Vue d’ensemble
Analyseur XRD de paillasse BTX™ IIICompact, l’analyseur par diffraction des rayons X (XRD) de paillasse BTX III fournit rapidement une minéralogie quantitative fiable pour les composants mineurs et majeurs. De plus, comme il est doté d’un petit porte-échantillon de conception unique, il constitue une solution légère et pratiquement sans entretien, contrairement aux analyseurs XRD classiques. Cet appareil autonome fonctionne sans avoir besoin de gaz comprimé, de refroidissement à eau, de refroidisseur secondaire ou de transformateur externe, ce qui assure un faible coût de propriété. Vous pouvez connecter cet analyseur XRD directement à tout appareil à fonctionnalité Ethernet ou sans fil. Nos outils XRD sont optimisés par le logiciel intuitif SwiftMin®, lequel simplifie votre flux de travaux en proposant un seul tableau de bord, des étalonnages préréglés, une exportation facile des données et le transfert automatique des données. |  |
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 | Vitesse et sensibilité accrues pour une prise de décision rapideLe logiciel puissant et intuitif et les détecteurs de rayons X améliorés augmentent la sensibilité, diminuent les délais d’analyse et offrent des résultats plus fiables.
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Préparation simplifiée des échantillonsLes analyseurs par diffraction des rayons X classiques nécessitent qu’un échantillon de grande taille soit broyé finement, puis compressé pour former une pastille qui garantit une orientation aléatoire suffisante des cristaux. En revanche, le petit porte-échantillon vibrant utilisé sur le BTX III fait bouger par convection toutes les particules à l’intérieur de la chambre d’analyse, ce qui fait en sorte que les données ne sont pratiquement pas influencées par des effets d’orientation. Ainsi, l’appareil a seulement besoin d’un échantillon de 15 mg, que l’utilisateur peut facilement préparer au moyen de la trousse de préparation des échantillons fournie. |  |
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