Grazie alla capacità di effettuare misurazioni 3D accurate su un’ampia gamma di tipi di campioni, il sistema fornisce dati affidabili per la garanzia della qualità e il controllo dei processi.
Il laser viola da 405 nm e gli obiettivi dedicati ad elevata NA consentono di acquisire difetti e strutture fini che i microscopi ottici convenzionali, gli interferometri a luce bianca o i microscopi laser rossi non sono in grado di rilevare. | ||
Tipo rosso (658 nm: linea e spazio 0,26 μm) | Tipo viola (405 nm: linea e spazio 0,12 μm) |
Gli obiettivi LEXT dedicati possono misurare accuratamente aree periferiche che altrimenti verrebbero distorte. | |
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Il nuovo scanner MEMS esegue una scansione X-Y accurata con bassa distorsione della traccia di scansione e minime aberrazioni ottiche. |
La tecnologia di scansione 4K scansiona 4.096 pixel (quattro volte in più rispetto al nostro modello precedente) in direzione dell'asse X. |
Poiché i microscopi laser convenzionali utilizzano tecniche di elaborazione delle immagini standard, quali il livellamento, per eliminare il rumore, talvolta, con il rumore, perdono lievi irregolarità in altezza con misurazioni di precisione. |
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Le informazioni contenute in questa pagina, inclusa la garanzia di accuratezza, si basano sulle condizioni stabilite da Olympus.