OLYMPUS CIX100システムは、製造された部品やパーツの工業用清浄度検査および解析に特化されたターンキーソリューションです。 ハードウェア、ソフトウェアともに、サンプル調製からレポート作成までの清浄度解析プロセスをシームレスに進められるように最適化されています。
これまでのブログで、このシステムが社内規格や業界規格に対して信頼性と再現性の高い結果を生み、迅速な検査ワークフローを提供し、あらゆるスキルレベルのオペレーターに対応する直感的にわかりやすいユーザーインターフェースを備えている様子について見てきました。 当社エンジニアは、清浄度解析プロセスをさらに効率化するべく、新たなソフトウェア更新をリリースし続けています。
以下にご紹介するのは、CIX™ソフトウェアバージョン1.5.2に追加された3つの新機能で、清浄度解析がますます効率化します。
1. バッチスキャン後に複数のサンプルを直接確認します。
日常的な用途で検査時間を短縮するため、スキャン済みサンプルのすべての検査結果を直接確認できるモードが、マルチサンプルスキャンに組み込まれました。 まず、同じ検査構成と、通常はすべてのサンプルに対して同一設定でスキャンを実行することで、時間の節約になります。 必要に応じて、サンプルごとに個別の設定を指定できます。 マルチサンプルスキャンが終わったら、各サンプル上で検出された個々の粒子を確認し、修正することができます。
マルチサンプルスキャン
2. メンブレンサイズに合わせて検査領域を自動調整します。
OLYMPUS CIX100システムのデフォルトサンプルは、47 mm径のフィルターメンブレンです。 25 mm径と55 mm径用のサンプルホルダーもあります。 各メンブレンサイズの観察セクションに合った検査領域プリセットが、ソフトウェアに組み込まれるようになりました。 サンプルの中心位置を見つけて検査領域を手動で合わせる必要がないので、時間が短縮されます。
OLYMPUS CIX100システムのさまざまなメンブレンサイズで清浄度解析が簡単になります
ボタンをクリックすれば各種メンブレンサイズに合わせて検査領域が調整されます
3. 長方形の領域を検査します。
OLYMPUS CIX100システムは、円形フィルターメンブレンの検査に最適化されています。 さらに、ソフトウェアバージョン1.5.2では、長方形の検査領域に適用できるようになりました。 長方形の領域を検査できることで、さらに多様な清浄度規格に対応できるようになりました。
長方形の検査領域が取得されています
長方形の検査領域の取得後に行われたサンプルの粒子解析
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ビデオ：OLYMPUS CIX100清浄度検査システムの概要
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