Vue d’ensemble
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Appareil de recherche de défauts PA et TFM
OmniScan™ X3 64 doté de capacités avancées
Quand puissance et portabilité ne font qu’un
Protégé par le même boîtier robuste, portable et éprouvé sur le terrain que l’OmniScan X3, le modèle X3 64 offre de puissantes capacités de focalisation soutenues par une capacité d’ouverture d’éléments plus importante, ce qui vous permet d’exploiter pleinement les sondes PA à 64 éléments et la fonction TFM à ouverture à 128 éléments. Profitez de ses performances améliorées pour mener à bien l’inspection complexe de pièces épaisses faites de matériaux atténuants, ainsi que pour élaborer de nouvelles procédures s’appliquant à un plus vaste éventail d’applications. |
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OmniScan™ X3 : appareil de recherche de défauts par ultrasons multiéléments doté de la fonction TFM novatrice
Une fiabilité qui s’observe
L’OmniScan X3 constitue en lui-même un coffre à outils complet pour l’inspection multiélément. Soutenus par une qualité d’image élevée, les puissants outils qu’il offre, notamment l’imagerie par méthode de focalisation en tout point (TFM) et des fonctions de visualisation avancées, vous permettent de mener à bien votre inspection en toute confiance. |
Imagerie TFM novatrice et efficace
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Collaboration virtuelle,
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La possibilité d’en voir plus
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Acquisition TFM jusqu’à 4 fois plus rapideObtenez une vitesse d’acquisition TFM jusqu’à 4 fois plus rapide en utilisant une sonde à 64 éléments. Si on le compare aux modèles à 32 émetteurs, l’appareil de recherche de défauts OmniScan X3 64 améliore considérablement l’efficacité grâce à sa plus grande capacité d’ouverture. |
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Appareils de la série OmniScan X3
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Des solutions complètes pour votre processus de CND
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WeldSight
Applications
 Solutions d’inspection de défauts causés par l’HTHADétectez les attaques par l’hydrogène à haute température (HTHA) plus tôt grâce à nos solutions complètes et faciles à utiliser, qui incluent des sondes à haute sensibilité et les capacités d’imagerie avancées de l’appareil de recherche de défauts OmniScan™ X3 64. Nos sondes linéaires simples et doubles spécialement conçues pour l’HTHA offrent une large couverture des soudures, des zones thermiquement affectées (HAZ) et des matériaux de base. Elles sont compatibles avec une variété de scanners et de codeurs, ce qui permet la réalisation d’inspections de défauts HTHA approfondies et efficaces. |
Logiciel embarqué
MXU 
Logiciels d’inspection et d’analyse PAUT, TOFD et TFM
Le logiciel embarqué MXU de l’OmniScan X3 présente des menus rationalisés et simplifiés ainsi que des outils avancés, mais intuitifs qui guident votre processus d’inspection UT, PA, TOFD et TFM, et ce, de la configuration de l’appareil jusqu’à la génération des rapports. |
Simplifiez vos inspections de CND grâce aux outils intégrés | ||
1. Plan d’inspectionIl vous suffit de trois étapes pour configurer votre inspection directement dans l’appareil. 2. ÉtalonnageEffectuez un étalonnage entièrement conforme grâce aux outils intégrés. | 3. AcquisitionVisualisez les résultats de balayage en direct durant votre inspection. 4. AnalyseInterprétez vos données rapidement et en toute confiance. |
Traitement en temps réel de l’enveloppe TFMFacilite la caractérisation et le dimensionnement des défautsLa fonction unique de traitement de l’enveloppe dont est doté l’appareil procure des images TFM claires à haute résolution. Les indications apparaissent de manière nette et précise et se distinguent plus clairement du bruit de fond. Jusqu’à 4 modes de propagation TFM en simultané : interprétation et dimensionnement des défauts simplifiés. |
Élargissez vos capacités PA et TFMAugmentez votre capacité de travail pour répondre aux défis de vos clients et développez de nouvelles procédures s’appliquant à un plus vaste éventail d’applications. Obtenez toute la puissance requise pour piloter des sondes PA avancées, comme nos sondes Dual Liner Array™ ou Dual Matrix Array™, ou des sondes sur mesure permettant d’obtenir une imagerie de meilleure qualité des matériaux présentant des difficultés acoustiques. |
 Slide to compare these OmniScan models | Quand la précision est primordialeVisualisation nette même avec de basses fréquences et une large bande passante
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Correction des erreurs avant qu’elles ne soient commises pour une amélioration de la qualité et de la fiabilité des données PAUT et TOFDL’OmniScan X3 est doté d’un canal intégré de contrôle du couplage qui, associé aux indicateurs du module ScanDeck™ montrant en temps réel l’adéquation du couplage et de la vitesse de balayage, aident les inspecteurs à s’assurer de l’obtention de données de qualité avant l’enregistrement du fichier.* Les données indiquant la conformité du couplage s’enregistrent et peuvent être revues ultérieurement. * Depuis juillet 2020, le module ScanDeck est offert sur certains scanners, comme l’AxSEAM. |
Éviter la saturation du signal sur les grandes indicationsRéglage facile du gain grâce à une étendue d’amplitude de 800 %L’efficacité de l’inspection est améliorée grâce à l’élimination des reprises inutiles du balayage. L’étendue d’amplitude élevée de 800 % vous permet de régler le gain des indications importantes, par exemple l’absence de fusion, au niveau de référence en post-traitement, ce qui évite de devoir refaire un autre balayage. |
Confirmez à l’avance la couverture du faisceau TFMLe simulateur de cartographie visuelle de l’influence acoustique (Acoustic Influence Map, AIM) fournit un affichage intégré de la sensibilité, lequel est créé en fonction du mode TFM, de la sonde, des paramètres et du réflecteur simulé qui sont utilisés. L’outil AIM vous permet de créer votre plan d’inspection en toute confiance et de l’adapter en conséquence.
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Rétrocompatibilité complète de l’OmniScan pour plus de commoditéRéutilisez vos fichiers de données des versions précédentes du logiciel OmniPC et les fichiers de configuration des appareils de recherche de défauts OmniScan MX2, SX et MX. Pour une transition facile, notez que les fichiers de configuration OmniScan .ops sont compatibles avec l’OmniScan X3, et que les fichiers de données .opd sont compatibles avec les logiciels OmniPC 5 et WeldSight. |
Traitement TOFD des ondes latéralesLa synchronisation des ondes latérales améliore la lisibilité des données de diffraction en temps de vol (TOFD).
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Logiciel OmniPC 5
OmniPC 
Logiciel d’ordinateur pour l’analyse de données d’inspection acquises par ultrasons conventionnels et multiéléments
Le logiciel d’analyse OmniPC est le logiciel compagnon informatisé de l’OmniScan X3. Outil d’inspection créé par des inspecteurs, le logiciel OmniPC offre la puissance et les performances nécessaires pour répondre à tous vos besoins en matière d’analyse de données et de rapports. |
Pourquoi utiliser le logiciel OmniPC ?
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Interface utilisateur conviviale de l’OmniScanL’interface utilisateur de l’OmniPC est très semblable au programme d’analyse de données de l’OmniScan, ce qui le rend facile à apprivoiser par les inspecteurs. |  |
Des outils flexibles facilitant l’analyse de vos données PAUT et TOFDCorrigez les erreurs effectuées pendant l’acquisitionPendant l’analyse après inspection, vous pouvez modifier les paramètres d’angle de bigle, de décalage sur l’axe de balayage et de décalage sur l’axe d’index dans le logiciel OmniPC pour améliorer la précision des données et éviter d’avoir à recommencer l’acquisition. Portes réglables et lectures dynamiquesLes portes A, B et I sont offertes avec diverses listes de lectures (pour les inspections de corrosion). Revoyez l’acquisitionEn tout temps, réglez le gain, appliquez la fonction Auto 80 % et faites glisser les curseurs de données.
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Caractéristiques techniques
Caractéristiques techniques – Appareils de la série OmniScan® X3Ces caractéristiques s’appliquent à tous les modèles OmniScan X3 et OmniScan X3 64.
• Caractéristiques techniques des données • Caractéristiques techniques acoustiques
Caractéristiques techniques des données
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TFM/FMC
Environnement de fonctionnement
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Ressources
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