pour le microscope OLS5000
2. Acquisition des données quatre fois plus rapide que celle du modèle antérieur, et logiciel intuitif
3. Possibilité d’analyser des échantillons pouvant atteindre 210 mm de hauteur et 25 mm de profondeur avec le statif d’extension et la lentille à longue distance frontale

•​Contexte du lancement

Avec les progrès des nanotechnologies et la complexité et la miniaturisation des appareils électroniques et des pièces automobiles, la mesure précise des caractéristiques de surface des composants fait de plus en plus partie intégrante de la gestion de la qualité. Dans le passé, des instruments de mesure à base d’un stylet, et donc contact direct avec l'échantillon, étaient couramment employés pour mesurer la rugosité et la forme des surfaces.Mais ces mesures étant souvent difficiles à réaliser avec un stylet dans le cas par exemple, d’échantillons fragiles, tels que les films, ou de variations de hauteur inférieures au diamètre du stylet, des techniques de mesure de surface non destructives et sans contact s’imposaient. Pour répondre à cette demande, Olympus a développé le microscope laser de mesure 3D OLS5000 qui effectue des mesures en trois dimensions de la forme de la surface d'un large spectre d'échantillons grâce à une technique sans contact et à l'air libre.

•Détails des principales caractéristiques

1. Amélioration de la fiabilité des mesures grâce à la technologie de balayage 4K et au système optique, tous deux conçus spécifiquement pour le microscope LEXT OLS5000

Une nouvelle lentille 10X pour une source lumineuse d’une longueur d’onde de 405 nm et une lentille à longue distance frontale ont été spécialement développées pour le microscope LEXT OLS5000. Ces systèmes optiques, qui réduisent l'aberration au minimum, permettent de réaliser des mesures précises sur l'ensemble du champ d’observation. L'intégration de la technologie de balayage 4K avec une résolution de 4 096 pixels dans la direction X (quatre fois plus que celle du modèle antérieur) améliore la résolution et la fiabilité des mesures de formes (une double amélioration du rapport signal / bruit). Résultat : la possibilité de détecter des inclinaisons quasi verticales et des pas de petite taille sans correction de l'image.

2. Acquisition des données quatre fois plus rapide que celle du modèle antérieure, et logiciel intuitif

Le microscope OLS5000 utilise l'algorithme PEAK pour exécuter rapidement des mesures précises, à faible et fort grossissement, avec une vitesse d’acquisition des données quatre fois supérieure à celle du modèle antérieur. Pour une simplicité d’utilisation optimale à l’aide du bouton Démarrer, le Smart Scan II et les fonctions d'analyse de modèles automatisent le flux de travaux, depuis l'acquisition des données jusqu’à la génération de rapports. Ces fonctionnalités font de ce microscope un instrument facile à utiliser, même pour les opérateurs novices.

3. Possibilité d’analyser des échantillons pouvant atteindre 210 mm de hauteur et des concavités jusqu’à 25 mm de profondeur avec le statif d’extension et la lentille à longue distance frontale

Le statif d’extension du microscope OLS5000 permet d’analyser des échantillons pouvant atteindre 210 mm de hauteur. Il suffit pour cela d’insérer, ou d’enlever, des blocs de réglage de la hauteur ou d'autres accessoires dans le statif d’expansion. De même, les échantillons concaves seront observés et mesurés à l’aide de la lentille à longue distance frontale, qui assure une distance entre la lentille et l'échantillon allant jusqu'à 25 mm.

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