Il DELTA Olympus combina il rilevatore SDD (Silicon Drift Detector) ad altissima risoluzione con un tubo a raggi X da 4 W in grado di assicurare le analisi attualmente più precise e veloci per un analizzatore fluorescenza a raggi X (XRF) portatile. I rilevatori SDD beneficiano di tre principali miglioramenti rispetto ai tradizionali rilevatori a raggi X al diodo Si PiN: 1) La capacità di rilevare e elaborare 10 volte di più i raggi X in un determinato periodo di tempo; 2) Una migliore risoluzione di energia; 3) Un migliore rapporto picco-fondo. Questo si traduce nel raggiungimento di un incremento notevole della precisione e di una diminuzione dei limiti di rivelabilità per le applicazioni delle attività minerarie e esplorative. Performance senza precedenti per i minerali di ferro e gli elementi in tracce associati:L'ottimale qualità del flusso di minerali per i concentrati di minerali di ferro si attesta in genere a una quantità superiore al 60% di ferro in termini di peso, con meno dello 0,20 % di P, tra il 3% e il 7% di Si, meno del 5% di Al e una bassa concentrazione di S e Ti. |  |
L'inclusione di alcuni elementi in tracce, anche si in quantità ridotte, può avere degli effetti importanti, sia positivi che negativi, sul comportamento del ferro in un altoforno. L'analizzatore DELTA, mediante la propria tecnologia SDD, permette adesso la determinazione di tutte le fasi importanti dei minerali di ferro. Il contenuto di Fe può essere determinato in modo accurato e preciso in un ampio intervallo analitico (dal 30% all'80% di Fe). Mn, Ti, Al, Si, P e S possono inoltre essere analizzati con precisione insieme ad altri 25 elementi.
Performance di Fe, Mn, Ti, Al, Si e P in tipici minerali di ferro ricchi in ematite. (tempo di analisi di 90 sec nell'AIR mediante un analizzatore SDD DELTA)
Analisi degli elementi leggeri e Preparazione dei campioni
Nell'analisi effettuati con analizzatori a fluorescenza a raggi X portatili da effettuare direttamente sul campo, gli elementi leggeri (EL) sono in genere considerati come quelli a numero atomico (Z) inferiore a 18 (Argon) e in genere rientrano nel gruppo: Mg, Al, Si, P, S e Cl. Le analisi dei depositi in bauxite dominati da questa serie di EL, in modo particolare come Al, Si, oltre a Ca e K. Inoltre il tipo di mineralizzazione spesso è associato a una matrice cristallina grossolana. Pertanto sono considerevolmente influenzati da un'elevata eterogeneità e per raggiungere una qualità analitica (livello decisionale) ottimale può essere necessario passare attraverso una fase di preparazione dei campioni. Questa può prevedere una frantumazione grossolana o, se necessario, una polverizzazione del campione fino a < 200 um, posizionando in seguito il materiale risultante in una coppetta portacampioni XRF impiegando supporti con pellicole in polipropilene, in contrapposizione alle pellicole Mylar le quali non possono essere usate per l'analisi di EL.
Vantaggi della tecnologia XRF portatile
La "reale portabilità" raggiunta con l'ultima generazione di analizzatori XRF permette essenzialmente di portare direttamente sul campo una versione miniaturizzata della versione di analizzatore da laboratorio con evidenti limitazioni. Olympus mantiene un approccio chiaro e trasparente riguardo a queste limitazioni : (1) LOD superiore rispetto alle tecniche applicate in laboratorio; (2) Precisione inferiore rispetto alle tecniche di laboratorio (valori approssimativamente superiori ma che non compromettono la precisione al di sopra degli LOD); (3) Meno risultati ripetibili.
Gli analizzatori XRF portatili non dovrebbero essere visti come degli strumenti sostitutivi a quelli di laboratorio ma dovrebbero essere impiegati in combinazione con i protocolli industriali e di laboratorio come nel caso dell'ASX (JORC CODE ) e del TSX (43-101). Il principale vantaggio degli analizzatori XRF portatili risiede nella capacità di generare velocemente delle serie di dati dinamici, in tempo reale e geochimicamente registrati spazialmente.
I geologi possono adesso definire immediatamente le caratteristiche elementari del regolite o della litologia osservati dinamicamente, permettendo la presa di decisioni direttamente in campo nell'esatto punto di estrazione del campione. Adesso è possibile adottare degli approcci istantanei e interattivi per la gestione dei progetti esplorativi, la definizione del target e l'associato orientamento ai depositi minerali (vectoring). Questo si traduce in una significativa riduzione dei tempi con minori operazioni reiterate dispendiose in termini temporali come l'estrazione di campioni e il loro invio al laboratorio con i tempi di inattività e i ritardi associati. Gli analizzatori XRF portatili possono essere pensati come degli strumenti di pre-controllo usati per selezionare il campione ottimale da sottoporre a laboratorio per ottenere un'analisi più dettagliata e completa.
Inoltre la capacità di perfezionare il proprio programma di campionamento direttamente sul campo e in tempo reale implica che è possibile facilmente e istantaneamente aumentare la densità e la risoluzione dei campioni.
Questi benefici sul campo in termini di efficienza permettono una progressione dei progetti in termini temporali. Inoltre facilitano la gestione del tempo in campo e massimizzano le risorse finanziare delle aziende dedicate alle attività esplorative.
Limiti di rivelabilità (LOD)
La determinazione dei limiti di rivelabilità analitici (LOD) dipendono da molti aspetti non direttamente correlati alla scelta dello strumento. Alcuni di questi aspetti condizionanti includono (fattori di influenza indicati tra parentesi):
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“In quanto tale, il campione è il fattore più influente in relazione alla determinazione dei limiti di rivelabilità quando si utilizzano analizzatori a fluorescenza a raggi X portatili ”
