| わずか数nm の段差を捉え、サブミクロンレベルの凹凸を正確に測定。 |
| 線から面へ、粗さ測定の新たなスタンダード。 |
| 前準備不要、ステージに置くだけで測定可能。 |
従来の測定機は… | レーザー顕微鏡 | |
光学顕微鏡・デジタルマイクロスコープ | ||
•ラフな3D形状しか把握できない •微細な欠陥が見えない •測定結果の妥当性が分からない | •正確な微細3D観察・測定 •優れた解像度(平面分解能0.12μm) •国家標準に紐付いたトレーサブル測定 | |
触針式表面粗さ測定機 | ||
•サンプルに傷がつく •1ラインの測定で情報が不十分 •目視による位置決めで、微小エリアの測定が困難 | •非接触なのでサンプルに傷がつかない •情報量が多く、信頼性の高い面粗さ測定が可能 •高精細拡大観察による位置決めで、簡単に微小エリアを測定 | |
白色干渉計 | ||
•荒れた面の形状を捉えるのが難しい •原理上観察画像の見えが悪く、微細な欠陥を見つけるのが困難 •サンプルの傾き調整に手間がかかる | •微細な形状も捉えられるので荒れた面も確実に取得可能 •微細な形状も捉えられるので荒れた面も確実に取得可能 •クリアな高解像観察像で微細な欠陥の位置決めも可能 | |
電子顕微鏡(SEM) | ||
•色情報が得られない •サンプルの破壊や前準備が必要 •3D形状を測れない | •高精細カラー観察 •非破壊・前準備不要 •正確な微細3D測定 |