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Soluzioni per Microscopia
Funzionamento

L'invisibile reso visibile:
Osservazione MIX

La tecnologia di osservazione MIX del BX53M combina i convenzionali metodi di illuminazione con l'illuminazione del campo scuro. Quando viene usata la slitta MIX l'illuminatore anulare a LED integrato illumina il campo scuro direzionale nel campione. Ha un effetto simile al campo scuro convenzionale, tuttavia permette di scegliere un quadrante di LED per orientare la luce a diversi angoli. Questa combinazione di campo scuro direzionale, campo chiaro direzionale, fluorescenza e polarizzazione viene definita illuminazione MIX. Risulta particolarmente utile per illuminare i difetti e differenziare le superfici sporgenti da quelle infossate.

L'invisibile reso visibile: Osservazione MIX
Creazione di immagini completamente a fuoco: EFI

Creazione di immagini completamente a fuoco: EFI

La funzione Extended Focus Imaging (EFI) del software PRECiV permette di acquisire immagini di campioni con altezze che superano la profondità di campo dell'obiettivo e di unirle insieme per creare un'immagine completamente a fuoco. La funzione EFI può essere eseguita mediante un asse Z manuale o motorizzato, inoltre crea una mappatura delle altezze facilitando la visualizzazione strutturale. In aggiunta è possibile costruire un'immagine EFI mentre si è offline con PRECiV Desktop.

Acquisizione delle aree chiare e scure: HDR

Mediante operazioni di elaborazione di immagini avanzata, la funzione HDR (High Dynamic Range - elevato campo dinamico), regola le differenze di luminosità di un'immagine per ridurre i riflessi. La funzione HDR migliora la qualità delle immagini digitali, facilitando la generazione di report dall'aspetto professionale.

Esposizione chiara per componenti scure e chiare mediante l'HDR (campione: iniettore di carburante)

Esposizione chiara per componenti scure e chiare mediante l'HDR (campione: iniettore di carburante)

Miglioramento del contrasto mediante HDR (campione: sezione di magnesite)

Miglioramento del contrasto mediante HDR
(Campione: Sezione di magnesite)

Immagine MIA istantanea di una moneta

Immagine MIA istantanea di una moneta

Semplice spostamento del tavolino per panorama: Instant MIA

Adesso è possibile unire immagini velocemente e facilmente muovendo solamente le manopole XY sul tavolino manuale; non è necessario un tavolino motorizzato. Il software PRECiV utilizza la funzione di riconoscimento dello schema per generare un'immagine panoramica fornendo agli utenti un campo visivo più ampio rispetto a una singola immagine.

Versatilità di misurazione

Funzioni di misurazione di routine o di base

PRECiV offre diverse funzioni di misura in modo che l'utente possa facilmente ottenere dati utili dalle immagini. A fini di controllo qualità e ispezioni sono spesso necessarie le funzioni di misura sulle immagini. Tutti i tipi di licenze PRECiV includono le funzioni di misura interattive come: distanze, angoli, rettangoli, cerchi, ellissi e poligoni. Tutti i risultati di misura vengono salvati con i file di immagine per successive operazioni di documentazione.

Funzioni di misurazione di routine o di base
Conteggio e misura

Conteggio e misura

Nell'ambito dell'imaging digitale le applicazioni più importanti sono il rilevamento degli oggetti e la misura della distribuzione dimensionale. PRECiV integra un sistema di rilevamento che utilizza i metodi delle soglie per separare in modo affidabile gli oggetti (es. particelle e graffi) dallo sfondo.

Soluzioni per le scienze dei materiali

PRECiV integra un'interfaccia intuitiva e orientata sul flusso di lavoro per l'analisi di immagini complessi. Cliccando su un pulsante è possibile eseguire le più complesse operazioni di analisi delle immagini, in modo veloce, preciso e in conformità alla maggior parte delle norme industriali. Con una significativa riduzione dei tempi di esecuzione di operazioni ripetitive, i ricercatori specializzati nei materiali possono concentrarsi sull'analisi e la ricerca. Componenti aggiuntivi modulari da utilizzare in qualsiasi momento per inclusioni e grafici delle intercette.

Soluzioni per le scienze dei materiali
Vista della superficie 3D (campione di analisi della rugosità)

Vista della superficie 3D (campione di analisi della rugosità)

Vista singola e misura del profilo 3D

Vista singola e misura del profilo 3D

Misure di campioni in 3D

Quando si usa un sistema di controllo della messa a fuoco motorizzato esterno, un'immagine EFI può essere velocemente acquisita e visualizzata in 3D. I dati acquisiti delle altezze possono essere usate per misure 3D nel profilo o partendo dalla singola immagine della vista.

Maggior informazioni su PRECiV

Vedi altri tipi e dimensioni di campioni

Il nuovo tavolino 150 × 100 mm assicura una maggiore distanza nella direzione X rispetto ai precedenti modelli. Grazie a questa caratteristica, e al fatto di avere una struttura piana nella parte superiore, possono essere facilmente posizionati su tavolino diversi campioni o campioni di grandi dimensioni. Il piattello del tavolino integra dei fori filettati per fissare un supporto per campioni. Un tavolino di maggiori dimensioni permette agli utenti di ispezionare più campioni con un microscopio con un risparmio in termini di spazio in laboratorio. La regolazione della coppia del tavolino facilita il posizionamento preciso con un elevato ingrandimento e un campo visivo stretto.

Flessibilità per l'altezza e il peso dei campioni

I campioni con una dimensione massima di 105 mm possono essere posizionati sul tavolino con l'unità modulare opzionale. Grazie al migliore meccanismo di messa a fuoco, sul microscopio può gravare un peso totale (campione + tavolino) massimo di 6 kg. Questo significa che con il BX53M possono essere ispezionati campioni più grandi e pesanti, in modo da ridurre il numero di microscopi nel laboratorio. Posizionando in modo ottimale un supporto rotante per un decentramento di 15,24 cm (6 in.) dei wafer, gli utenti possono osservare l'intera superficie del wafer ruotando il supporto quando ci si sposta nell'ambito della corsa di traslazione di 100 mm. La regolazione della coppia del tavolino è semplice e la presa risulta ottimale in modo da facilitare l'inquadratura dell'area di interesse sul campione.

BX53MRF-S

BX53MRF-S

BXFM

BXFM

Flessibilità nella dimensione dei campioni

Quando i campioni sono troppo grandi per posizionarli su un convenzionale tavolino da microscopio, le componenti ottiche dei microscopi a luce riflessa possono essere sistemate in base a una configurazione modulare. Grazie a questo sistema modulare, il BXFM, può essere installato su un supporto di maggiori dimensioni attraverso un'asta o installato su un altro strumento a scelta mediante una staffa di montaggio. Questo permette agli utenti di poter utilizzare le ottiche di qualità riconosciuta, anche quando i campioni hanno dimensioni e forme eccezionali.

Protezione dei dispositivi elettronici da scariche elettrostatiche: compatibilità ESD

Il BX53M ha una capacità di dissipazione ESD in grado di proteggere i dispositivi elettronici da elettricità statica causata da fattori ambientali e umani.

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