X線回折分析は、適切な装置でなければ時間がかかることがあります。 ここでは、次世代のTERRA™ IIおよびBTX™ IIIポータブルX線回折装置をご紹介します。
オリンパスのX線回折装置は、専門家でなくとも、卓越したスピードと生産性の向上を実現します。 これにより鉱物分析と相同定がすばやく行えるようになります。
ここでは、より迅速に結果が得られるX線回折機能に焦点を当て、それがいかに簡単であるかを紹介します。
オリンパスのX線回折装置で定量鉱物分析をすばやく行う5つの方法
次世代のX線回折装置では、次の強力な機能を使用して試料準備から結果表示までのワークフローを合理化します。
- SwiftMin®ソフトウェア：鉱物分析/同定、定量分析を自動化し、リアルタイムで分析装置上に直接表示できるので迅速な判断が可能です。
- 直感的なユーザーインターフェイス：事前設定されたキャリブレーション、容易なデータエクスポート、自動データ転送、そして単一ダッシュボード表示により、定例業務を合理化します。
- 改良されたX線検出器：X線検出器におけるハードウェアの更新により、さらに高速化、強化され、検出限界（LOD）の低下を実現しています。
- 独自の振動式サンプルホルダー：わずか15mgの試料で迅速な採取と準備が可能です。
- 持ち運びやすさ：軽量で簡単に持ち運びできるので、伐採、水平掘削、地質調査、採掘、その他の用途など、さまざまな現場で迅速な結果を得られます。
X線回折装置には、次の2種類のタイプがあります。
どちらのタイプにおいても、測定は簡単です。
高速定量X線回折分析のための5つのステップ
次の5つの手順で簡単に測定できます。
1. 試料を準備するまず試料を粉末状にします。 試料の準備は、材料を粉砕するのと同じくらい簡単です。 付属のアクセサリーを使用すると、試料の採取および準備がさらに簡単になります。 |  |
2. 試料をふるう試料をふるい、またはポータブルミルにかけます。 試料は150ミクロンに粉砕してください。 |  |
3. 試料を攪拌するスパチュラを使用して試料を振動方式のサンプルホルダーに入れます。 オリンパス独自のサンプルホルダーにより、結晶方位をあらゆる方向に循環させます。 |  |
4. 測定を開始する装置の測定開始ボタンを押して測定を開始します。 X線回折装置をノートパソコン、タブレット、スマートフォン、またはその他のワイヤレスデバイスに接続して、X線回折パターンをリアルタイムで表示します。 設定した時間が経過した後、または停止ボタンを押すと、自動的にデータが転送されます。 |  |
5. 結果を確認するこれで、回折パターンを確認できるようになりました。 レポート出力する前に結果を編集することもできます。 |  |
オリンパスのX線回折装置はスピードと精度を両立
上記の5つの手順で、従来のX線回折システムよりも定量X線回折分析をすばやく、簡単に行うことができます。 スピードだけでなく、オリンパスの機器は精度と再現性も備えています。
本装置には可動部品がないため、従来のシステムのように摩耗したギア光学系を定期的に調整する必要がなく、より正確で信頼性の高い結果を提供します。 この結果、迅速かつ信頼性の高い相同定が可能です。
当社のポータブルX線回折装置や、TERRA IIおよびBTX III X線回折装置についてのご質問は、こちらからお問い合わせください。
