"Informazioni sulle apparecchiature e le tecnologie di microscopia sono ampiamente disponibili, tuttavia necessita tempo per ottenere nuove informazioni che possano aiutarmi nel lavoro". Questa frase la sentiamo spesso pronunciare dai professionisti che si occupano di metrologia, in ambito universitario e industriale, e rappresenta un ostacolo considerevole per trovare le informazioni più recenti relative a specifiche applicazioni.
Olympus ha una lunga esperienza nella fornitura di apparecchiatura per la microscopia e la metrologia. Infatti sappiamo che una specifica configurazione in un ambito di ricerca potrebbe non essere indicata per un altro. In questo contesto raramente è possibile applicare un principio indifferenziato.
Per permettere ai ricercatori occupati in diversi ambiti di trovare i contenuti più recenti relativi alla propria applicazione, abbiamo incaricato l'editore scientifico Wiley di creare la piattaforma di metrologia ottica avanzata, una piattaforma gratuita di risorse online con i contenuti più recenti di metrologia.
Di seguito vengono riportati quattro modi attraverso i quali è possibile utilizzare la piattaforma:
1. Scopri i nuovi e-book correlati alla tua applicazione.
Nella piattaforma aggiungiamo continuamente nuovi e-book con raccolte relative a specifiche applicazioni e curate da specialisti che contengono brevi articoli scritti da esperti nell'ambito universitario e industriale. Per esempio, qui è disponibile un esempio di e-book disponibile nella piattaforma che si concentra sulla produzione additiva. Altri argomenti trattati negli e-book della piattaforma includono pellicole sottili, sensori e rugosità.
2. Scopri diversi metodi di metrologia attraverso il glossario.
Per avere una panoramica di diversi metodi di metrologia e tecniche industriali è possibile riferirsi alla sezione del glossario della piattaforma. Acquisisci dimestichezza con diversi metodi (es: microscopia confocale a scansione laser, stereolitografia e fusione a fasci di elettroni) e trova man mano le risorse correlate.
3. Contribuisci alla ricerca e alla rete comunitaria di tuoi omologhi.
La piattaforma non concerne solamente la ricerca di informazioni. Esortiamo chiunque abbia a disposizione dati o metodi interessanti a condividerli. Questo rappresenta un modo efficace per rimanere in contatto e contribuire alla comunità di ricercatori.
È sufficiente iscriversi a Olympus LINKS, la nostra rete di centri universitari e industriali, per condividere le ricerche e cooperare con i tuoi omologhi che si occupano di metrologia.
4. Scopri i suggerimenti degli esperti relativi alla creazione e alla pubblicazione di contenuti scientifici.
Oltre a offrire contenuti scientifici, la piattaforma fornisce anche dei suggerimenti pratici per la creazione e la pubblicazione di un proprio contributo. In questo modo vengono rese disponibili risorse utili per produrre contenuti validi, consultabili da professionisti del tuo settore.
Scopri la piattaforma di metrologia ottica avanzata
Pronto per scoprire autonomamente la piattaforma? Visita semplicemente il sito advancedopticalmetrology.com, iscriviti gratuitamente e scarica le risorse importanti.
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