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Profilo della superficie del piatto di guida di luce per schermi LCD / Misura di forme in 3D senza contatto mediante un microscopio laser


Applicazione

Per fare in modo che gli schermi a cristalli liquidi (LCD) mantengano una luminosità uniforme si sovrappongono delle pellicole per usi speciali in un sistema ottico. Gli schermi di piccole dimensioni utilizzano un piatto di guida di luce per favorire l'indirizzamento della luce attraverso il pannello. La luce proveniente da una fonte, come i LED installati lungo bordo di un pannello display, viene diffusa dal piatto e riflessa ripetutamente per illuminare il lato anteriore del pannello. La densità delle irregolarità sulla superficie del piatto di guida di luce è progettata in modo che la diffusione aumenti più la luce si allontana dalla fonte. La luce irradiata dal piatto viene resa uniforme da un diffusore. In seguito, la luce viene raccolta dal prisma, intensificata e incanalata attraverso il pannello TFT. Eseguire una valutazione del profilo della superficie, o rugosità, del piatto di guida di luce è importante per garantire una luminosità uniforme negli schermi LCD.

Soluzione Olympus

Con un microscopio a scansione laser LEXT 3D di Olympus è possibile misurare l'angolo di inclinazione e il passo, o l'altezza, da picco a valle del piatto di guida di luce, ad alta risoluzione e definizione. Grazie ad obiettivi specifici con aperture numeriche alte e un sistema ottico avanzato progettato per prestazioni ottimali, con un laser da 405 nm, il microscopio LEXT è in grado di catturare il profilo di inclinazioni irregolari precedentemente impossibili da individuare, consentendo all'operatore di acquisire dati tridimensionali più affidabili e garantire la qualità dei piatti di guida di luce.

Profilo tridimensionale della superficie di un piatto di guida di luce

Profilo 3D della superficie di un piatto di guida di luce

Obiettivo 100X; zoom 1x

Olympus IMS

Prodotti per l'applicazione

The LEXT™ OLS5100 laser scanning microscope combines exceptional accuracy and optical performance with smart tools that make the system easy to use. The tasks of precisely measuring shape and surface roughness at the submicron level are fast and efficient, simplifying your workflow and delivering high-quality data you can trust.

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