レーザー干渉計KIF-20-DWは、光学部品の面精度測定をするための干渉計システムです。
生産現場における平面及び球面の面精度の迅速な品質検査と数値管理に最適なシステムです。
干渉縞数値化ソフトKIF-FIAを搭載したPCを標準装備
従来の干渉縞観察に加え、干渉縞から収差を数値化表示することが可能です。
数値データや画面データの保存、印刷が可能なため、製造工程内の品質管理に最適です。
新型参照レンズマウント採用
アリ溝式の新タイプの参照レンズマウントを採用することで、参照レンズ着脱時の落下破損防止や、参照レンズの交換が簡単に短時間で可能となり、生産効率の向上に貢献します。
安定した検査測定
高剛性、防振機能付きの干渉計本体は、生産現場での使用環境を考慮しているため、耐環境性、操作性に優れています。
KIF-FIAメイン画面
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参照レンズの着脱
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