Background
Man mano che gli apparecchi elettronici diventano più piccoli e sofisticati, cresce la domanda di circuiti stampati di dimensioni sempre più ridotte. Una parte essenziale della produzione dei circuiti stampati prevede il fissaggio di una lamina in rame a un substrato di resina dielettrica. Per assicurarsi che la lamina in rame aderisca adeguatamente, la superficie in resina viene resa più rugosa per aumentarne l'area. Se la superficie è troppo rugosa, si crea un'impedenza elettrica che influisce negativamente sul dispositivo elettronico. Di conseguenza, è necessario misurare la rugosità delle superfici per assicurarsi che rimanga entro limiti che garantiscano risultati ottimali.
Le soluzioni Olympus
Il microscopio laser Olympus LEXT 3D è progettato per misurare la rugosità delle superfici con una risoluzione planare di 0,12 μm e una risoluzione delle irregolarità di 5 nm, funzionalità ideali per le applicazioni relative alla rugosità dei circuiti integrati. Questo microscopio offre un'alta densità di pixel e un'elevata sensibilità di inclinazione che consentono di misurare le superfici con minuscole irregolarità e angoli perpendicolari. Il LEXT utilizza una tecnologia di misurazione della rugosità senza contatto, perciò la superficie del substrato è protetta da eventuali danni.
Caratteristiche del prodotto
Il LEXT offre immagini a risoluzione ultra elevata con un'alta densità di pixel per osservazioni 3D precise. Il microscopio presenta un'elevata sensibilità di inclinazione e consente di misurare accuratamente campioni con angoli perpendicolari. La misurazione della rugosità non prevede il contatto, perciò il substrato in resina rimane protetto. Il LEXT supporta i requisiti di misurazione della rugosità delle superfici JIS/ISO.
Immagine
Figura 1: Un'immagine 3D mostra la misurazione della rugosità di un substrato di resina
