OmniScan™ X4 : appareil de recherche de défauts
par ultrasons multiéléments doté des méthodes TFM et PCI

Détectez et caractérisez les petites fissures HTHA

La détection précoce et fiable des défauts causés par la HTHA est si complexe que plusieurs méthodes d’inspection sont souvent combinées pour maximiser la probabilité de détection. Les méthodes de diffraction en temps de vol (TOFD), de focalisation d’ultrasons multiéléments (PA) et de focalisation en tout point (TFM), surtout avec les sondes Dual Linear Array™ (DLA), se sont révélées particulièrement efficaces pour cette application.

L’appareil de recherche de défauts OmniScan™ X4 prend pleinement en charge ces méthodes, de même que l’imagerie par cohérence de phase (PCI), qui met en évidence les petits défauts et les pointes des fissures. L’OmniScan X4 offre également une variété d’outils logiciels embarqués qui simplifient la configuration et le processus d’analyse.

• Configurations intégrées de sondes DLA et de scanners
• Imagerie TFM à haute résolution (jusqu’à 1024 × 1024 points)
• Outils logiciels permettant d’optimiser le processus d’inspection TFM, de la configuration à l’analyse (plan d’inspection avec modèle AIM, gain corrigé en fonction du temps [TCG] automatique, mode d’excitation dispersée, gain logiciel et curseur de palette, traitement en temps réel de l’enveloppe TFM et filtres d’image, portes et alarmes)
• Ouverture TFM de 64 éléments et ouverture TFM étendue de 128 éléments (modèle 64:128PR de l’OmniScan X4)
• Imagerie par cohérence de phase permettant d’améliorer les petits défauts et les pointes des fissures (tous les appareils OmniScan X4)
• Possibilité d’acquérir simultanément jusqu’à 8 groupes TOFD et multiéléments, pour un survol préliminaire efficace
• Possibilité d’acquérir et d’afficher simultanément jusqu’à 4 groupes TFM et PCI
• Imagerie par émission d’ondes planes (PWI) disponible avec la TFM et la PCI (en utilisant l’appareil OmniScan X4 et des sondes linéaires)