L’imagerie microscopique offre aux fabricants de composants une flexibilité accrue
WALTHAM (Mass., États-Unis), (13 juillet 2021) – La dernière mise à jour du système d’inspection de la propreté des composants OLYMPUS CIX100 inclut un nouveau mode de microscope, offrant aux fabricants de composants une solution d’imagerie tout-en-un pour l’analyse de particules et les inspections au microscope.
Le système CIX100 est une solution clé en main dédiée à l’inspection de la propreté des composants avec un flux de travaux guidé, des outils d’analyse et des normes de l’industrie intégrées. Une routine de mise au point automatique optimisée et un balayage de vue d’ensemble en option dans la version 1.5 du logiciel CIX™ accélèrent l’analyse automatisée, facilitant encore l’obtention rapide de résultats reproductibles. Le nouveau mode de microscopie permet aux utilisateurs de laisser de côté le flux de travaux dédié à l’inspection de la propreté pour effectuer de l’imagerie microscopique pour d’autres applications.
Mode microscope avec solutions pour les matériaux
Les fonctionnalités du mode microscope peuvent être étendues avec une suite de solutions d’analyse des matériaux – de la microscopie interactive à la mesure de l’épaisseur de couche des revêtements de surface, en passant par l’évaluation automatique de la taille des grains – ce qui permet à l’utilisateur de personnaliser le système en fonction de ses besoins.
Améliorations logicielles pour l’inspection de la propreté
La mise à jour inclut un flux de travaux rationalisé pour les applications de propreté de routine pour lesquelles un balayage de vue d’ensemble n’est pas nécessaire. Les utilisateurs peuvent bénéficier d’un balayage plus rapide avec une option de désactivation, ainsi que d’une mise au point automatique et d’une classification des fibres améliorées.
Nouvelles normes
Le système OLYMPUS CIX100 prend désormais en charge la norme ASTM E1216-11, y compris le calcul de l’indice de propreté de la surface (SCI, Surface Cleanliness Index).
Mise à jour de SQL Server
Les nouveaux systèmes OLYMPUS CIX100 sont fournis avec le logiciel CIX version 1.5 et Microsoft SQL Server 2017.
Mise à jour vers le logiciel CIX version 1.5
Tous les clients CIX100* peuvent utiliser leur licence existante pour une mise à jour gratuite vers le logiciel CIX version 1.5. Les solutions d’analyse des matériaux en mode microscope nécessitent l’achat d’une licence distincte. Pour découvrir toutes les solutions pour les matériaux en mode microscope, visitez notre site à l’adresse Olympus-IMS.com/Microscope/CIX100.
Pour plus d’informations concernant le système d’inspection de la propreté des composants OLYMPUS CIX100 et d’autres solutions industrielles, visitez notre site à l’adresse Olympus-IMS.com.
*Le logiciel sera publié au Japon au cours des prochains mois.
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